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深圳善时专业PCB镀层厚度金属电镀镀层分析仪IEDX-150WT

深圳善时专业PCB镀层厚度金属电镀镀层分析仪IEDX-150WT

  • 品牌: 深圳善时
  • 型号: IEDX-150WT
  • 产地:深圳
  • 采用非真空样品腔; 专业用于PCB镀层厚度,金属电镀镀层分析; 可同时分析镀层中的合金成分比列; 多镀层,1~5层;

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日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪

日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪

  • 品牌: 日立
  • 型号: FT9400 FT9450 FT9455
  • 产地:日本
  • 仪器简介:FT9000系列里最高的机型就是FT9455。搭载着75W高性能X射线管和双向分离工检测器(半导体检测器+比例计数管),符合“薄膜”、“合金膜”、“极微小部分测定”等镀膜厚度测定要求的高性能膜厚度测量仪。FT9455还在镀膜厚度测定功能的基础之上增加了异物定性和查资料成分分析的功能。技术参数:型号FT9400FT9450FT9455测量元素原子序号Ti(22)~Bi(83)原子序号21以下的元素可通过吸收法测量X射线源空冷式小型X射线管管电压:50(可变更)kV管电流: 10~1000 μA检测器比例计数管+半导体检测器(无需液氮)准直器4种类(0.015, 0.05, 0.1, 0.2 mmφ)X射线聚光激光对焦滤波器一次滤波器: Mo-自动切换样品区域X:240 mm, Y:170 mmX:220 mm, Y:150 mm, Z:150 mmX:420 mm, Y:330 mmX:400 mm, Y:300 mm, Z:50 mmX:700 mm, Y:600 mmX:400 mm, Y:300 mm, Z:15 mm测量软件薄膜FP法(最大5层、10种元素)、检量线法、块体FP法(材料组成分析)安全功能样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能主要特点:搭载双向分离工检测器(半导体检测器+比例计数管)搭载在X射线能量分辨率上,优秀的半导体检测器(起作用液化氮)和计数率优秀的比例计数管,能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器,能够区分Ni和Cu这样相似的元素。它有以下的特点:1. 能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次过滤的情况下进行测定2.对于含Br的打印基板,可以做到不受Br干扰进行高精度的Au镀膜厚度测定3.能够测定0.01μm以下极薄的Au镀膜4. 薄膜FP软件对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等,适用于广泛的运用领域。5. 适用测定极微小部分15μmΦ的准直管为标准装备。能够测定微小部分镀膜厚度。6. 搭载75W高性能X射线管7. 容易对微小领域进行观察搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。8. 能够测定大型打印基板的大型平台9. 依据照明,能够观察以往难以观察的样品10. 搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器11. 利用伺服马达精确的驱动平台12. 正确的对焦利用激光能够正确得对焦测试样品。13. 报告制作软件运用微软的软件能够简单得把测定的数据制作成书面材料。

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日立 FT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

日立 FT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

  • 品牌: 日立
  • 型号: FT9500 FT9550 FT9500L
  • 产地:日本
  • 仪器简介:X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmΦ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器,在测量镀层厚度的同时,也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。技术参数:型号FT9500FT9550FT9500L测量元素Al(13)~Bi(83)X射线源管电压:50(可变更)kV管电流: 10~1000 μA检测器半导体检测器(无需液氮)X射线聚光聚光导管方式样品观察CCD摄像头(带变焦功能)对焦激光对焦滤波器一次滤波器:3个位置(自动切换)样品区域X:240mm, Y:175mmX:220mm, Y:150mm, Z:150mmX:420mm, Y:330mmX:400mm, Y:300mm, Z:50mmX:840mm, Y:540mmX:400mm, Y:300mm, Z:50mm测量软件薄膜FP法(最大5层、10种元素)、检量线法、块体FP法(材料组成分析)安全功能样品门联锁1. 薄膜及多层膜测量通过采用新型的毛细管(X射线聚光系统)和X射线源,把与以往机型FT9500同等强度的X射线聚集在30 μmΦ的极微小范围。因此,不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。 同时,也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。2. 异物分析通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合,可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线,通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析(Al~U)。3. 数据编辑功能配备了Microsoft Excel和Microsoft Word。在Microsoft Excel上面配备了统计处理软件,可以进行测量数据、平均值、最大/最小值、C.V.值、Cpk等的统计处理。 另外,通过Microsoft Word可以简单的制作包含了样品画图的测量报告书。4. 高强度照射通过高强度照射在微小部分也可以鲜明的观察、聚焦位置。5. 样品工作台配备等同与FT9550X的大型样品台,能够对大型线路板等样品进行整体排列测量对应。

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日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪

日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪

  • 品牌: 日立
  • 型号: FT150 FT150h FT150L
  • 产地:日本
  • 概要:使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外,以X射线检测结构为中心,对各类元件进行最佳优化,从而大幅提高了检测灵敏度,在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且,对设备进行了重新设计,使得样本室的使用,以及对检测点的检查变得更为容易。参数:基本参数:型号:FT150(标准型)FT150h(高能量型)FT150L(大型线路板对应)测量元素:原子序数13(Al)~92(U) X射线源:管电压:45 kV FT150:Mo靶 FT150h:W靶 FT150L:Mo靶 检测器:Si半导体检测器(SDD)(无需液氮) X射线聚光:聚光导管方式 样品观察:CCD摄像头(100万像素) 对焦:激光对焦、自动对焦 最大样品尺寸:FT150:400(W)×300(D)×100(H)mm FT150h:400(W)×300(D)×100(H)mm FT150L:600(W)×600(D)×20(H) mm 工作台行程:FT150:400(W)×300(D)  FT150h:mm400(W)×300(D) FT150L:mm300(W)×300(D) mm 操作系统:电脑、22英寸液晶显示屏 测量软件:薄膜FP法(最多5层膜、10元素)、检量线法、定性分析 数据处理:Microsoft Excel、Microsoft Word 安装 安全功能:样品门联锁 消耗电量:300 VA以下特点:1.显微领域的高精度检测通过采用新开发的多毛细管,以及对探测器的优化,在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30 μm(设想FWHM: 17 μm)的基础上,进一步将处理能力提高到了2倍以上。2.产品阵容适应各类检测样本针对检测样本的不同种类,可在下列3种型号中进行选择。  ●测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号  ●能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号  ●适合对陶瓷芯片电极部分中,过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号3.兼顾易操作性与安全性放大了开口,同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性,并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险,让用户放心使用。4.检测部位可见通过设置大型观察窗、修改部件布局,使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。5.清晰的样本图像使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头,采用全数码变焦,从而消除位置偏差,可以清晰地观察数十μm的微小样本。另外,亦采用LED作为样本观察灯,无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。6.新GUI将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等,因此登记、整理起来就很方便,从而使得用户可以不走弯路,直接进行检测。使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动,逐步引导用户执行当前所需进行的工作。

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深圳善时特殊镀层厚度检测仪iEDX-150UT

深圳善时特殊镀层厚度检测仪iEDX-150UT

  • 品牌: 深圳善时
  • 型号: iEDX-150UT
  • 产地:深圳
  • 特殊镀层厚度检测:化学镀镍钯浸金、钯、 镍、 铑等 汽车零部件、 线路板(PCB)镀层厚度检测,如:电容 单层、 多层、合金镀层检测 可同时检测合金镀层的厚度与成份比例 可选用Capillary微焦点(70um)检测样品 可检测多层薄膜的膜厚(多达5层) 便捷的样品台操控 可多点连续检测 支持在线远程控制

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日立 FT9300系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

