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Kurabo NR2100 油膜测厚仪(汽车、冷轧板)
品牌:日本仓纺
型号:NR 2100
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F10-RT
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德国BMT 964 AQ高浓度臭氧在水中的传感器
品牌:德国BMT
型号:964 AQ
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德国BMT 964 AQ-LC臭氧在洁净的水传感器
品牌:德国BMT
型号:964 AQ-LC
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德国BMT 932臭氧检测仪
品牌:德国BMT
型号:932
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Kurabo NR2100 油膜测厚仪(汽车、冷轧板)
- 品牌:日本仓纺
- 型号: NR 2100
- 产地:日本
仪器用途简介:汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量铝罐(易拉罐内壁)等有机膜涂布量的测量彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量其他金属上有机膜涂布量的测量技术参数:测量方法:红外反射吸收方式(旋转过滤器方式)测量范围:0.1~10μm反复再现性:0.01μm以下测量面积:518×36mm(椭圆)尺寸・重量:100(W)×210(D)×145(H)、约1.5kg主要特点:三点定位,独特光源,精确精确再精确。本产品深得钢铁业、铝业客户厚爱。如果把红外线照射到被测物上
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薄膜厚度测量仪ST2000-DLXn
- 品牌:南京科美
- 型号: ST2000-DLXn
- 产地:韩国
仪器简介: 1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。 技术参数: 活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 测量范围 200~ 35(根据膜的类型) 光斑尺寸 20 典型值 测量速度 1
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薄膜厚度测量仪
- 品牌:南京科美
- 型号: ST4000-DLX
- 产地:韩国
仪器简介: 1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。 技术参数: 活动范围 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12") 测量范围 100~ 35(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40/20, 4(option) 测量
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OSP测量仪
- 品牌:南京科美
- 型号: ST4080-OSP
- 产地:韩国
仪器简介:1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。技术参数:波长范围 420nm ~ 640nm 厚度测量范围 350 ~ 3 最小光斑尺寸 1.35, 0.135 目标面积 864X648 / 86.4X64.8 物镜转动架 5X(spot size 20), 50X(spot size 0.2)
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反射式膜厚测量仪
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号:
- 产地:日本
产品特点: ?非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。?高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率,k消光系数)。?宽阔的波长测量范围。(190nm-1100nm)?薄膜到厚膜的膜厚测量范围。(1nm~250μm)?对应显微镜下的微距测量口径。产品规格: 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100n
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椭圆偏光膜厚测试仪(自动)
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: //
- 产地:日本
产品特点:?椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。?0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。?400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。?可自由变换反射测量角度,得到更详细的薄膜解析数据。?非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格: 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm(可选择350~1000nm)感光元件光电二极管阵列512ch(电子制冷)入射/反射角度范围45~90o电源规格AC1500VA(全自动型)尺寸
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椭圆偏光膜厚测量仪(手动)
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: 1
- 产地:日本
产品特点:?400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。?自动变更反射测量角度,可得到更详细的薄膜解析数据。?采用正弦杆自动驱动方式,展现测量角度变更时优异的移动精度。?搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。?可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格: 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45~90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300~800nm分光
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膜厚测量仪
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: -
- 产地:日本
产品特点:?薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析。?高性能的低价光学薄膜测量仪。?藉由反射率光谱分析膜厚。?完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。?无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手。?非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格: 型号FE-300VFE-300UVFE-300NIR对应膜厚标准型薄膜型厚膜型超厚膜型样品尺寸最大8寸晶圆(厚度5mm)膜厚范围100nm~40μm10nm~20μm3μm~30
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嵌入式膜厚测试仪
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: 01
- 产地:日本
产品特点:?自由搭配的光纤架构,可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。?远端同步控制、高速多点同步测量等。?丰富多样的光学系统套件与应用软件,提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。产品架构: ?半导体晶圆面内分布测量?玻璃基板面内分布测量?即时性量测?输送方向的定点品质管理?对应真空环境之设备?即时性测量?输送方向的全面品质管理
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膜厚光谱分析仪系统
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: *
- 产地:日本
产品特点:?光谱仪(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供丰富选配套件以及客制化光纤。?可依据安装现场需求评估设计。?可灵活架设于各种环境下的**即时测量系统。测量项目: 分光光谱仪种类测量波长范围MCPD-9800:高动态范围型360~1100nmMCPD-3700:紫外/可视/近红外光型220~1000nmMCPD-7700:高感度型220~1100nm平面显示器模组测量:平面显示器(FPD)模组、液晶显示器(LCD)模
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薄膜厚度测量仪
- 品牌:南京科美
- 型号: ST5030-SL
- 产地:韩国
仪器简介: 1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。 技术参数: 活动范围 300mm x 300mm 测量范围 100~ 35(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40/20,4(option) 测量速度 1~2 sec./site (fitting
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薄膜厚度测量仪
- 品牌:南京科美
- 型号: ST5000
- 产地:韩国
仪器简介:1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。技术参数:活动范围 ~300mm x 300mm 测量范围 100~ 35(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40/20,4(option) 测量速度 1~2 sec./site(fitting time) 应用领域 All Capabili
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