悉识科技 NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手动膜厚仪特点

1. 双原理兼容，宽范围高精度测量

NS-20/NS-20 Pro采用涡流法（铁磁基体）+磁感应法（非铁磁基体）双模式，无需更换探头即可覆盖主流基体，核心参数如下：

• NS-20：测量范围0.1μm~500μm（绝缘/导电膜），精度±0.05μm（<10μm）、±1%读数（≥10μm）；
• NS-20 Pro：范围扩展至0.05μm~1000μm，精度提升至±0.03μm（<5μm）、±0.5%读数（≥5μm），适配更薄/更厚膜层的精密测量。

2. 手动微调平台，精准定位样品

配备1μm分辨率手动微调平台，满足实验室样品的精准对准需求：

• 样品台尺寸100×100mm，可承载最大50mm厚度的样品；
• X/Y轴行程±10mm，Z轴升降范围0~50mm，支持水平/垂直微调，确保探头与膜层垂直对准（误差≤0.5°），避免角度偏差导致的测量误差。

3. 智能数据管理，便捷溯源分析

针对科研与质检的可追溯性需求，产品内置数据管理功能：

• 存储容量：NS-20支持500组数据，NS-20 Pro升级至1000组，每组含测量值、样品编号、时间戳；
• 导出传输：USB 2.0接口可导出CSV格式数据，Pro版新增蓝牙4.0，支持实时同步至电脑/移动终端；
• 校准便捷：内置3种标准膜片（0.5μm/10μm/50μm），一键自动校准，校准数据自动保存（有效期30天），无需重复标定。

4. 多场景适配，覆盖核心应用

产品针对不同行业需求优化，典型应用场景包括：

• 实验室：半导体晶圆氧化膜、纳米薄膜（如石墨烯）厚度表征；
• 科研：新材料涂层（陶瓷、聚合物）的厚度验证；
• 工业：电子元器件（PCB、芯片）镀层检测、汽车零部件防锈涂层厚度合规性检测；
• 质检：第三方机构膜厚检测的标准化数据输出（符合GB/T 15822.3-2005等标准）。

核心参数对比表

综上，悉识科技NS-20/NS-20 Pro通过双原理兼容、高精度测量与智能数据管理，成为实验室、科研及工业检测领域膜厚测量的可靠工具。Pro版在范围与精度上的升级，进一步适配高端精密测量需求。