日立 FT9300系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

  • 品牌: 日立
  • 型号: FT9300系列
  • 产地:日本
  • 概要:高速X射线管球的搭载,实现了高精度的测定。而且配合极微小准直器和光学变焦镜头可以实现极微小部分的测定。更可以对有高低平面差异的样品进行测定。技术参数:可测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi) X射线源:小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶) 管电压: 50kV 管电流: 1.5mA Be 窗 滤波器:一次滤波器:Mo 二次滤波器:Co (自动切换) 照射方式:上方垂直照射方式检测器:比例计数管 准直器:方型:0.025×0.2mm 0.2×0.025mm 圆形:Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm安全性能:样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能样品图像对焦方式:激光自动对焦样品观察:彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明 样品平台大小及承重:FT9300:240mm(W) ×170mm(D) 10kgFT9350:420mm(W) ×330mm(D) 5kgFT9355:700mm(W) ×600mm(D) 3kg重量:FT9300/SFT9350:125kg (不含电脑)FT9355:130kg(不含电脑) 修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正 测量报告书制作:配备MS-EXCEL MS-WORD(使用宏支持自动制作测量报告书)测量能谱与样品图像保存功能特点:1. 75W高功率X射线管  能够提高X射线的生产效率,实现高精度的测量,有效缩短测量时间,只需过去的1/42. 超微小型准直器  除了搭载了标准配置的50μm准直器,还配备了测量微小部位用的15μm准直器  对应所选择准直器的实际X射线光束照射的尺寸,可以显示在样品画面上3. 倍率式光学系 可以准确地对微小部分进行对焦,还可以对应各测量点间有高低的样品4. 实现了高精度自动X-Y-Z样品台与图像处理软件的高速自动测量 5. 拥有防冲功能 6. 搭载高精度样品平台,更可测量大型线路板(FT9355) 7. 自动对焦功能 配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。8. 即时生成测量报告的便捷性 运用搭载的Microsoft Word Excel 可以简单轻松得到制作报告。9. 搭载了高功率X射线管 10. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件 11. 搭载了薄膜FP法软件、图像处理软件以及块体FP法软件,可实现高精度几高效率的微小样品检测最小样品尺寸直径3.5um 2.容易决定微小测量部位 3.影像对焦系统 4.凹凸样品的凹下部位的测量 5.再现性佳

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深圳善时金属电镀镀层分析仪iEDX-150T

深圳善时金属电镀镀层分析仪iEDX-150T

  • 品牌: 深圳善时
  • 型号: iEDX-150T
  • 产地:深圳
  • 采用非真空样品腔; 专业用于金属电镀镀层分析; 可同时分析镀层中的合金成分比列。 多镀层,1~6层 >测试精度:0.01 um >多次测量重复性误差<0.1%

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日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪

日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪

  • 品牌: 日立
  • 型号: FT110A
  • 产地:日本
  • 概要:自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点,省略了以前手动逐次对焦的操作,大幅提高了测量效果。型号名称:FT-110A测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)检测器:比例计数管X射线管:管电压:50kV 管电流:1mA准直器:4种(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)样品观察:CCD摄像头(可进行广域观察)X-Ray Station:电脑、19英寸液晶显示器膜厚测量软件:薄膜EP法、标准曲线法测量功能:自动测量、中心搜索定性功能:KL标记、比较表示使用电源:220V/7.5A特长:1.自动对焦功能 自动接近功能 在样品台上放置各种高度的样品时,只要高低差在80mm范围内,即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。●自动对焦功能 简便的摄像头对焦●自动接近功能 最适合位置的对焦 2.通过新 薄膜FP法提高测量精度实现微小光束的高灵敏度,通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外,针对检测器的特性开发了新的EP法,可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书,简单方便。●新 薄膜EP法减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化无标样测量方法可进行最多5层的膜厚测量●自动对焦功能和距离修正功能 凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量●灵敏度提高镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2●生成报告功能一键生成测量报告书3.广域样品观察对测量平台(250mm*200mm)上放置的样品拍摄一张静态画面后,可在获取的广域观察图像上指定狭域的观察位置。由此,可大幅减少多数测量点位置的选取时间,以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。●广域图像观察轻松定位

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日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

  • 品牌: 日立
  • 型号: FT9200系列
  • 产地:日本
  • 仪器简介:是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、有适用大型线路板用的FT9255、可以对应广泛的应用程序。技术参数:可测量元素:原子序数22(Ti)~92(U) X射线源:小型空气冷却型X射线管球 管电压:45kV 管电流:1mA Be窗 滤波器:一次滤波器:Al-自动切换 二次滤波器:Co-自动切换 检测器:比例计数管 准直器:方型:0.2×0.05mm 0.05×0.02mm 圆形:Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm安全性能:装有样品门联锁、防冲撞的功能样品图像对焦方式:激光自动对焦样品观察:CCD固定倍率、卤素灯照明 选购项:倍率切换(最大130倍)修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正 测量报告书制作:配备MS-EXCEL MS-WORD(使用宏支持自动制作测量报告书)测量能谱与样品图像保存功能主要特点:1. 能够测量无铅焊锡 配备了薄膜FP法,可以同时测量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,无铅焊锡的镀层后与成份2. 搭载中心搜索软件 通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。3. 拥有防冲功能 4. 搭载激光对焦系统 5. 即时生成测量报告的便捷性 运用搭载的Microsoft Word Excel 可以简单轻松得到制作报告。6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件 7. 搭载了薄膜FP法软件 8. 自动对焦功能配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。

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镀层测厚仪

镀层测厚仪

  • 品牌: 江苏天瑞
  • 型号: Thick 8000
  • 产地:苏州
  •  Thick 8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。性能优势 1.精密的三维移动平台2.卓越的样品观测系统3.先进的图像识别4.轻松实现深槽样品的检测5.四种微孔聚焦准直器,自动切换6.双重保护措施,实现无缝防撞7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度全自动智能控制方式,一键式操作!开机自动自检、复位;开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;直接点击全景或局部景图像选取测试点;点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。技术指标分析元素范围:硫(S)~铀(U)同时检测元素:最多24个元素,多达5层镀层分析含量:一般为2ppm到99.9%镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)SDD探测器:分辨率低至135eV先进的微孔准直技术:最小孔径达0.1mm,最小光斑达0.1mm样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mmX/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 最高速度333.3mm/sX/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um操作环境湿度:≤90%操作环境温度:15℃~30℃

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荧光测厚光谱仪

荧光测厚光谱仪

  • 品牌: 江苏天瑞
  • 型号: Thick 800A
  • 产地:苏州
  • 仪器介绍       Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 一次可同时分析最多24个元素,五层镀层。分析含量一般为2ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm重量:90 kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机应用领域黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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XRF-2000L型电镀层厚度测量仪

XRF-2000L型电镀层厚度测量仪

  • 品牌: 韩国微先锋
  • 型号: XRF-2000L
  • 产地:韩国
  • XRF-2000L型电镀层厚度测量仪,可测试高度≤30mm的工件。

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韩国微先锋X射线测厚仪/荧光测厚仪XRF-2000

韩国微先锋X射线测厚仪/荧光测厚仪XRF-2000

  • 品牌: 韩国微先锋
  • 型号: XRF-2000
  • 产地:韩国
  • 全自动样品台; 多种尺寸的准直器可选,适合各种大小产品的镀层测试; 镭射对焦系统,避免人为肉眼对焦产生测量误差。

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日立FT110A X射线镀层测厚仪

日立FT110A X射线镀层测厚仪

  • 品牌: 日立
  • 型号: FT110A
  • 产地:日本
  • 概要:自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点,省略了以前手动逐次对焦的操作,大幅提高了测量效果。型号名称:FT110A测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)检测器:比例计数管X射线管:管电压:50kV 管电流:1mA准直器:4种(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)样品观察:CCD摄像头(可进行广域观察)X-Ray Station:电脑、19英寸液晶显示器膜厚测量软件:薄膜EP法、标准曲线法测量功能:自动测量、中心搜索定性功能:KL标记、比较表示使用电源:220V/7.5A特长:1.自动对焦功能 自动接近功能 在FT110A样品台上放置各种高度的样品时,只要高低差在80mm范围内,即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。 ●自动对焦功能 简便的摄像头对焦 ●自动接近功能 最适合位置的对焦 2.通过新薄膜FP法提高测量精度 FT110A实现微小光束的高灵敏度,通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外,针对检测器的特性开发了新的EP法,FT110A可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书,简单方便。 ●新 薄膜EP法 减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化无标样测量方法可进行最多5层的膜厚测量 ●自动对焦功能和距离修正功能 凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量●灵敏度提高 镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2●生成报告功能 一键生成测量报告书 3.广域样品观察FT110A对测量平台(250mm*200mm)上放置的样品拍摄一张静态画面后,可在获取的广域观察图像上指定狭域的观察位置。由此,可大幅减少多数测量点位置的选取时间,以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。 ●广域图像观察轻松定位

