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薄膜测厚仪

薄膜测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: 1801
  • 产地:
  • 济南思克测试技术有限公司:品牌【SYSTESTER】型号:THI-1801测厚仪(又称薄膜测厚仪,济南思克全自动专利产品,纸张测厚仪,芯片测厚仪等)检测范围:0~2mm(常规)0~6mm;12mm(可选)执行标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353薄膜测厚仪,济南思克全自动专利产品适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。为您提供薄膜测厚仪,济南思克全自动专利产品分 辨 率:0.1μm产品信息,如您想了解更多关于薄膜测厚仪,济南思克全自动$L̪ԌE$L̪Ԍ߷、参数及厂家信息THI-1801测厚仪薄膜测厚仪,济南思克全自动专利产品技术指标:测量范围:0~2mm(常规)0~6mm;12mm(可选)分 辨 率:0.1μm 测量速度:15次/min(可调)测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张) 接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制薄膜测厚仪,济南思克全自动专利产品产品特点:32位嵌入式系统控制技术专利技术,扁平化设计,直观,操作方便触摸屏操作所有操作均可在一个平面内完成,无须进入退出操作TFT真彩色液晶显示接触式厚度测量测试过程自动化完成手动、自动双重测量模式可采用标准厚度计量工具标定、检验符合GB,ASTM等多种标准规定,标准接触面积、测量压力(可定制)内嵌最大值、最小值、平均值、标准差等数据统计分析功能量程可调(可根据要求定制)配置微型打印机,可自动打印试验数据配置标准RS232通信口,利用专业计算机软件可最大限度地挖掘试验数据价值 可支持以太网通信,方便数据联网(选购) 可支持DSM实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)相关检测:透湿透氧分析仪:薄膜透氧仪、透湿分析仪、薄膜透气分析仪、等压法氧气透过率检测定、杯式法水蒸气透过率测试仪、电解法水蒸气透过率分析仪、红外法水蒸气透过率测试仪、混和气体透过率测试仪、多种气体透过率测试仪、阻隔性测试仪、膜分离测试分析仪包装检测仪:电子拉力试验机、软包装拉力试验机、摩擦系数仪、动静摩擦系数仪、表面滑爽性测试仪、热封试验仪、热封强度测试仪、落镖冲击试验仪、密封试验仪、高精度薄膜测厚仪,济南思克全自动专利产品、扭矩仪、医yao包装性能测试仪、卡式瓶滑动性测试仪、安瓿折断力测试仪、胶塞穿刺力测试仪、电化铝专用剥离试验仪、离型纸剥离仪、泄漏强度测试仪、薄膜穿刺测试仪、弹性模量测试仪、气相色谱仪、溶剂残留测试仪等优质包装性能测试仪!

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Filmetrics F40 光学膜厚测量仪

Filmetrics F40 光学膜厚测量仪

  • 品牌:
  • 型号: F40-UV/F40-UVX/F40/F40-EXR/F40-NIRF40-XT
  • 产地:美国
  • Filmetrics F40 光学膜厚测量仪

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Filmetrics  薄膜测厚仪 F54

Filmetrics 薄膜测厚仪 F54

  • 品牌:
  • 型号: F54薄膜测厚仪
  • 产地:美国
  • Filmetrics F54 光学膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪优势桌面型膜厚测量仪的全球领导者24 小时电话、 Email、在线技术支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易自动化薄膜厚度分布图案系统依靠 F54 先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。 系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:相关应用半导体制造光刻胶 氧化物/氮化物/SOI 晶圆研磨减薄/封装液晶显示器盒厚 聚酰亚胺ITO 光学镀膜 硬涂层 抗反射涂层滤光片微电子光刻胶 硅膜 氧化铝/氧化锌薄膜滤镜Filmetrics 膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪

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Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪

Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪

  • 品牌:
  • 型号: F50-UV/F50-UVX/F50/F50-EXR/F50-NIRF50-XT
  • 产地:美国
  • Filmetrics F50 光学膜厚测量仪膜厚测量仪 膜厚测试仪选择 Filmetrics 的优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为你演示薄膜测量是多么容易!自动化薄膜厚度绘图系统依靠 F50 先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。 F50 系统配置高精度使用寿命长的移动平台,确保能够做成千上万次测量。系统中预设了极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC光刻胶 聚合物 聚亚酰胺多晶硅 非晶硅 硅Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪

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赛默飞  IPlus! 测控系统

赛默飞 IPlus! 测控系统

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: IPlus!
  • 产地:德国
  • Thermo Scientific IPlus! 是一款测量和控制总定量或总厚度的系统,性能稳定、可靠耐用。先进的传感器技术和功能强大的软件整合在直观、易于操作的系统中,不仅为用户提供高性能产品,而且用户拥有成本低。特点:可测量定量、直接厚度或水份精确的非线性流道Mapping和自动模头横向控制(APC)可进行双区或三区控制横向测量点多达2000个高级应用控制软件直观的人机操作系统先进的系统自诊断和远程支持功能优点: 高精度和高分辨率传感器,对被测量材料提供精确、实时的测量准确、高效的过程控制,减少了报废或不合格产品在windows操作系统下运行的先进的Wonderware用户界面,让数据管理和归档更加轻松对于意外损坏,通过系统软件备份,能快速、轻松地恢复系统可靠性高,停机时间缩短Thermo Scientific IPus!可测量定量、直接厚度或水份,适用于流延膜、挤出片材、无纺布、PVC压延、挤出涂布等多种应用。此款系统的平台采用直观的操作界面,操作简单,维护方便。应用:片材和流延膜解决方案 本应用产品包根据流延膜、挤出涂布和挤出片材的测量和过程控制要求度身控制。其中单扫描架和单传感器用于测量总定量、水份或直接厚度。 可选的闭环平均量(MD Control)控制根据生产目标自动调节生产线速度或螺杆转速,从而极大地提高了产品质量。 强烈推荐用于自动模头的横向厚度控制系统(APC),它具备先进的、非线性Mapping功能,通过减小横向波动而获得最理想的生产质量。单独使用或配备MD控制后,整个产品包有助于提高产品平整性,降低废品率。节约原材料,因此获得更高的投资回报。控制产品包中包括软件和硬件,可用于直接连接挤出模头,最多可控制160个模头螺栓。 对于辊涂工艺,可以使用双区控制包对左区和右区的不平整性进行调整。压延解决方案 PVC压延应用产品包括专用于压延工艺。要进行总定量或总厚度控制,可以在此产品包中使用高级算法,如通过调整辊间隙的双区控制,同时能调整辊间隙和辊交叉或辊弯曲的三区控制。另外,产品包还可以提供前馈控制无纺布解决方案 无纺布应用产品包括对纺粘、水刺、梳理、气流成网以及针刺无纺布工艺进行优化。在这些无纺布的生产中,由于原料横向分布的变化非常大,我们强烈推荐采用在线测量系统。增加闭环平均量(MD)控制还可以来提高质量。

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Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪

Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪

  • 品牌:
  • 型号: Filmetrics F10-AR
  • 产地:美国
  • Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测Filmetrics F10-AR 使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在,不论生产线操作人员还是研发技术人员都能在几秒钟内检测和记录涂层情况。多重光谱比较目标光谱与多重反射光谱比较自动评估反射率,最小/最大位置,并得出明确的读数结论。量化残余颜色残余颜色可以用视觉方法显示出来,也可以用常见的颜色空间系统, CIELAB 和 CIEXYZ。用升级的硬涂层软件测量厚度可升级的 Filmetrics FFT 演算法已经在全世界几百个硬涂层应用中使用。单击鼠标可同时测量硬涂层和底漆层厚度。操作简单Filmetrics 专利的先进技术,几乎排除常用的调整光谱仪,项目如积分时间调整与基准校正等,这代表着您只需要专注在光学镜片上的工艺程序,而不是在量测设备的调整。Filmetrics 优势? 嵌入式在线诊断? 免费离线分析软件? 精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易!

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Filmetrics F3-XXT  薄膜厚度测量仪

Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪

  • 品牌:
  • 型号: Filmetrics F3-XXT
  • 产地:美国
  • Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪测量厚度最大到 3 毫米的先进薄膜厚度测量系统对于大多数的膜厚测试系统来说,当厚度大于 100 微米后都变得非常困难。那是因为他们是通过反射率振幅干涉的光谱频率来算薄膜的厚度, 会导致干涉频率超过光谱的分辨率。为了克服这个问题, F3-XXT 配备 Filmetrics 自主研发的光谱仪, 材料达到 3 毫米厚度,它可以很好测量。引用特殊的光学配件,使光斑尺寸不到 25 微米,使得即使是较高粗糙度和不均匀性的 材 料 都 可 以 测 量 。几乎所有的半导体和介质材料都可以很好非常迅速的测试,并且在不到一秒钟的时间就可以将数据输出Filmetrics 优势桌面型薄膜厚度测量的全球领导者24 小时电脑、 Email、在线支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果相关应用硅片厚度光刻胶厚度(如 SU-8 胶)集成电路故障分析玻璃和塑料板材

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薄膜分析仪 Filmetrics F10-RT

薄膜分析仪 Filmetrics F10-RT

  • 品牌:
  • 型号: Filmetrics F10-RT
  • 产地:美国
  • Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪同步测量薄膜的反射率/穿透率不需要费时改变硬件配置, F10-RT-UV 仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱,不到一秒钟的时间,阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外, Filmetrics 专利的Autobaseline 设计可以减少十倍以上的基准校准的参数读取时间。分析优点F10-RT 使 Filmetrics 的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的点击鼠标就能够产生在客户是定波长范围内,得出最大与最小的反射率与穿透率。系统内置边缘检测分析与 FWHM 分析,以及能针线于常见的空间色彩系统的色彩分析(例如: CIELAB 与 CIEXYZ)。而测量光谱与其他的数据能够很容易的透过打印与导出或以 JPEG 图片形式来传送。同时,选配膜厚和参数解算模块使 F10-RT 具有与 Filmetrics F20相同多层薄膜分析能力。健全、可靠的集成F10-RT 运送抵达时具有完整的标准配置,小巧的机身与 USB接口保证使您容易安装。整机无任何运动件,初钨卤素灯外无需其他维护,确保设备高度可靠Filmetrics 优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪

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CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪

CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪

  • 品牌:
  • 型号: CMI563
  • 产地:英国
  • 深圳市方源仪器有限公司供应的CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪,是一款灵便易用的手持式测厚仪,它集快速精确、价格合理、 质量可靠等优势于一体,专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。

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Filmetrics 膜厚测量仪  F37

Filmetrics 膜厚测量仪 F37

  • 品牌:
  • 型号: F37 膜厚测量仪
  • 产地:美国
  • Filmetrics F37 薄膜厚度测量仪Filmetrics膜厚测量仪优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易!附带的软件和 USB 连接界面使 F37 易于安装到任何 Windows 平台的 PC,功能强大的软件预配了超过百种材料的光学参数,这有助于多种不同膜层结构的测量,不论是单层、多层堆叠,甚至是单一纯物质,用户能轻易地从资料库中找到适用的模型以进行测量分析。 如果是没有预配的材料,用户只要将所知的材料光学参数直接导入资料库,或者经由测量,把所得的光学数据储存,即可使用多点测量系统,单一机台最多可搭配七组光谱仪高性价比的 F37 机型因配置了先进的光谱测量系统,能够迅速快捷的应用于工业生产中在线测量膜层的厚度,及光学常数(n、 k 值),通过对待测膜层上下表面的反射光谱的分析就能够在数秒内获得厚度、折射率及消光系数。F37 先进的光谱测量系统,采用标准 19 英寸的机架式工业机箱,最多能配置 7 个独立的光谱仪。 F37 测量软件也可被主机通过数字化 I/O 软件控制来进行测量。测量数据能够自动输出到主机供 SPC 控制。此外,为了满足不同测量环境需求,Filmetrics 也可以提供多样化的透镜配件及光学探头夹具供用户选择使用Filmetrics 膜厚测量仪 F37Filmetrics 膜厚测量仪 F37Filmetrics 膜厚测量仪 F37

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Oxford PCB行业面铜线路板测厚仪膜厚仪

Oxford PCB行业面铜线路板测厚仪膜厚仪

  • 品牌:
  • 型号: CMI760
  • 产地:英国
  • CMI760测厚仪具有非常高的多功能性和可扩展性,对多种探头的兼容使这款测厚仪满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。同时-CMI760测厚仪具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。

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赛默飞  21 Plus!测控系统

赛默飞 21 Plus!测控系统

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: 21 Plus!
  • 产地:德国
  • Thermo Scientific 21 Plus!连续Web在线质量控制系统支持全面的测量和控制方案,可提供三十多个专业应用软件包。改系统通过改善产品质量、提高生产效率和节约原料,帮助用户获得投资的快速回报。特点: 可支持多达6个扫描架和15个传感器2000点横向曲线分辨率(双向拉伸薄膜为8000点)高级应用控制Windows操作系统OPC链接功能直观的FLEX HMI人机操作界面集成式维护诊断多语言支持应用:挤出生产线双向拉伸生产线涂布生产线塑料和橡胶压延生产线非织造布生产线建筑产品生产线地毯涂布生产线砂纸/砂带生产线玻璃棉/矿物棉/岩棉生产线Thermo Scientific 21 Plus!系统为连续Web工业提供各种应用的解决方案。无论现在和将来,它的可扩展分布式结构专为无缝模块化扩展而精心设计,可确保生产获益最大化。可靠的性能和简易的维护相结合,还可确保低廉的系统使用成本。传感器21Plus!支持所有Thermo Scientific 在线测量传感器,例如核技术、X射线技术、厚度卡视、近红外技术、全光谱红外技术、以及兼容第三方的传感器操作员工作站根据生产需求,不同形式的操作员工作站可置于生产环境中或中央控制室内。前者配有17英寸的平板显示器,而后者采用19英寸的平板显示器。操作员工作站以PC为基础并通过以太局域网(LAN)与系统内的其他模块通讯。高级应用控制完美产品组合的高级应用控制提供用于改善质量、提高生产效率和节约原料的控制,其中包括纵向、串级、横向和目标优化控制。

