布鲁克 QUANTAX EDS 能谱仪(TEM)Quantax透射能谱系列参数

布鲁克 QUANTAX EDS 能谱仪(TEM)Quantax透射能谱系列概述

布鲁克（Bruker）QUANTAX EDS（Energy Dispersive Spectroscopy，能量色散X射线谱仪）透射电子显微镜（TEM）系列为高精度材料分析提供了可靠的解决方案。该系列产品凭借出色的探测效率、快速光谱采集能力及灵敏的元素分辨性能，广泛应用于纳米材料研究、金属合金分析、半导体器件表征及环境样品检测等科研与工业领域。QUANTAX TEM系列不仅能够实现常规的元素定性分析，还可支持高分辨的元素分布成像和定量分析，为用户提供多维度的数据支持。

主要型号及参数

QUANTAX TEM 系列根据探测器类型、分辨率和信号处理能力可分为多个型号，以满足不同实验需求。以下为核心型号及主要参数列表：

这些型号的设计均考虑了TEM样品的高空间分辨需求和低信号强度的挑战，配合布鲁克专用数据处理软件，可实现快速光谱采集和多元素同时定量分析。

关键技术特点

1. 高能量分辨率：QUANTAX TEM 系列在Mn Kα线处能量分辨率可达到123–129 eV，可有效区分相邻元素谱线，确保元素分析的准确性。
2. 高计数速率：部分型号最高可达150万计数每秒(cps)，适合快速扫描及实时成像分析，减少样品电子剂量，保护敏感样品结构。
3. 大探测面积设计：大面积SDD探测器可提升微量元素检测能力，提高低浓度元素信号的统计精度。
4. 低噪声冷却系统：通过集成冷却技术降低电子噪声，提高低信号样品的光谱质量，适用于纳米颗粒、薄膜及生物样品分析。
5. 软件智能分析：配套Quantax软件支持多元素谱线分解、谱图叠加、定量分析及元素分布图生成，简化数据处理流程。

应用场景

1. 纳米材料研究 TEM-EDS组合能够精确分析纳米颗粒的组成和分布，如金属纳米粒子掺杂、氧化物纳米结构等，结合高分辨TEM成像，实现元素与结构的空间相关分析。

   
   

2. 金属合金分析 对多元合金微区成分进行快速定量，识别夹杂物、析出相及晶界元素分布，为材料性能评估提供数据支持。

   
   

3. 半导体器件表征 在微米及纳米尺度上实现掺杂元素定量分析及元素分布映射，有助于器件失效分析及工艺优化。

   
   

4. 环境与生命科学样品 对土壤、沉积物及生物样品中的微量金属元素进行分析，结合TEM高分辨成像揭示元素在细胞或颗粒中的定位。

   
   

场景化FAQ

问：我的样品对电子束敏感，使用QUANTAX TEM会损伤吗？ 答：QUANTAX TEM系列提供低剂量分析模式，并可快速采集光谱，配合冷却探测器减少噪声，大限度降低电子束对样品的损伤。

问：能否同时检测轻元素和重元素？ 答：是的，高灵敏度SDD探测器可覆盖从碳(C)到铀(U)的元素范围，Quantax软件支持谱线分离和多元素同时定量分析。

问：光谱采集速度如何，适合动态实验吗？ 答：高端型号光子计数速率高可达1,500,000 cps，可实现亚秒级光谱采集，非常适合快速扫描和动态观察实验。

问：如何保证分析结果的定量准确性？ 答：通过内置校准库和标准样品校正，结合谱线分解算法，可实现精确定量分析，定量误差可控制在1–3%以内（取决于样品和条件）。

问：TEM样品尺寸对探测效果有要求吗？ 答：探测器可适配常规TEM网格样品，对薄膜或颗粒样品具有良好信号收集效率，但样品厚度过大可能降低分辨率和检测灵敏度。

总结

布鲁克QUANTAX TEM EDS能谱仪以高分辨率、快速采集和强大数据处理能力为特点，适合纳米材料、金属合金、半导体器件及环境样品的定性与定量分析。通过合理选择型号和配置，用户可根据研究需求实现从低剂量敏感样品分析到高通量动态实验的多场景应用。该系列产品不仅提升了元素分析的精度与效率，也为科研与工业实验提供了可靠的技术支持。