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X射線螢光鍍層測厚儀

X射線螢光鍍層測厚儀

  • 品牌:
  • 型号: CMI900
  • 产地:美国
  • 仪器简介:CMI900射光厚,有著非破,非接,多合金量,高生力,高再性等,在品管制到不良品分析有著泛的用。用於子元器件,半,PCB,汽零部件,功能性,件,接器等多行。技术参数:元素 (Ti22) ~ (U92) X射激系 垂直上照式X射光系,50W(4-50kV,0-1.0mA)(可75W) 靶材 靶材:Rh靶;任靶材:W、Mo、Ag等 光片 二次X射光片:3位置程式控制交,多材、多厚度的二次光片任 准直器程式控制交系 最多可同配6格的准直器。形,如4、6、8、12、20 mil等矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 量斑尺寸 在12.7mm聚焦距,最小量斑尺寸:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)。在12.7mm聚焦距,最大量斑尺寸:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 品室 槽式品室,610mm x 610mm XY程式控制移 :152.4 x 177.8mm 有5格任 Z程式控制移高度 43.18mm XYZ三控制方式 多控制方式任:XYZ三程式控制、XY手控制和Z程式控制、XYZ三手控制 品察系 高分辨彩色CCD察系配30倍,射自焦功能,可焦距控制功能和固定焦距控制功能 厚 取於您具用配置 主要特点:1. 精度高、定性好 通度跟光教正提高定性,度:通系度,消除度化可能的度影。光校正:系性能,自校系偏差。 值校,校正的,保果的可塑性。美家室(A2LA)核准室,保系的完整性。 2. 大的料、理功能 平均值、偏差、相偏差、最大值、最小值、料、料、CP、CPK、控制上限、控制下限 料分、X-bar/R表、直方,料存功能及任:告器允用自定多媒告 3. 量 可元素:Ti22 U92,可同定5/15元素/共存元素校正,液品分析,如液中的金元素含量。多4品的光同示和比。 4. 量自化功能 多自量模式:模式、性模式、梯度模式、描模式、和重量模式 量位置功能及射焦和自焦功能 5. 多示模式 可设定测量点并可以连续多点测量,测量位置预览(图表显示)

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COMPACT Eco X射线荧光镀层测厚仪

COMPACT Eco X射线荧光镀层测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: COMPACT Eco
  • 产地:德国
  • COMPACT Eco是利用X射线荧光进行镀层厚度测量和材料分析。能够快速无损分析以确保您的持续生产和产品质量。可以在无需制样的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体。能够解决微小物品的微米纳米的厚度测量,不再因聚焦影响精度的傻瓜模式,原厂预做曲线,无需大量购买校正片。技术规格:测定元素范围:Ti(22) U(92)镀层和成份分析:镀层:最多同时测定5层(4层镀层+基体材料) 成份:最多同时测定20种元素X射线激发:50kV、1.2mA (60W)高压发生器,微聚焦W靶X射线管探测器:封气正比计数器准直器:任选:φ0.3mm或者φ0.5mm准直器数字脉冲处理器:2048通道、数字式多道分析器数据处理系统:Intel Pentium G2030、2G RAM、500G硬盘(配置相当或者更高),19英寸TFT彩显,Windows 7 32bit操作系统相机:彩色视频系统,20倍放大倍数,图像十字线,显示标尺和X射线束尺寸,被测样品图像实时显示功能电源要求:110V、230V,60Hz/50Hz工作环境要求:10℃-40℃室温,最高98%相当湿度(无冷凝水),推荐在空调环境中使用主机重量:41公斤(不包含计算机和显示器等重量)样品台规格:240mm x 240mm样品台,程控Z轴移动距离:60mm,样品台最大承重5公斤最大样品尺寸:380mm(W) x 370mm(D) x 100mm(H)仪器外形尺寸:400mm(W) x 600mm(D) x 400mm(H)COMPACT Eco优势:●超高的性价比●操作简单●高质量高可靠性的全日制24小时/7天操作●快速的服务响应。●无损检测只需几秒钟,为质量保证和过程控制提供单层或多层分析,能进行合金成分的定量分析,可用 于优化电镀液控制的金属离子含量分析。技术参数:高压发生器: 50kV,最大电流1.2mA,程序控制升压X射线管:微聚焦,优质射线管, W靶, 0.2毫米x 0.8毫米焦斑X射线功率:根据应用优化,最大50VA单准直器:直径0.3毫米或直径0.5毫米样品台:电动升降, Z轴高限60毫米.影象系统:彩色影像系统,视野范围8X6毫米图象放大倍数:光学放大20倍.辐射安全性能:通过德国联邦物理技术研究院测试,全面安全系统腔室:高35厘米,宽40厘米,深60厘米.样品腔室:可用部分,高10厘米,宽38厘米,深37厘米.供电电源:110伏/230伏60赫兹/50赫兹X-MasteR软件:使用现代计算机技术在WINDOWS下操作软件.u-MasteR软件:用于镀层厚度测量的评价模块.Fun-MasteR软件:使用基本参数法的校正模块.Element-MasteR软件:用于20种以上元素的无标样定性和定量分析.%-MasteR软件:8种以上元素的精确定量材料分析和统计计算.Liquid-MasteR软件:电镀液分析.Data-MasteR:利于文件长期归档的数据库和统计处理软件Report-MasteR软件:用于客户建立个性化报告的软件模块.

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红外线油膜测厚仪-钢铁用

红外线油膜测厚仪-钢铁用

  • 品牌:
  • 型号: RX-210膜厚仪
  • 产地:日本
  • 仪器用途简介: 汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量 耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量 铝罐(易拉罐内壁)等有机膜涂布量的测量 彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量 其他金属上有机膜涂布量的测量技术参数: 测量方法:红外反射吸收方式(旋转过滤器方式) 测量范围:0.1~10μm 反复再现性:0.01μm以下 测量面积:518×36mm(椭圆) 尺寸・重量:100(W)×210(D)×145(H)、约1.5kg主要特点:三点定位,独特光源,精确精确再精确。 本产品深得钢铁业、铝业客户厚爱。 如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。 并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪最理想的硬件。 小型、轻量 自由携带,可测量钢板上的任意位置。 高性能 通过采用P偏光方式,即使是薄的有机膜也可测量。 内置打印机 因内部设置了打印机,数据的整理变得极为简单。

