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嵌入式膜厚测试仪
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: 01
- 产地:亚洲 日本
- 供应商报价:面议
- 上海瞬渺光电技术有限公司 更新时间:2022-01-12 15:50:35
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销售范围售全国
入驻年限第9年
营业执照
- 同类产品半导体研发测试(9件)
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详细介绍
产品特点:
?自由搭配的光纤架构,可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。
?远端同步控制、高速多点同步测量等。
?丰富多样的光学系统套件与应用软件,提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。
产品架构:
?半导体晶圆面内分布测量
?玻璃基板面内分布测量
?即时性量测
?输送方向的定点品质管理
?对应真空环境之设备
?即时性测量
?输送方向的全面品质管理