PHENOM SEM
答疑汇总 & 直播回放
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2025 年 9 月 2 日 16:00,由复纳科学仪器(上海)有限公司举办的“汽车零部件清洁度检测: 基于激光法+扫描仪+全自动电镜法”网络研讨会顺利举行。本次网络研讨会围绕汽车零部件常见的清洁度检测方法进行了对比分享,并与观众进行了热烈的互动交流。
此次线上研讨会,将原理与实践案例相结合,为大家提供了一个学习交流的平台。众多汽车领域的研究人员观看了该会议并踊跃提问互动。小编整理汇总了大家在会议过程中提出的一些问题,并进行了答疑汇总。
Q1/ Question one
能对比一下 LIBS + 光镜和 SEM+EDS 的区别吗?什么情况下适合用 LIBS 方法?
LIBS 用高能量脉冲激光聚焦于样品表面,瞬间将微小区域(微米级)的物质击穿为等离子体,等离子体冷却时会释放出特征光谱(不同元素的光谱峰位置唯一),通过光谱分析确定元素组成。
SEM+EDS 是使用用聚焦的电子束扫描样品表面,通过探测电子束与样品相互作用产生的二次电子 / 背散射电子,生成高分辨率(纳米级)的表面三维形貌图像;电子束激发样品时,原子内层电子跃迁会释放特征 X 射线,通过 X 射线能量分析确定元素组成。
LIBS | SEM + EDS (ParticleX) | |
二次确认 | 不可,破坏性 | 可,非破坏 |
分析方式 | 手动 | 自动 |
位置精度 | 基于光镜成像,较差 | 基于电镜成像,精准 |
颗粒表面细节 | 无 | 有 |
数量统计 | 无 | 有 |
成分分布 | 无 | 有,可面扫描 |
Q2/ Question two
ParticleX 采用什么滤膜来收集颗粒?是否有配套耗材?还是说市场上的滤膜都可以用?
ParticleX 采用的滤膜没有特殊要求,使用市场上常见的滤膜都可以。
Q3/ Question three
这种网格分析,你们的准确性能保证吗?比如纤维很细,两张图片错位了,有没有可能识别成两个颗粒或者说直接识别不到?
ParticleX 对于跨视野的颗粒,不会出现颗粒错位,分割为两个或者识别不到的问题。
一方面 ParticleX 在软件设置界面会针对每个视野网格重复扫描 15% 面积,以便能够进行跨视野颗粒的拼接。另一方面 ParticleX 采用高精度马达台,能够保证每个视野移动的精度,从而避免出错错位等类似情况的发生。
Q4/ Question four
颗粒尺寸可不可以自定义划分等级?
可以,颗粒尺寸限制除满足 VDA19 / ISO16232 的尺寸等级外,用户还可以进行自定义颗粒尺寸等级划分。
Q5/ Question five
这套系统可以粒子计数吗?还是说另外需要购买扫描仪才能实现粒子计数?
可以对颗粒进行计数,整个样品上颗粒的数量,以及每个颗粒的物理信息(最大直径,最小直径,面积等)和化学信息(元素成分)。
如果您错过本次研讨会,欢迎识别下方二维码观看直播回放。
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