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牛津仪器COMPACT Eco测厚仪

牛津仪器COMPACT Eco测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: COMPACT Eco
  • 产地:德国
  • COMPACT Eco是利用X射线荧光进行镀层厚度测量和材料分析。能够快速无损分析以确保您的持续生产和产品质量。 COMPACT Eco镀层测厚仪是基于X-射线荧光技术,可以在无需制样的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体优势:超高的性价比;操作简单;高质量高可靠性的全日制24小时/7天操作;快速的服务响应。 无损检测只需几秒钟,位置了保证和过程控制提供单层或多层分析,能进行合金成分的定量分析,可用于优化电镀液控制的金属离子含量分析。 COMPACT Eco能够解决微小物品的微米纳米的厚度测量,不再因聚焦影响精度的傻瓜模式,原厂预做曲线,无需大量购买校正片。技术规格:测定元素范围:Ti(22) U(92)镀层和成份分析:镀层:最多同时测定5层(4层镀层+基体材料)成份:最多同时测定20种元素X射线激发:50kV、1.2mA (60W)高压发生器,微聚焦W靶X射线管探测器:封气正比计数器准直器:任选:φ0.3mm或者φ0.5mm准直器数字脉冲处理器:2048通道、数字式多道分析器数据处理系统:Intel Pentium G2030、2G RAM、500G硬盘(配置相当或者更高),19英寸TFT彩显,Windows 7 32bit操作系统相机:彩色视频系统,20倍放大倍数,图像十字线,显示标尺和X射线束尺寸,被测样品图像实时显示功能电源要求:110V、230V,60Hz/50Hz工作环境要求:10℃ - 40℃ 室温,最高98%相当湿度(无冷凝水),推荐在空调环境中使用主机重量:41公斤(不包含计算机和显示器等重量)样品台规格:240mm x 240mm样品台,程控Z轴移动距离:60mm,样品台最大承重5公斤最大样品尺寸:380mm(W) x 370mm(D) x 100mm(H)仪器外形尺寸:400mm(W) x 600mm(D) x 400mm(H)技术参数:高压发生器: 50kV, 最大电流 1.2mA, 程序控制升压X射线管:微聚焦, 优质射线管, W靶, 0.2毫米 x 0.8毫米焦斑X射线功率:根据应用优化,最大50VA单准直器:直径0.3毫米 或 直径0.5毫米样品台:电动升降, Z轴高限 60毫米.影象系统:彩色影像系统, 视野范围 8X6 毫米图象放大倍数:光学放大20倍.辐射安全性能:通过德国联邦物理技术研究院测试,全面安全系统腔室:高35厘米, 宽40厘米, 深60厘米.样品腔室:可用部分, 高10厘米, 宽38厘米, 深37厘米.供电电源:110伏/230伏 60赫兹/50赫兹X-MasteR 软件:使用现代计算机技术在WINDOWS下操作软件.u-MasteR 软件:用于镀层厚度测量的评价模块.Fun-MasteR 软件:使用基本参数法的校正模块.Element-MasteR 软件:用于20种以上元素的无标样定性和定量分析.%-MasteR 软件:8种以上元素的精确定量材料分析和统计计算.Liquid-MasteR 软件:电镀液分析.Data-MasteR:利于文件长期归档的数据库和统计处理软件Report-MasteR 软件:用于客户建立个性化报告的软件模块.

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牛津台式镀层测厚仪X-Strata920

牛津台式镀层测厚仪X-Strata920

  • 品牌:
  • 型号: X-Strata920
  • 产地:英国
  • X射线荧光分析仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。 X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了: 以更有效的过程控制来提高生产力 有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化 快速无损地分析珠宝及其他合金 快速分析多达4层镀层 经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益 操作简单,只需要简单的培训卓越的性能 快速、精确的分析:大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供最佳灵敏度 简单的元素区分:通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱 性能优化,可分析的元素范围大:X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法 卓越的长期稳定性: 自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果 例行进行简单快 速的波谱校 准,可自 动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正 坚固耐用的设计 可在实验室或生产线上操作 坚固的工业设计电子行业 电子、电气原件 有效控制生产过程,提高生产力 确保元件可靠性 同时测量焊料合金成份和镀层厚度 优化质量控制,确保产品生命期 例如: 分析导电性镀层金和钯的厚度 测量电脑硬盘上的NiP层厚度金属合金行业 金属合金成份分析和牌号认定 珠宝及其他合金的快速无损分析 贵金属合金分析 黄金纯度分析 材料鉴定五金电镀行业 电镀处理的成本最小化,产量最大化 快速简单的分析 同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析 最多可分析4层镀层 镀液成份分析

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牛津MAXXI 5 测厚仪

牛津MAXXI 5 测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: MAXXI 5
  • 产地:德国
  • MAXXI 5 是镀层测厚和材料分析的通用仪器,能提供目前最高的性价比。他们是既能满足最佳功能性,又能满足最高的检测精度的理想工具。MAXXI 5 镀层测厚仪是基于X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用,可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的Ti22到U92。MAXXI 5 的优势: 操作简单 无损检测只需几秒钟 为质量保证和过程控制提供单层或多层分析 用于优化电镀液控制的金属离子含量分析 以X射线荧光技术进行无损分析 市场上最高性价比 自动化批量检测:XYZ 应用行业:电子,珠宝,金属加工技术规格:测定元素范围:Ti(22) U(92)镀层和成份分析:镀层:最多同时测定5层(4层镀层+基体材料)成份:最多同时测定20种元素X射线激发:50kV、1.2mA (60W)高压发生器;微聚焦W靶X射线管探测器:封气正比计数器准直器:单准直器任选:φ0.2mm、φ0.3mm、φ0.5mm、0.1mm x 0.3mm多准直器程控交换:* 0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.15mm、0.1mm x 0.2mm、φ0.2mm* 0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.05mm、φ0.1mm、φ0.2mm数字脉冲处理器:2048通道、数字式多道分析器数据处理系统:Intel Pentium G2030、2G RAM、500G硬盘(配置相当或者更高),19英寸TFT彩显;Windows 7 32bit操作系统相机:彩色视频系统;20倍放大倍数;被测样品图像实时显示功能,图像十字线,显示标尺和X射线束尺寸电源要求 :110V、230V,60Hz/50Hz工作环境要求:10℃ - 40℃ 室温,最高98%相当湿度(无冷凝水);推荐在空调环境中使用主机重量 :90公斤(不包含计算机和显示器等重量)样品台规格:X-Y手动样品台:600mm x 600mm平台;最大承重25公斤;175mm或者350mm样品高度可调。X-Y程控样品台:X-Y台面尺寸300mm x 250mm;最大承重5公斤;程控距离X轴300mm、Y轴250mm。程控Z轴移动距离:180mm;可使用鼠标或者Joystick控制。最大样品尺寸:X-Y手动样品台:600mm(W) x 500mm(D) x 350mm(H)X-Y程控样品台:600mm(W) x 500mm(D) x 180mm(H)仪器外形尺寸:700mm(W) x 770mm(D) x 700mm(H)技术参数:高压发生器: 50kV, 最大电流 1.2mA, 程序控制升压X射线管:微聚焦射线管, W靶, 85微米 x 85微米焦斑,玻璃窗.X射线功率:根据应用优化,最大50VA(可选项) :微聚焦射线管, 85微米 x 85微米焦斑, 铍窗.单准直器:直径0.1毫米 或 直径0.3毫米或0.1x0.3毫米准直器交换器:4个位置, 自动可编程控制.(可选项):从60x60微米到直径300微米, 或客户指定.样品台(可选项):a)自动程控台面X轴300毫米, Y轴250毫米, Z轴180毫米, 易装载,最大载荷5千克.b)自动程控台面X轴300毫米, Y轴250毫米, Z轴180毫米,最大载荷20千克.样品定位:游戏杆定位, 任意方向移动, 激光辅助定位,自动聚焦.影象系统:彩色影像系统, 视野范围 2x1.5 毫米 和 4x3毫米图象放大倍数:放大40倍和80倍.辐射安全性能:通过德国联邦物理技术研究院测试,全面安全系统腔室:高67厘米, 宽60厘米, 深75厘米. 腔体开槽设计.样品腔室:最大可用部分, 高35厘米, 宽60厘米, 深50厘米.供电电源:110伏/230伏 60赫兹/50赫兹X-MasteR 软件:使用现代计算机技术在WINDOWS下操作软件.u-MasteR 软件:用于镀层厚度测量的评价模块.Fun-MasteR 软件:使用基本参数法的校正模块.Element-MasteR 软件:用于20种以上元素的无标样定性和定量分析.%-MasteR 软件:8种以上元素的精确定量材料分析和统计计算.Liquid-MasteR 软件:电镀液分析.Data-MasteR:利于文件长期归档的数据库和统计处理软件Report-MasteR 软件:用于客户建立个性化报告的软件模块.

