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Kurabo NR2100 油膜测厚仪(汽车、冷轧板)
品牌:日本仓纺
型号:NR 2100
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F10-RT
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德国BMT 964 AQ高浓度臭氧在水中的传感器
品牌:德国BMT
型号:964 AQ
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德国BMT 964 AQ-LC臭氧在洁净的水传感器
品牌:德国BMT
型号:964 AQ-LC
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德国BMT 932臭氧检测仪
品牌:德国BMT
型号:932
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F40薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F40
- 产地:美国
Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行,或者其他应用要求光斑小至1微米时,F40是不错的选择。
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F10-RT
- 产地:美国
以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F10-HC
- 产地:美国
F10-HC现在能够执行自动化基准矫正以及设置自己的积分时间这个方法不需要频繁的执行基准矫正就可以让使用者立即的执行样本的测量 。
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Filmetrics F20 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20-UV/F20-UVX/F20/F20-EXR/F20
- 产地:美国
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。
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Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F40-UV/F40-UVX/F40/F40-EXR/F40
- 产地:美国
Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。
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NanoCalc薄膜反射光谱仪系统
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: NanoCalc
- 产地:美国
NanoCalc 薄膜反射测量系统薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250μm的膜厚分析测量,对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同,可以分析单层或多层膜厚。产品特点可分析单层或多层薄膜分辨率达0.1nm适合于在线监测操作理论最常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和投射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。查找n和k值可以进行多达三层的薄膜测量,薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc
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薄膜测厚仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-WLS
- 产地:美国
薄膜测厚仪仪器简介:提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。膜厚仪主要特点:◆微观二维(2D)和三维(3D
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台阶仪台阶测量仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-1000WLI(1)
- 产地:美国
仪器简介:台阶仪该款台阶仪提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。台阶仪主要特点: ◆微观二维
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膜厚仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-1000WLI(0)
- 产地:美国
NanoMap-1000WLI 膜厚仪仪器简介:该膜厚仪提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。主要特点:
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三维白光干涉仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP-WLI
- 产地:美国
白光干涉测量系统沿着垂直轴向捕获光强数据,通过白光干涉图的形状,局部相位或者两者结合确定表面位置 Vertical Resolution 垂直分辨率 0.1nm 0.1nm Turret 转轮 upto 6 objective turret (manual or automatic) 6镜头转轮(自动或手动) Scan Rang
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美国Rtec三维形貌仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP- 3D
- 产地:美国
美国Rtec三维形貌仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦,白光共焦,拉曼光谱仪等,可以把这些设备自由组合在一起,以实现客户的不同需求特点:快速直观的操作较高的计算程序,精确的高测量速度和简便的操作软件,使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜带有6物镜转轮,包括多个物镜:长焦,短焦,不同数值孔径,投射镜头等电子器件先进的控制器,低机械噪声,自校准系统,可选波长,64位并行处理器,标准分辨率达到1
- 白光干涉测厚仪
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