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AccuTrak O型扫描架

AccuTrak O型扫描架

  • 品牌:
  • 型号: AccuTrak O型
  • 产地:美国
  • AccuTrak O型架扫描架AccuTrak是一种高精度、稳定性强的O型架扫描器,可以应用于红外、激光、同位素、X射线、贝它射线或其它类型测量仪。这种高性能的扫描仪提供快速、准确、可靠的平面测量所需要的严格质量标准。它结合了高扫描速度、精确对准、低维护成本、可维护性和易用性。坚固的箱形梁设计采用了革命性的头托架承载系统,提供长期精确的,可重复的机器方向和交叉方向的测量。这种智能化的iFrame扫描仪完美的集成到NDC Technologies的TDI(全分布式智能)平面测量平台上。跨越四十年的经验,在工业测量和控制行业中,AccuTrak O型架扫描架提供了无与伦比的测量性能和高性价比。 宽度:24至394英寸(600至10000毫米) 扫描负载:上下各四个传感器 扫描的负载:300磅总重(136公斤) 工作温度:32°至170°F(0°至70°C) 选项1:清洁空气净化包和ATEX 1区的EEx II GEMII特定传感器配置 选项2:不限成员名额的扫描仪易于穿线

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FG710S红外透射式测厚仪

FG710S红外透射式测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: FG710S
  • 产地:美国
  • 红外透射式测厚仪NDC Technologies的智能红外测量仪用于塑料、薄膜和片材的厚度测量,有测量精度高、重复性好、高分辨率等特点,广泛用于这类产品的在线检测和控制。这些智能测量数据随时提供给控制系统并由操作员工作站(OWS)显示出来,为操作员和优化工艺提供可靠的流程信息。FG710S和TFG710ER薄膜测量仪通过其专利的红外设计和光学元件达到最佳的测量性能。这两种传感器工作稳定可靠,测量不受下列一些过程或环境条件变化的影响: 照明波动 温度 相对湿度 空气质量(灰尘,蒸汽成分等) 气压 探头位移(X,Y,Z) 批次变化不同于贝它或X射线测量仪,这些传感器易于维护,不需要特殊的辐射许可证,保护装置或安全锁。容易安装、简单的标定技术,其测量精度是有保证的。该设备可以用在挤出、片材生产线、双拉、吹膜和多层薄膜。NDC Technologies的先进红外测量技术设备的准确可靠性能使得我们在世界各地的客户都能从中受益。FG710S新型的塑料薄膜测厚仪, 用于清晰着色或多空薄膜的单层或多层的组合物的测量,聚合物薄膜厚度从10微米至5毫米。

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Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪

Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪

  • 品牌:
  • 型号: F3-sX
  • 产地:美国
  • Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪

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进口膜厚仪CMI233高精度实时在线测量

进口膜厚仪CMI233高精度实时在线测量

  • 品牌:
  • 型号: CMI233
  • 产地:英国
  • 方源仪器提供高品质进口膜厚仪CMI233高精度实时在线测量,测试简单、使用方便。广泛应用于铁/钢等磁性基材上的非磁性涂层,例如锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料或亚铁基底的搪瓷上的珐琅。铝/铜等导电基材上的非导电性涂层,例如阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料或在非亚铁基底上的环氧化物。

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Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪

Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: CMI95M
  • 产地:英国
  • Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪由深圳市方源仪器有限公司总代理销售产品,英国牛津仪器总代理深圳市方源仪器有限公司提供全球范围内的支持和服务网络。和我们的所有产品一样,铜箔膜厚仪在售前和售后都能够得到我们优质服务的保证。

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赛默飞 非织造布(无纺布)测厚仪

赛默飞 非织造布(无纺布)测厚仪

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: iSystem / IPlus /21Plus
  • 产地:德国
  • 非织造布(无纺布)干法、梳理、熔喷、针刺、纺粘、水刺、湿法非织造布系统可采用Thermo Scientific各类传感器,支持用于此工业领域的专业测量。特别是SpectraBeam FSIR全光谱红外传感器,可测量卫生材料中的高吸收性聚合物含量,和在玻璃纤维垫中测量树脂浸润含量。针刺测量和矿物绒系统类似,在Web产品上可安装多台固定式传感器。非织造布应用的产品组合支持严格要求的整卷质量报告,完整且可跟踪查询。

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OCS 在线薄膜厚度检测仪

OCS 在线薄膜厚度检测仪

  • 品牌:
  • 型号: TM9
  • 产地:德国
  • OCS 在线厚度测量系统是设计在实验室薄膜生产线上用于在线实时测量薄膜厚度的设备 技术参数: 分辨率:1μm 范围:高达5000μm 时间:0.1秒。 测量原理:增量测量传感器,用于距离测量

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CMI511膜厚仪孔铜测厚仪

CMI511膜厚仪孔铜测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: CMI511
  • 产地:英国
  • 深圳市方源仪器有限公司提供的CMI511膜厚仪孔铜测厚仪,隶属英国牛津仪器产品CMI系列,生产于美国。由中国大陆总代理深圳市方源仪器有限公司代为销售供应。CMI系列独有的温度补偿特性使其能够在电镀过程中进行厚度测量,从而降低废料、返工成本。和我们的所有产品一样,CMI511在售前和售后都能够得到牛津仪器优质服务的保证。