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X射线荧光镀层厚度测量SFT9500

X射线荧光镀层厚度测量SFT9500

  • 品牌: 日立
  • 型号: SFT9500
  • 产地:日本
  • X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器,在测量镀层厚度的同时,也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。 1.X射线发生系统采用了聚光导管 由于采用了X射线聚光导管方式,可得到以往十倍以上的X射线强度,从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。 2.无需液氮的半导体检测器 在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时,高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率,而且可以实现高计数率。同时,由于使用了电子冷却方式,所以无需液氮。 3.能谱匹配软件(选配件) 可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。 4.块体检量线软件(适用于电镀液分析) (选配件) 可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。 5.绘图软件(选配件) 将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。 6.电镀液容器(选配件) 7.各种标准物质(选配件) [主要产品规格] 可测量元素 原子序数13(Al)~83(Bi) X射线聚光 聚光方式 X射线源 管电压 50kV 管电流 1mA 检测器 Vortex检测器(无需液氮) 分析范围 Φ0.1mm、Φ5mm 样品观察 彩色CCD摄像头(附变焦功能) 滤波器 3种模式自动切换 样品平台 240(W)×330(D)mm 移动量 X:220mm Y:150mm Z:150mm 载重量 10kg 重量 123kg(不含电脑) X-ray Station 台式电脑 19"LCD (OS; Microsoft-Windows XP) 膜厚测量软件 薄膜FP法(最多五层,各层十种元素) 检量线法(单层、双层、合金膜厚成分) 定量分析功能 块体FP法 统计处理功能 Microsoft-EXCEL 报告制作 Microsoft-WORD 安装环境 温度:10℃~35℃(±)5℃ 湿度:35%~80% 使用电源 接地三头插座 AC100、15A

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美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: BA-100
  • 产地:美国
  • 产品描述:美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。美国博曼(Bowman)镀层测厚仪即使在客户遇到最严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。性能与可操作性的最优化●紧凑式设计,改善效率和精度●高分辨半导体固态探测器(Si-PIN),提高稳定性和灵敏度●更短的预热时间,更长寿命的光管●多种规格一次滤波器和准直器●可变焦距适应复杂样品的测量需求●模块化设计,方便维修、维护简单的设计、强大的分析能力●快速、无损的分析●成份分析最多可达25种元素●同时可最多分析5层●基于基本参数法的镀层和成份分析方法●仅需一根USB线与电脑连接●快捷的面板控制按钮●占用空间小、轻量化设计直观的用户界面●最大的分析灵活性,减少用户出错机会●基于Net framework框架的Xralizer软件●直观的图标引导用户界面●强大的定性、无标样分析功能●功能强大的标准片库●用于快速分析的可定制快捷键●灵活的数据显示与导出 ●强大的报告编辑生成器应用领域: 常见的镀层应用: 汽车 Cr/Ni/Cu/ABS Zn/Fe 线路板 Au/ENi/CuPCB(ENIG) Ag或Sn/CuPCB 引线框架和连接器 Au/Pd/Ni/Cu Alloys Au/Ni/Ni/Fe 紧固件 ZnFe/Fe ZnNi/Fe 切削工具 TiCN/WCo TiAlN/WC 五金和管道固定装置 Ni/Cu Cr/Ni/Cu/Zn 通讯和数据储存设备 NiP/Al 珠宝、贵金属 10,14,18Kt 元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等

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MAXXI Eco X射线荧光镀层测厚仪

MAXXI Eco X射线荧光镀层测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: MAXXI Eco
  • 产地:德国
  • MAXXI Eco是利用X射线荧光进行镀层厚度测量和材料分析。可以在无需制样的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体,能够解决微小物品的微米纳米的厚度测量,不再因聚焦影响精度的傻瓜模式,原厂预做曲线,无需大量购买校正片。技术规格:测定元素范围:Ti(22)U(92)镀层和成份分析:镀层:最多同时测定5层(4层镀层+基体材料)成份:最多同时测定20种元素X射线激发:50kV、1.2mA (60W)高压发生器,微聚焦W靶X射线管探测器:封气正比计数器准直器:任选:φ0.3mm或者φ0.5mm数字脉冲处理器:2048通道、数字式多道分析器数据处理系统:Intel Pentium G2030、2G RAM、500G硬盘(配置相当或者更高),19英寸TFT彩显,Windows 7 32bit操作系统相机:彩色视频系统,20倍放大倍数,图像十字线,显示标尺和X射线束尺寸,被测样品图像实时显示功能电源要求:110V、230V,60Hz/50Hz工作环境要求:10℃-40℃室温,最高98%相当湿度(无冷凝水),推荐在空调环境中使用主机重量:46公斤(不包含计算机和显示器等重量)样品台规格:240mm x 240mm样品台,程控Z轴移动距离:100mm;可选配小样品适配器,样品台最大承重5公斤最大样品尺寸:470mm(W) x 500mm(D) x 170mm(H)仪器外形尺寸:550mm(W) x 680mm(D) x 550mm(H)MAXXI Eco优势:●超高的性价比●操作简单●高质量高可靠性的全日制24小时/7天操作●快速的服务响应。●无损检测只需几秒钟,为质量保证和过程控制提供单层或多层分析,能进行合金成分的定量分析,可用于优化电镀液控制的金属离子含量分析。技术参数:高压发生器:25-50kV,最大电流1.2mA,程序控制升压X射线管:微聚焦,优质射线管X射线功率: 25-50kV,根据应用优化,最大50VA单准直器: 0.1毫米,0.2毫米,0.3毫米样品台:手动或自动影象系统:彩色影像系统,视野范围8X6毫米图象放大倍数:光学放大20倍,数码缩放2倍辐射安全性能:通过德国联邦物理技术研究院测试,全面安全系统腔室:高55厘米,宽53厘米,深53/49厘米.供电电源: 110伏/230伏60赫兹/50赫兹X-MasteR软件:使用现代计算机技术在WINDOWS下操作软件.u-MasteR软件:用于镀层厚度测量的评价模块.Fun-MasteR软件:使用基本参数法的校正模块.Element-MasteR软件:用于20种以上的元素定性识别.%-MasteR软件: 8种以上元素的定量材料分析Liquid-MasteR软件:电镀液分析.Data-MasteR:利于文件长期归档的数据库和统计处理软件Report-MasteR软件:用于客户建立个性化报告的软件模块.

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天瑞仪器 Thick 800AX荧光测厚光谱仪

天瑞仪器 Thick 800AX荧光测厚光谱仪

  • 品牌: 江苏天瑞
  • 型号: Thick 800A
  • 产地:
  • 仪器介绍 Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 一次可同时分析最多24个元素,五层镀层。分析含量一般为2ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm重量:90 kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机应用领域黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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韩国ISP测厚仪,膜厚仪iEDX-150UT

韩国ISP测厚仪,膜厚仪iEDX-150UT

  • 品牌:
  • 型号: iEDX-150UT
  • 产地:韩国
  • iEDX-150UT是韩国原装进口设备,采用开放式样品腔。专业用于电镀镀层分析、PCB镀层厚度分析,同时兼容ROHS 无卤 重金属分析。高精度测试标准,高效分析有害元素的成分比例。TFFP软件主界面最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢止斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可在+/-0.02%,贵金属(8-24Karat)分析精度可达+/-0.05kt对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。技术指标:1、多镀层,1-6层;2、超高测试精度;3、元素分析范围从铝(Al)到铀(U);4、测量时间:5-60秒;5、SDD探测器,能量分辨率为125电子伏特;6、微焦X射线管50KV/1mA;7、焦斑尺寸75um;8、7个准直器及6个滤光片自动切换;9、XYZ三维移动平台,极限荷载为5KG;10、高清CCD摄像头,准确监控位置;11、多变量非线性去卷积曲线拟合;12、高性能FP/MLSQ分析;13、平台尺寸:700×580×25mm;14、仪器尺寸:475×787×375mm;15、加入安全防射线光闸,样品室门开闭传感器;16、可提供对样品的自动和编程控制,多点自动测量。图谱界面:1、软件支持无标样分析;2、超大分析平台;3、可自动连续多点分析;4、集成了镀层界面和合金成分分析界面;5、采用先进的多种光谱拟合分析处理技术。分析报告结果:1、直接打印分析报告;2、报告可转换为PDF、EXCEL和HTML格式

