仪器网(yiqi.com)欢迎您!

| 注册 登录
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-方案-直播- 视频

产品中心

当前位置:仪器网>产品中心> 上海瞬渺光电技术有限公司>半导体研发测试>嵌入式膜厚测试仪
收藏  

嵌入式膜厚测试仪

立即扫码咨询

联系方式:400-822-6768

联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!

为您推荐

详细介绍

产品特点:

?自由搭配的光纤架构,可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。

?远端同步控制、高速多点同步测量等。

?丰富多样的光学系统套件与应用软件,提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。


产品架构:

?半导体晶圆面内分布测量

?玻璃基板面内分布测量


?即时性量测

?输送方向的定点品质管理

?对应真空环境之设备

?即时性测量

?输送方向的全面品质管理


厂商推荐产品

在线留言

换一张?
取消