Δf = -2f₀²Δm/(A√(ρμ))),5MHz基频晶体可检测~1ng/cm²质量变化 总结:SRS QCM200凭借微纳尺度质量/厚度监测能力,覆盖科研、工业、检测多领域,是实验室与工业现场的核心分析工具,高分辨率与多场景适配性满足行业精准测量需求。
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