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牛津MAXXI Eco测厚仪

牛津MAXXI Eco测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: MAXXI Eco
  • 产地:德国
  • MAXXI Eco是利用X射线荧光进行镀层厚度测量和材料分析。能够快速无损分析以确保您的持续生产和产品质量。MAXXI Eco镀层测厚仪是基于X-射线荧光技术,可以在无需制样的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体优势:超高的性价比;操作简单;高质量高可靠性的全日制24小时/7天操作;快速的服务响应。无损检测只需几秒钟,位置了保证和过程控制提供单层或多层分析,能进行合金成分的定量分析,可用于优化电镀液控制的金属离子含量分析。MAXXI Eco能够解决微小物品的微米纳米的厚度测量,不再因聚焦影响精度的傻瓜模式,原厂预做曲线,无需大量购买校正片。技术规格:测定元素范围:Ti(22) U(92)镀层和成份分析:镀层:最多同时测定5层(4层镀层+基体材料)成份:最多同时测定20种元素X射线激发:50kV、1.2mA (60W)高压发生器,微聚焦W靶X射线管探测器:封气正比计数器准直器:任选:φ0.3mm或者φ0.5mm数字脉冲处理器:2048通道、数字式多道分析器数据处理系统:Intel Pentium G2030、2G RAM、500G硬盘(配置相当或者更高),19英寸TFT彩显,Windows 7 32bit操作系统相机:彩色视频系统,20倍放大倍数,图像十字线,显示标尺和X射线束尺寸,被测样品图像实时显示功能电源要求:110V、230V,60Hz/50Hz工作环境要求:10℃ - 40℃ 室温,最高98%相当湿度(无冷凝水),推荐在空调环境中使用主机重量:46公斤(不包含计算机和显示器等重量)样品台规格:240mm x 240mm样品台,程控Z轴移动距离:100mm;可选配小样品适配器,样品台最大承重5公斤最大样品尺寸:470mm(W) x 500mm(D) x 170mm(H)仪器外形尺寸:550mm(W) x 680mm(D) x 550mm(H)技术参数:高压发生器:25-50kV, 最大电流 1.2mA, 程序控制升压X射线管: 微聚焦, 优质射线管X射线功率: 25-50kV, 根据应用优化,最大50VA单准直器: 0.1毫米,0.2毫米,0.3毫米样品台: 手动或自动影象系统: 彩色影像系统, 视野范围 8X6 毫米图象放大倍数: 光学放大20倍, 数码缩放2倍辐射安全性能: 通过德国联邦物理技术研究院测试,全面安全系统腔室: 高55厘米, 宽53厘米, 深53/49厘米.供电电源: 110伏/230伏 60赫兹/50赫兹X-MasteR 软件: 使用现代计算机技术在WINDOWS下操作软件.u-MasteR 软件: 用于镀层厚度测量的评价模块.Fun-MasteR 软件: 使用基本参数法的校正模块.Element-MasteR 软件: 用于20种以上的元素定性识别.%-MasteR 软件: 8种以上元素的定量材料分析Liquid-MasteR 软件: 电镀液分析.Data-MasteR: 利于文件长期归档的数据库和统计处理软件Report-MasteR 软件: 用于客户建立个性化报告的软件模块.

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50KV XRW50P50荧光镀层测厚仪高压电源(兼容Oxford牛津/Varian瓦里安 光管)

50KV XRW50P50荧光镀层测厚仪高压电源(兼容Oxford牛津/Varian瓦里安 光管)

  • 品牌: 西安威思曼
  • 型号: XRW
  • 产地:
  • 【型  号】 XRW 【功率(W)】 50W,65W,75W,100W 【最大输出电压(kV)】 ,20,25,30,35,40,50,60,65, 【在线订购】 【在线下载】 典型应用: 厚度检测 X射线透视 粒度检测 密度测量 纸张成份检测 PCB外观检查机 晶体检测 X-RAY检查机 PCB钻靶机 威思曼 XRW 系列高压电源是 X 光射线管专用电源,这种电源提供正高压或负高压。它集成了输 出直流电压 5.5V ,电流 0.3A 到 3A 可调的带有预热功能的灯丝电源。高压和灯丝电流可实现线 性平稳上升。XRW 系列电源还可以外接电位器实现输出电压和电流的远程控制,并且具有外接电压和 电流显示、高压输出端过压和拉弧、短路保护、安全互锁等功能。可选用USB2.0、RS-232、RS-422 通讯。 典型应用: Kevex, Oxford, RTW, Superior, Varian and Trufocus等全球各品牌的 X 射线管。 可选功能:OPTION BIAS 偏置电源 USBUSB串口通讯 RS232 RS-232串口通讯 RS422 RS-422串口通讯。 NAT 拉弧保护,不关机 AT(X) 拉弧保护,关机(可选1-8弧关机) 规格说明: 输入: 50或75瓦特产品, 24Vdc±10% , 5A最大。 100瓦特产品,24Vdc±10% ,8A最大。 输出: 见“XRW选型表”。 电压控制: 电源内部:电源自带的多圈电位器可将输出电压设置在 0V 到最高电压之间。 外部遥控:外部 0 到 10V 控制信号可将输出从0V 调到最高输出电压 发射控制: 电源内部:电源自带的多圈电位器可将电子束电流设置在 0A 到最高电流。 外部遥控:外部 0 到 10V 控制信号可将电子束电流设置在 0A 到最高电流。 直流灯丝电源: 输出电流为 3.5A 可调,电压为 5.5V,有灯丝预热功能。 电压调整率: 相对负载:0.01%(空载到额定负载) 相对输入:±0.01%(输入电压变化为±10%) 电流调整率: 相对负载:0.01%(空载到额定负载) 相对输入:±0.01%(输入电压变化 ±10%)。 纹波电压: 输出电压的 0.25%p-p。 环境温度: 0 到 +50℃。 温度系数: 每摄氏度 0.01%。 稳定度: 开机半小时后每 8 小时小于 0.05%。 电压电流指示: 0 到 +10V,额定输出条件下精度为 1%。 外形尺寸: 5.51”H x 3.35”W x 9.45”D (140.0mm x 85.0mm x240.0mm) ROHS检测仪、XRF测试仪:替代XRM50P50X3839,XRM50P50X3768,XRM50P50X3491,XRM50P50X3465, 在线元素分析:替代XRM50P50X2871,XRM50P50X2810,XRM50P50X3830, 有关威思曼及其更多高压产品的信息,请致电 086-029-33693480或访问其网站: www.wismanhv.com 威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证,公司拥有出色的高压电源研发团队,完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术,完善的零电流谐振技术,使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小,损耗小,效率高,长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力,是OEM应用的理想选择。 威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商,同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器,实验室以及海底光纤等设备。集设计,生产和服务为一体的工厂分布于美国,英国,及中国等地,并且我们销售中心遍布于欧洲,北美洲以及亚洲,我们将竭诚为您服务!

