仪器仪表

不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能，还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN...

具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先...

普赛斯插卡式主机采用自定义框架，背板总线带宽高达3Gbps，支持16路触发总线，满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡，方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通...

采用PXIe通信架构方案，支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析；支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出，且蕞大可扩展至3500V、2000A；可与探针台(Prober)、分选机(Handle...

具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先...

采用PXIe通信架构方案，支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析；支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出，且最大可扩展至3500V、2000A；可与探针台(Prober)、分选机(Handle...

不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能，还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN...

武汉普赛斯P系列数字源表汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出电流达30A，Z大输出电压达300V，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中

PMST系列igbt静态测试机igbt检测仪采用普赛斯自主开发的测试主机，内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件，可根据测试项目需要，设置不同的电压、电流等参数，以满足不同测...

用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试，以及光谱特性测试（需要外接光谱仪）。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电...

能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V，500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信，支持源表标准SCPI指令集，支持多台源表同步触发，提高了系统测试效率并...

够同时输出和测量电压电流，蕞大支持±30V，±500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信，支持源表标准SCPI指令集，支持多台源表同步触发，提高了系统测试效率...

支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点

汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出电流达30A，Z大输出电压达300V，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中

能够同时输出和测量电压电流，最大支持±10V，±500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降...

武汉普赛斯PMST系列igbt性能测试仪器失效分析等覆盖IV,CV,跨导等丰富测试功能,全量程0.1%精度,15us超快上升沿,支持恒压限流,恒流限压模式,可定制化夹具,用于晶圆,芯片,器件,模块及I...