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MiniTrak S型扫描架

MiniTrak S型扫描架

  • 品牌:
  • 型号: MiniTrak S型
  • 产地:美国
  • MiniTrak S型架扫描架MiniTrak S 型架扫描架支持NDC Technologies的智能iSensors背向散射和反射系列产品。该框架设计非常紧凑和坚固,仅需极小的安装空间,可以被安装在复杂的生产现场,提供关键准确的测量数据。MiniTrak系统S型架采用了智能的iFrame系统,扫描器控制管理模块使传感器和控制操作具有完整性和高测量响应。 MiniTrak系统S型架最多可支持两个反射式智能iSensors测量仪。最后,紧固的四角安装方式和合理的支撑防止了扫描架或者杂物掉落到片材上,铰链端盖更易于维护和维修所有关键驱动元件。 宽度:38.6至245英寸(980至6230毫米) 测量配置:最多两个反向散射/反射测量仪 扫描负载:85磅。 (38.5公斤) 工作温度:32°至160°F(0°至70°C) 空气净化要求高于122°F(50°C)

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薄膜测厚仪

薄膜测厚仪

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: iSystem / IPlus /21Plus
  • 产地:德国
  • 挤出应用 单向和双向拉伸薄膜、共挤薄膜、流延薄膜、挤出片材、挤出复合和层压 我们拥有所有挤出类应用的丰富经验。我们全面的测量技术,包括空气厚度、红外线、核技术、光学和x射线传感器,以及先进的控制,可为有独特需求的这些应用提供精心设计的专业解决方案。 例如,双向拉伸薄膜生产线可通过卓越的生产过程可见性、控制响应能力、快速开车和快速更改产品,实现其Web测控最大的经济利益。在铸片和薄膜两端的高分辨率测量和精确映像,将有助于用户获得这样的效益。 完整的物料平衡算法可动态补偿纵向(MD)和横向(CD)拉伸,以实现串级的自动横向厚度控制(APC)。 此策略可大大改善MD和CD控制性能、减少薄膜产品质量变化,产生卓越的整卷质量,以实现最大的投资回报。 同样地,共挤和流延薄膜应用也可从完整的传感器和控制产品组合中获益。其中,SpectraBeam传感器可测量共挤薄膜和其它分层产品的各层厚度。 利用非线性不对称缩颈的自动片材边缘检测,可动态补偿各种聚合材料多样的收缩因子而引起的收缩。 最后,先进的平均厚度控制和自动横向厚度控制程序可帮助用户获得一致的、杰出的结果。 信息是重要的。报表功能的完整数据库,包括整卷报表、历史数据查看、文件存档和分页数据,将可帮助用户消除任何猜测和臆断。

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MiniTrak O型扫描架

MiniTrak O型扫描架

  • 品牌:
  • 型号: MiniTrak O型
  • 产地:美国
  • MiniTrak O型架扫描架MiniTrak 系统智能O型架扫描架提供快速、准确、可靠的测量性能,完美集成到NDC Technologies智能分布式的网络架构上。对于复杂的生产线和多工艺流程的工厂,MiniTrak系统的O型架扫描仪系列可以提供客户所期望的结果。例如,MiniTrak系统O型架扫描器可以与任何NDC Technologies的测量仪和应用软件配套。MiniTrak O型架和S型架扫描器的机械设计是基于相同的箱型架结构,,具有优异的刚性和测量应用性能。直线轴承系统及精密导轨保证扫描架的长使用寿命。通过箱型架内部保护组件可以最大化扫描架的可靠性能。扫描架维护设计采用了模块化的部件,在最短的停机时间内很容易被替换。最后,MiniTrak系统利用密封刷保护测量系统不被外来微粒阻塞内部结构,加上一个倒置的上梁,以防止污染物掉到箔材上。 MiniTrak系统O型架扫描架占地面积小,可以安装于紧凑的工艺流程中。 宽度:22.6至170英寸(575至4325毫米) 测量配置:最多两个测量仪 扫描负载:150磅。 (68公斤) 工作温度:32°至160°F(0°至70°C) 空气净化要求高于122°F(50°C)