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MAXXI 5 X射线荧光镀层测厚仪

MAXXI 5 X射线荧光镀层测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: MAXXI 5
  • 产地:德国
  • MAXXI 5 是镀层测厚和材料分析的通用仪器,能提供目前最高的性价比。他们是既能满足最佳功能性,又能满足最高的检测精度的理想工具。MAXXI 5 镀层测厚仪是基于X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用,能分析固体和液体,可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。 技术规格:测定元素范围:Ti(22) U(92)镀层和成份分析:镀层:最多同时测定5层(4层镀层+基体材料) 成份:最多同时测定20种元素X射线激发:50kV、1.2mA (60W)高压发生器;微聚焦W靶X射线管探测器:封气正比计数器准直器:单准直器任选:φ0.2mm、φ0.3mm、φ0.5mm、0.1mm x 0.3mm 多准直器程控交换: * 0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.15mm、0.1mm x 0.2mm、φ0.2mm * 0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.05mm、φ0.1mm、φ0.2mm数字脉冲处理器:2048通道、数字式多道分析器数据处理系统:Intel Pentium G2030、2G RAM、500G硬盘(配置相当或者更高),19英寸TFT彩显;Windows 7 32bit操作系统相机:彩色视频系统;20倍放大倍数;被测样品图像实时显示功能,图像十字线,显示标尺和X射线束尺寸电源要求 :110V、230V,60Hz/50Hz工作环境要求:10℃ - 40℃ 室温,最高98%相当湿度(无冷凝水);推荐在空调环境中使用主机重量 :90公斤(不包含计算机和显示器等重量)样品台规格:X-Y手动样品台:600mm x 600mm平台;最大承重25公斤;175mm或者350mm样品高度可调。 X-Y程控样品台:X-Y台面尺寸300mm x 250mm;最大承重5公斤;程控距离X轴300mm、 Y轴250mm。 程控Z轴移动距离:180mm;可使用鼠标或者Joystick控制。最大样品尺寸:X-Y手动样品台:600mm(W) x 500mm(D) x 350mm(H)X-Y程控样品台:600mm(W) x 500mm(D) x 180mm(H)仪器外形尺寸:700mm(W) x 770mm(D) x 700mm(H)MAXXI 5 的优势:●操作简单●无损检测只需几秒钟● 为质量保证和过程控制提供单层或多层分析●用于优化电镀液控制的金属离子含量分析●以X射线荧光技术进行无损分析●市场上最高性价比●自动化批量检测:XYZ● 应用行业:电子,珠宝,金属加工技术参数:高压发生器: 50kV, 最大电流 1.2mA, 程序控制升压X射线管:微聚焦射线管, W靶, 85微米 x 85微米焦斑,玻璃窗.X射线功率:根据应用优化,最大50VA(可选项) :微聚焦射线管, 85微米 x 85微米焦斑, 铍窗.单准直器:直径0.1毫米 或 直径0.3毫米或0.1x0.3毫米准直器交换器:4个位置, 自动可编程控制.(可选项):从60x60微米到直径300微米, 或客户指定.样品台(可选项):a)自动程控台面X轴300毫米, Y轴250毫米, Z轴180毫米, 易装载,最大载荷5千克. b)自动程控台面X轴300毫米, Y轴250毫米, Z轴180毫米,最大载荷20千克.样品定位:游戏杆定位, 任意方向移动, 激光辅助定位,自动聚焦.影象系统:彩色影像系统, 视野范围 2x1.5 毫米 和 4x3毫米图象放大倍数:放大40倍和80倍.辐射安全性能:通过德国联邦物理技术研究院测试,全面安全系统腔室:高67厘米, 宽60厘米, 深75厘米. 腔体开槽设计.样品腔室:最大可用部分, 高35厘米, 宽60厘米, 深50厘米.供电电源:110伏/230伏 60赫兹/50赫兹X-MasteR 软件:使用现代计算机技术在WINDOWS下操作软件.u-MasteR 软件:用于镀层厚度测量的评价模块.Fun-MasteR 软件:使用基本参数法的校正模块.Element-MasteR 软件:用于20种以上元素的无标样定性和定量分析.%-MasteR 软件:8种以上元素的精确定量材料分析和统计计算.Liquid-MasteR 软件:电镀液分析.Data-MasteR:利于文件长期归档的数据库和统计处理软件Report-MasteR 软件:用于客户建立个性化报告的软件模块.

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美国博曼(Bowman)BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

美国博曼(Bowman)BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

  • 品牌:
  • 型号: BA-100 Optics
  • 产地:美国
  • 产品描述:美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。Bowman BA-100 Optics 机型采用业界最先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应最严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的最佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。稳定的X射线管●微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选); 小于100um的测量斑点●射线出射点预置于射线管Be窗正中央●长寿命的射线管灯丝●独有的预热和ISO温度适应程序多毛细管聚焦光学结构●显著提高X射线信号强度●获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度●小于100um直径的测量斑点 ●经过验证,接近完美的测量精度应用领域:常见的镀层应用: PCB行业 Au/Pd/Ni/Cu/PCB引线框架 Ag/Cu Au/Pd/Ni/CuFe半导体行业 Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材线材 Sn/Cu珠宝、贵金属 10,14,18Kt元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等

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X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110

X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110

  • 品牌: 日立
  • 型号: STF-110
  • 产地:日本
  • 1.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置! [SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。 [主要产品规格] 检测器 比例计数管 X射线源 空冷式小型X射线管 准直器 0.1、0.2mmφ2种 样品观察 CCD摄像头 样品台移动量 250(X)×200(Y)mm 样品最大高度 150mm

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德国菲希尔射线测试仪

德国菲希尔射线测试仪

  • 品牌:
  • 型号: X-Ray XAN-DPP
  • 产地:德国
  • 【产品名称】 菲希尔 X-Ray XAN-DPP射线测试仪 【产品型号】 X-Ray XAN-DPP 【备  注】 Fischerscope X-Ray XAN-DPP Fischerscope X-Ray XAN-DPP详细资料 FISCHERSCOPE X-RAY 型号 订 货 号 XAN-DPP 603-862 测量头图片; 初级X-射线测量方向 (↑↓) 超快数字脉冲处理器 测量台固定 测量头外部尺寸 宽 380 mm 深 576 mm 高 340 mm 测量箱有效内部尺寸 包含测量门斜面部分的尺寸: 宽 = 318 mm; 深 = 307 mm; 高 = 29 至 86 mm 仅包含完整高度部分的尺寸 (高:86 mm): 宽 = 318 mm; 深 = 203 mm; 高 = 86 mm 测量头设计 完全关闭,向上开启,金属测量门 测量头重量 约 42 kg 测量台设计有效尺寸 固定式测量台 有效尺寸:参见“测量箱有效内部尺寸” 透明及可更换薄膜的嵌入式支撑台,用于X-射线光束的自由通过和测量点的查看 测量台载入和工件定位 工件直接放置在支撑台上 通过影像手动定位 测量头按键 2 个按键:Start,stop 测量台最大工件重量 2 kg 测量点的影像控制 高分辨率的彩色摄像头 专利的光学路径设计使得具有独特的测量点垂直查看 WinFTM 主窗口的画中画查看功能 实际测量点的影像尺寸(不是视准器的尺寸)带有与实际尺寸相一致的十字线刻度,这样就可以精确定位 十字线刻度 和测量点尺寸指示。在任何测量距离下测量点和测量位置都可以获得与实际尺寸相一致的影像显示。通过影像屏幕上的控制条可以进行亮度控制 型号 订货号 XAN-DPP 603-862 图像放大倍率 光学:20x 至 45x 附加数字放大倍率 1x, 2x, 3x 4x 数据传输至17” TFT-显示器 测量点聚焦 转动把手进行光学聚焦 测量距离修正方法 专利的DCM-方法 (Distance Controlled Measurement距离控制测量) 允许工件表面凹陷处的测量 (参见示意图) 该方法适用于整个Md-范围 (参见“测量距离”/ 有效聚焦范围”)。 测量值根据测试点聚焦后的测量距离Md 进行数学修正。专利号:US 6,038,280 (美国专利); UK GB 2323164 B (英国专利); 法国 (No. de publication 2760833, No. d’enregistrement national 9803095); 德国 (No. 19710420). 可用聚焦范围 测量距离 Md 测量距离 Md (校准过的范围): 0 mm ≤ Md ≤ 22 mm 测量距离 Md (未校准过的范围): 22 mm ≤ Md ≤ 25 mm X-射线高压 可调节至最优应用:10 kV; 30 kV; 50 kV. 可靠的高压发生器:连续测量时,高压发生器严格控制电压和X-射线阳极电流在限制的范围之内以保证高稳定性。由于高超的散热设计,足够的容量空间,即使在连续测量时也可以持续以最高性能产生高压。

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镀层测厚仪-MAXXI 6

镀层测厚仪-MAXXI 6

  • 品牌:
  • 型号: MAXXI 6
  • 产地:德国
  • MAXXI 6镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析,确保产品质量的一致性和高品质。1、高分辨率的硅漂移器(SDD)2、开槽式超大样品舱设计3、8个准直器4、USB接口与计算机连接我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱,针对较薄而复杂的样品,具有完美的解决方案。MAXXI 6可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。亮点1、采用微聚焦X射线光管,实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低2、采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的最佳效率,极低的检出限(LOD)3、多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率4、开槽式超大样品舱设计,十分适合电路板或其他超大平板样品5、“USB接口”只需通过USB与计算机连接,无需额外的硬件或软件6、德国制造,符合最高工程标准,坚固耐用的设计可实现长期可靠性7、通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证,满足最高辐射安全标准性能及符合性1、最多同时测定5层,15种元素及共存元素的校正2、同时实现多于25种元素的定量分析3、检测方法通过ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等认证开槽式大样品台1、可编程的XY样品台2、样品腔体积:500 × 450 × 170 mm3、创新的防撞设计可编程的样品台1、预定位激光技术2、最大化的样品台行程范围及速度3、自动测量软件及校准1、基于WindowsTM 7操作系统,直观的软件MaxxControl2、选择经验校准以实现最大准确性或选择FP无标样模式以轻松实现校准3、成分分析:可自由选择元素;厚度测量:可自定义镀层结构4、对RoHS和贵金属进行工厂预装校准(可选)

