近日,赛默飞研发团队和哈佛大学、麻省理工学院、约翰霍普金斯大学等研究团队合作在 《Nature Methods》 发表《SmartEM: machine learning-guided electron microscopy》。
SmartEM 的核心思想是将机器学习(ML)直接嵌入单束扫描电镜(single-beam SEM)的实时采集流程,实现“数据感知式”成像:先快速全场扫描获得初始图像,再仅对易出错或高重要性的区域进行长驻留时间重扫,生成由短、长驻留时间融合的“复合图像”。在秀丽线虫、鼠脑与人脑样本上的验证显示,SmartEM 在商用单束 SEM 上可将图像获取速度最高提升约 7 倍,同时保持连接组重建所需的关键结构信息;在小鼠大脑皮层的重建中,其准确性与传统长驻留时间采集相当。
背景与动机
连接组学需要纳米分辨率、突触级的回路图。过去瓶颈主要在人工校对与数据分析;近期 ML 显著提速分割与突触识别,导致“采集”成为新的速率限制。
单束 SEM 的速度由像素驻留时间(dwell time)决定,连接组成像常用 ≥1,000 ns/像素以确保分割所需的信噪比。加速的关键是降低总体驻留时间,同时不丢失用于回路判读的必要信息。
SmartEM 方法概览
初始短驻留时间快速扫描后,使用高效神经网络 ERRNET 从原始短驻留图像中预测“易出错”或“高重要性”区域(如突触),立即对这些区域以长驻留时间重扫,拼接为复合图像。
SmartEM 适用于图像在空间上呈现“分割难度高度异质”的场景(脑组织的轴突、树突与突触在不同区域的大小和密度差异明显)。通过对易错区域“按需加采”,在保持分割准确性的同时,显著缩短总体采集时间。
实验显示,在三种连接组数据集上(线虫、鼠脑、人脑),使用两台广泛可用的 SEM,SmartEM 实现了约 5–7× 的加速。
关键实验与结果
驻留时间与分割准确性关系:基于 Verios 5 HP SEM,对小鼠视觉皮层 94 个切片在 4 nm/像素分辨率下以 25–1,200 ns/像素范围重复成像,量化不同驻留时间的分割准确性。准确性随驻留时间增加而提升,并在约 800–1,000 ns/像素区间饱和。
图 1. 不同驻留时间(25 ns、75 ns、800 ns)条件下的突触检测示例,展示短驻留时间快速成像与长驻留时间高准确性的对比。
跨设备、跨样本的 SmartEM 评估:在 Verios 5 HP 与 Magellan 400L 两台设备上,于小鼠皮层、人颞叶(H01)和秀丽线虫样本开展系统评估。在时间匹配的条件下,SmartEM 相比标准管线在多个数据集上降低 VI 误差,证明其在不同组织与仪器上的有效性。
图 2. 标准管线与 SmartEM 管线在不同数据集上的 VI 误差差值分布(标准减 SmartEM),正值表示 SmartEM 误差更低。
分割管线对比与复合图像优势:以 100 ns/像素的短驻留图像,比较专为短驻留训练的 FASTEM2B 与可处理复合图像的 FUSEDEM2B;并与统一长驻留的 SLOWEM2B(2,500 ns/像素)对照。
采集与控制流程
SmartEM 管线利用 Thermo Fisher Scientific Autoscript 包进行自动化控制:从样本导航(S-ROI)到多瓦片采集与拼接,再到“短驻留全幅扫描—ERRNET 预测—生成重扫掩码—长驻留目标重扫”的闭环执行。
初始短驻留扫描使用 Autoscript 全幅采集接口;后续重扫使用 Autoscript patterning 接口,并辅以自动对比度/亮度、自动对焦、自动像散校正、自动镜筒校准等功能;由于接口差异,重扫前还进行像素级精确对齐。
图 3. SmartEM 以短驻留时间获取初始图像、预测突触位置,并对这些区域以长驻留时间重扫的示例。
复合图像的同质化与分割适配:针对由不同驻留时间融合的图像,FUSEDEM2B 在多数场景下优于固定驻留时间训练的网络;配套的图像同质化处理可提升视觉一致性并利于后续分割。
图 4. 复合电镜图像(短+长驻留)经同质化处理后,与慢速长驻留图像的对比。
结语
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