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赛默飞  iSystem 测控系统

赛默飞 iSystem 测控系统

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: iSystem
  • 产地:
  • Thermo Scientific iSystem 是稳定可靠的总克重测量系统。 直观、使用便捷的系统中包含了我们先进的传感器技术和功能强大的软件,以更低的成本为用户提供更高的性能。美国和德国设计,中国制造特点: 克重测量 双区域控制 高达 2000 个测量点的横向厚度分布曲线 直观的人机操作界面 先进的系统诊断和远程支持性能 平均值 (MD) 控制优势: 高精度和高分辨率传感器可以提供准确、实时的材料产品测量 先进的 Wonderware 用户界面和 Windows 操作系统提供更加便捷的数据管理和存档 发生意外损坏时,系统备份软件可以快速简便地恢复系统 停机时间更短,具有高可靠性应用:Thermo Scientific iSystem 可提供如流延挤出薄膜、挤出片材、非织造布和涂布应用下的克重测量。 测量平台采用直观的操作界面,操作简单,易于维护。片材和薄膜解决方案 应用程序包根据流延挤出薄膜、挤出涂布或者挤出片材测量的特定要求量身定制。 可选配的闭环 MD 控制通过自动调节线速度或者挤出机转速实现目标调整,显著改善生产质量。 至于辊涂工艺,双区控制软件包可以用于调节,确保横向的涂布量更加均匀。非织造布解决方案非织造布应用软件包被优化用于纺粘、水刺、梳理、干法和针刺等工艺。 强烈推荐为这些应用增加在线测量,因为织物上的原料分布可能具有显著差异。 可以增加闭环 MD 控制以提高质量。

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赛默飞 边降仪

赛默飞 边降仪

  • 品牌:
  • 型号: RM319
  • 产地:德国
  • RM319板带边缘降凸度测量仪能为您的高速冷轧生产线提供全面的检测数据,例如凸度、楔形等,从而优化板带边部的凸度和厚度控制,缩小公差、降低废品率。

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Kurabo RX400 在线红外线油膜测厚仪

Kurabo RX400 在线红外线油膜测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: RX400
  • 产地:日本
  • 摘要RX-400在线式红外线油膜测厚仪是一款可以检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器,主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物;薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。 产品级别 高端在线 适合行业 硅钢、耐指纹板、冷轧板、汽车涂油板等在线钢铁涂油量的检测 样品状态 硅板表面氧化膜 产品用途 (1) 钢板上氧化膜厚度检测 (2) 薄膜上聚硅酮涂层厚度检测 (3) 高功能薄膜的涂层厚度检测 (4) 复合薄膜的各层厚度检测 主要特征 (1)与X射线比较设备价格低; (2)适于在线测量,可以距离钢板等40mm检测; (3)精度高 可以检测原来的红外线膜厚度计无法测量的无机涂膜厚度及超薄涂层的厚度。 技术参数 测量说明 测光方式 红外反射吸收方式 分光方式 旋转滤波方式(6个滤波片) 测量距离 40mm(从本体部下面) 测量面积 20*30mm(椭圆) 装置说明 检测器 尺寸:410(W)*207(D)*160(H) (不含突起部分) 重量:8.5Kg 中继连接器 尺寸:322(W)*113(D)*140(H) (不含突起部分) 重量:4Kg 电源:AC100V±10% 50/60Hz 200VA 数据处理部 尺寸:300(W)*275(D)*165(H) (不含突起部分) 重量:6Kg 电源:AC100V±10% 50/60Hz 200VA 外部输出 0-10V,4-20mA模拟输出(出厂时设定) 使用温度 5-40°C(无结露) 荣获殊荣 专利技术P偏光。

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CMI563手持式PCB行业专用面铜膜厚仪

CMI563手持式PCB行业专用面铜膜厚仪

  • 品牌:
  • 型号: CMI563
  • 产地:英国
  • CMI563手持式PCB行业专用面铜膜厚仪是创新性的CMI563铜箔测厚仪配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换,更换探针更为方便和经济。CMI563可由用户选择所测试的铜箔类型,即化学铜或电镀铜;甚至无需用户校准,即可测量线形铜箔度。NIST(美国国家标准和技术学会)认证的校验用标准片有不同厚度可供选择。高品质的CMI563更可享受优质的保修期服务和牛津仪器全球客户服务体系的全力支持。

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赛默飞  X射线冷轧测厚仪

赛默飞 X射线冷轧测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: RM210CM
  • 产地:德国
  • Thermo Scientific 瑞美 RM 210 CM非接触式X射线测厚仪能以最快的速度为各类金属板带生产线提供准确度最高的测量数据,可用于人工控制、AGC控制或轧机的自适应控制。 瑞美RM 210 CM型测厚仪能针对您的应用场合来定制最合适的传感器配置。C形架的设计旨在适应多种型号的X射线源和探头。该系统在高速冷轧上的采样时间为1 ms,因此分析轧机事件的频率更高。系统的架构灵活,可根据您的特殊需求进行调整。

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赛默飞 铝箔冷轧在线测厚仪

赛默飞 铝箔冷轧在线测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: RM210AF/AS
  • 产地:德国
  • 铝箔和铝冷轧测厚仪

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Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪

Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪

  • 品牌:
  • 型号: CMI243
  • 产地:英国
  • 深圳市方源仪器有限公司提供Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪,这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术,CMI243手持式测厚仪易于用户控制,并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买,CMI243免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

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KOSAKA LAB ET 4000台阶仪(探针接触式轮廓仪/微细形状测定机)

KOSAKA LAB ET 4000台阶仪(探针接触式轮廓仪/微细形状测定机)