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菲希尔荧光光谱仪

菲希尔荧光光谱仪

  • 品牌:
  • 型号: X-RAY XAN® 150
  • 产地:德国
  • 产品名称】 菲希尔 X-RAY XAN 150荧光光谱仪 【备  注】 FISCHERSCOPE X-RAY XAN 150是一部多功能的能量分析光,特合用於非破 品下量的厚度及物料成份的量。 FISCHERSCOPE X-RAY XAN 150 是一部十分易操作的桌面式量器,品位十分、快捷,器的 X-RAY 射管及接收器都是安在器的底部,X-RAY 射通透明照射至品的底部,再配合利的 DCM 算功能便可以量一些不平或甚至曲的品,操作只需要需要量的位置,之後再量定焦,器便可以到不同的量距,再在量厚度作出算上的。置的影像微,可以清楚示及放大高至184倍的影像,及影像也包括了量的位置十字及量的大小。 在整上,易用的件WinFTM,使量的所有十分清楚示出。XAN 150 光是用完全密封式的器,符合德的出口定 8222;DeutscheRntgenverordnung-RV“。 菲希尔 X-RAY XAN 150荧光光谱仪一般技格 使用的 能量散式的 x-射光用於量十分薄的膜厚度,在合金中量不同元素的含量。 元素的 Al (13) 至 U (92) - 同多至24 元素。 桌面式,量室的是向上打的。 量的方向 由底向上照射 X-射源 X-射 管 微焦距管及用金射窗口 高可 10 kV, 30 kV, 50 kV 光束 大小 4x 可更的 0.2 mm, 0.6 mm, 1 mm, 2 mm, 或是可要求其他大小 基本 片 6x 可更的(Ni; ; Al 1000 μm; Al 500 μm; Al 100 μm; 密拉100 μm) 量 由直器的孔至品面的量距定的,的量大小示在品影像中的 十字中位示出。 最小的量大小 0.3 mm 量距 0 ... 25 mm, 利的DCM算方法,在已校正的。 X-射的接收 X-射的接收器 硅元素偏移式接收器配合置的制冷功能 解像度 ≤ 150 eV (fwhm 在Mn-Kα算) 品的定位 摄像镜头 高解像的 CCD 彩色影安在X射的同一上,所以可以在量中很的示 量的位置。 位的十字及示量 的大小是可以校正其刻度 品光的照明是使用可光度i 的 LED 放大倍率 34x ... 184x (光: 34 x… 46x; : 1x, 2x, 3x, 4x) 品的量台 固定的量台 可使用品的面 318 x 327 mm 最重的品重量 2 kg 最高的品高度 86 mm 源的要求 、率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz 耗功率 最大120 W ( 不算PC部分) 保 IP 40 菲希尔 X-RAY XAN 150荧光光谱仪尺寸 外尺寸 x 深 x 高 [mm]: 380 x 576 x 340 部量室尺寸 x 深 x 高 [mm]: 合共: 318 x 307 x 29 86 不算斜面面: 318 x 203 x 86 重量 42 kg 境件 度: 工作 10°C 40 °C / 50 °F 104 °F 度: 存/0 °C 50 °C / 32 °F 122 °F 境度 ≤ 95 %, 不凝 算器 Windows PC 可加插充路板 件 基本: Fischer WinFTM BASIC + PDM 可配: Fischer WinFTM SUPER CE EN 61010 X-射 DIN ISO 3497 及 ASTM B 568 可 符合德家8222;Deutsche Rntgenverordnung-RV“

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菲希尔光谱仪

菲希尔光谱仪

  • 品牌:
  • 型号: X-RAY XDAL
  • 产地:德国
  • 【产品名称】 菲希尔 X-RAY XDAL光谱仪 【备  注】 菲希尔 X-RAY XDAL光谱仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 是一款适用于大批量材料分析的X-射线光谱仪。 由于可检测元素范围宽至从铝到铀,使得FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 的应用范围延伸至从工业到科学领域。无论分析应用于冶金上的,地质上的,石化上的还是其它种类的材料,FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 都是一款强有力的和经济的光谱仪。 内置的彩色视频头使得X-射线光束快速和精确地定位于被测工件上需要分析的范围。该仪器所提供的性能和特征的集合是在同样价格范围内的材料分析仪中无法找寻到的。 大测量箱,可编程的X-Y工作台,X-射线从上往下的设计,X-射线发生管和接受器装配系统的Z-轴运行使得设备非常适合于几个被测物体的编程测量和扫描较大工件。 独特的WinFTM V6 i软件是该仪器的核心。它可以分析多达24种元素的材料,无须校验标准块,带预估测量精度,以及测量非常复杂的镀层系统。 菲希尔 X-RAY XDAL光谱仪 FISCHERSCOPE X-RAY XAN FISCHERSCOPE X-RAY XDAL FISCHERSCOPE X-RAYXDV-SD 测量方向 从下到上 从上到下 从上到下 X射线管为微聚焦管,带铍窗口 √ √ √ 高压可调:10kV;30kV;50 kV √ √ √ 开槽测量室 √ 准直器个数:4 √ √ √ Z轴 无 可编程 可编程 测试台类型 固定工作台 可编程XY工作台 可编程XY工作台 测试点放大倍数 34 -184倍 20 -180倍 20 -180倍 WinFTM 版本 V6:基本型,带PDM WinFTM Super可选 V6:基本型,带PDM WinFTM Super可选 V6:基本型,带PDM 操作系统:Windows XP专业版 √ √ √ Amount of primary filters 2 2 6 Digital pulse processor optional standard

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电镀厚度测量仪,电镀镀层分析仪iEDX-150T

电镀厚度测量仪,电镀镀层分析仪iEDX-150T

  • 品牌:
  • 型号: iEDX-150T-2
  • 产地:韩国
  • iEDX-150T是中韩合资生产的仪器,采用超大样品腔,专业用于金属电镀镀层厚度分析,可同时分析镀层中的合金成分比例。镀层厚度分析软件,RoHS分析软件?采用业界最先进的基本参数法(FP)?RoHS/WEEE/ELV无损检测Cr、Pb、Hg、Cd、Br定量分析,共存元素的定量分析u可同时分析20种元素,频谱比较u减法运算和配给u智能背景滤波器u有多种分析计算数学模型,方便对不同材料,不同样品的分析测量u可制作多条工作曲线,各个曲线u测试条件独立,方便测试应用领域:金属电镀镀层分析领域图谱界面:1、软件支持无标样分析;2、超大分析平台和样品腔;3、集成了镀层界面和合金成分分析界面;4、采用先进的多种光谱拟合分析处理技术;5、分析精度可达到0.01um.技术指标:1、多镀层,1-6层;2、超高测试精度;3、元素分析范围从铝(Al)到铀(U);4、测量时间:10-60秒;5、SDD探测器,能量分辨率为125电子伏特;6、微焦X射线管50KV/1mA;7、焦斑尺寸75um;8、7个准直器及6个滤光片自动切换;9、XYZ三维移动平台,极限荷载为20KG;10、高清CCD摄像头,精准监控位置;11、多变量非线性去卷积曲线拟合;12、高性能FP/MLSQ分析;13、平台移动范围:100(X)×150(Y)×90(Z)mm;14、仪器尺寸:526×637×484mm;分析报告结果:1、直接打印分析报告;2、报告可转换为PDF、EXCEL和HTML格式

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