  • 品牌:
  • 型号: ET4000
  • 产地:日本
  • KOSAKA LAB ET 4000台阶仪(探针接触式轮廓仪/微细形状测定机)(Microfigure Measuring Instrument) 产品介绍 株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年创立的公司,也是日本第一家发表光学干杠杆表面粗糙度计,是一家具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为最具代表性单位且在日本精密测定业占有一席无法被取代的地位。ET4000系列中,有ET4000A(多动能、自动化、可添加一款3D软件,扫出测量表面的3D形貌) ,ET4000L(完全自动化的,针对体积较大的样品可与大型精密贵重玻璃或晶片尺寸样品) ,ET4000M(Y轴方向手动移动、性价比高、易于使用) ,常用的是ET4000A。ET4000系列具有良好的稳定性、高精度和强大的功能。在平板显示器FPD,晶片,硬盘和其他纳米尺度上的应用广泛。 主要特点: (1)极佳的台阶再现性与线性度。 (2)超高真直度,可确保量测图形不受任何影响,并可在真直度的保证下进行长距离测量。 (3)采用超低噪音直动式 LVDT,超低测定力的触针可任意调节。 (4)配备高分辨率的 CCD 即时进行高精度定位测量。 (5)可对应各种国际规范,测定参数多达 60 多种。 (6)适用于各种与纳米材料有关的MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。 技术参数 一、测定工件: 1. 最大工件尺寸 210 × 210 mm to 300 × 400 mm 2. 最大工件厚度 50mm 3. 最大工件重量 2kg二、检出器(pick up): 1. Z 方向测定范围 Max. 100μm 2. Z 方向分解能 0.1nm 3. 测定力 0.5 μN to 500 μN 4. 触针半径 0.5 , 2 μm 5. 驱动方式 直动式三、X 轴 (基准轴): 1. 移动量(最大测长) 100mm 2. 移动的真直度 0.005μm/5mm 3. 测定速度 0.005 ~ 2mm/S 4. 位置定位时速度 Max. 10mm/S 5. 线性尺(linar scale) 分解能 0.01μm 6. 位置定位再现性 ± 5μm 7. 滑轨 材质为在铸铁(CD-5)上,镀上硬质 Cr,无润滑(于移动台侧,使用铁弗龙折动材料) 8. 驱动 DC motor + Dynamic belt四、Y 轴(位置决定用): 1. 移动量 52mm 2. 移动速度 max.3mm/S 3. 滑轨 Crose roller 滑轨 4. 驱动 DC motor + 滚珠螺杆(P=2mm) 5. 检出器自动停止机能五、工件台: 1. 工件台尺寸 210mm×210mm 2. 自动倾斜量 X: ± 1mm/150mm Y: ± 1mm/186mm 3. 分解能 0.25μm 4. 驱动 pulse motor六、全自动量测功能 七、工件观察 max. 80倍(可选购其它高倍率 CCD) 八、床台 材质为花岗岩石 九、段差测定再现性 1δ, 5A°以内 十、防振台(选购) 落地型或桌上型 十一、电源 AC100V±10%,50/60HZ,800VA 十二、本体外观尺寸 W660×D580×H660mm(不含防震台)

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Sciteq多层管材X射线测厚仪

Sciteq多层管材X射线测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: X-Act
  • 产地:丹麦
  • 丹麦Sciteq公司为全球领先的管材测试仪器制造商,产品涵盖管材物理性能测试需求的各个方面,通过大量开创性的研发设计以及可靠的产品质量,Sciteq成为全球管材测试仪器的领先供应商。 Sciteq公司在1980年代发明了无空气管材耐静水压测试仪器;1990年代全球首创专利的DPCS动态压力控制系统;而在2000年,Sciteq公司推出了全球唯一的X射线管材分层厚度在线测试仪。 工作特点 测量结果为绝对值 无需校准 测量过程及结果不受环境温度影响 无接触测量 不需要水作为接触介质 更换挤出管径是不需要进行硬件配置调整 可检测多层厚度 易于安装和卸除 非破坏性测量 可移动操作面板便于在生产线的任何一侧操作 管材的所有尺寸数据可显示在下游测量装置上 测量产品参数可存储,结果可存储追朔 可对计量加料系统进行优化 工作参数 适用管径范围:20 - 630 mm (其他管径可选)

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EddyCus® TF lab Hybrid 面电阻测试仪

EddyCus® TF lab Hybrid 面电阻测试仪

  • 品牌:
  • 型号: EddyCus® TF lab Hybrid
  • 产地:德国
  • 产品简介: Suragus面阻测试仪来自德国,其通过涡流的原理测量材料面阻值,该技术是一种非接触式面阻测试技术且测试准确稳定,对于无损检测、在线监测具有重要意义。EddyCus TF lab Hybrid系列可实现手动进行扫描多点测试 。产品详情: 基本功能 1,测试导电薄膜方块电阻及其厚度,基板厚度; 2,测试光透过率(380、532、632、1032nm等) 测试技术 涡流探测感应技术、超声技术 平台尺寸 16英寸/400mm×400mm 基板材质 金属薄片、玻璃、硅片等等 面阻精度范围 l 0.001-10Ω/□,精度小于2% l 10-100Ω/□,精度小于3% l 100-3000Ω/□,精度小于5% 样品厚度 2/5/10mm,取决于样品实际厚度 薄膜厚度测试 1nm-500um,取决于面阻及其薄膜电阻率 机台尺寸 760×310×660mm 重量 20kG 分析软件 Sheet Resistance Analyzer 2.0 应用领域 l 建筑玻璃 l 包装材料 l 触摸屏及平板显示 l LED/OLED以及智能玻璃 l 半导体 l 其他导电镀膜领域 其他 可手动进行扫描多点测试相关产品:EddyCus-TFlab2020、EddyCus-TFlab4040、EddyCus-TFmap2020SR、EddyCus-TFinline、EddyCus-TFlabHybridEddyCus-TFmapHybrid……欢迎详询:北京燕京电子有限公司

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SURAGUS EddyCus® TF膜厚面阻测试仪

SURAGUS EddyCus® TF膜厚面阻测试仪

  • 品牌:
  • 型号: EddyCus® TF lab
  • 产地:德国
  • 产品简介EddyCus TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的面阻及膜厚实时测量仪器。其应用领域广泛,不仅适用于玻璃、硅、塑料基板上的导电性薄膜的面电阻和厚度的测量,同时也适用于多种单层膜材料厚度的实时测量。根据传感器之间距离的不同,EddyCus TF lab可满足不同的测试需求,传感器标准距离为10mm,最大距离可至60mm。应用领域:薄膜面电阻的测量薄膜厚度的测量导电性基板厚度的测量与电阻相关的其他参数的测量技术特点:非接触式实时测量可实现对几乎所有平面样品的测量测量传感器与样品之间的距离及测量 点的大小可调扫频范围可达256个频率点薄膜厚度测量可精确至纳米量级操作简单,软件功能丰富 技术指标 EddyCusTF lab-1 EddyCusTF lab-2 传感器之间距离 10mm up to 60 mm possible 厚度测量 范围 高导电率材料 (大于10 MS/m) 5 nm 50 m 5 nm 100 m 低导电率材料 (小于 10 MS/m) 10 nm 1 mm 10 nm 250 m 面阻测量范围 0,01 1000 /sq 导电率范围 1 67 MS/m 薄膜厚度测量精度 ± 10% from <20 nm ± 5% from 20-200 nm ± 2,5% from 200nm 1 m ± 1% from > 1 m 面电阻测量精度 (e.g. TCO) ± 2,5% from 0,01 20 /sq ± 5% from 20 100 /sq ± 10% from 100 1000 /sq 传感器 可根据不同应用要求配置最佳的传感器相关产品:EddyCus-TFlab2020、EddyCus-TFlab4040、EddyCus-TFmap2020SR、EddyCus-TFinline、EddyCus-TFlabHybridEddyCus-TFmapHybrid…………详询:北京燕京电子有限公司

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EddyCus®-TF Inline 在线膜厚面阻测试仪

EddyCus®-TF Inline 在线膜厚面阻测试仪

  • 品牌:
  • 型号: EddyCus®-TF Inline
  • 产地:德国
  • 产品简介: Suragus面阻测试仪来自德国,其通过涡流的原理测量材料面阻值,该技术是一种非接触式面阻测试技术且测试准确稳定,对于无损检测、在线监测具有重要意义。 产品详情: 基本功能 1,测试导电薄膜方块电阻及其厚度 2,同步检测功能 测试技术 涡流探测感应技术、超声技术 检测探头 1-99个,根据产线尺寸 基板材质 金属薄片、玻璃、硅片等等 面阻精度范围 l 0.001-10Ω/□,精度小于2% l 10-100Ω/□,精度小于3% l 100-3000Ω/□,精度小于5% 样品厚度 2/5/10/25/50mm,取决于样品实际厚度 薄膜厚度测试 1nm-500um,取决于面阻及其薄膜电阻率 监测样品速率 1-3000个/秒,根据需求可以提高 可提升功能 1,检测光透过率 2,检测基板厚度,面阻各向异性 工作环境条件 <60℃(更高达到90℃) 数据处理系统 硬件触发检测/条形码扫描记录 应用领域 l 建筑玻璃(low-E玻璃等) l 包装材料 l 触摸屏及平板显示 l LED/OLED以及智能玻璃 l 半导体 l 其他导电镀膜领域 相关产品:EddyCus-TFlab2020、EddyCus-TFlab4040、EddyCus-TFmap2020SR、EddyCus-TFmapHybrid、EddyCus-TFinline、EddyCus-TFlabHybrid详询:北京燕京电子有限公司

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