BeNano 180 纳米粒度仪
BeNano 180 纳米粒度仪
——背向光散射探测技术，适用于检测宽泛的样品粒度
仪 器 简 介
ABOUT INSTRUEMENT
BeNano 180 纳米粒度仪是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向 173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相曲线，结合数学方法就可以得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程就得到样品的粒度结果。
指标与性能
Index＆performance
粒径测试
粒径范围：0.3 nm – 15 μm*
样品量：40μL - 1 mL*
检测角度：173°
分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN
浓度上限：40% w/v*
分子量测试
分子量范围：342 Da – 2 x 107 Da*
趋势测量
模式：时间和温度
粘度测试
粘度范围：0.01 cp – 100 cp*
系统参数
温控范围：-10° C - 110° C，精度 ± 0.1° C
激光光源：50 mW 高性能固体激光器， 671 nm
相关器：最多 4000 通道，1011 动态线性范围
检测器：APD ，高性能雪崩光电二极管
光强控制：0.0001% - 100%，手动或自动
*取决于样品和选件
原理图
Optical system
仪器检测
Instruments Testing
检测参数
颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布
分子量
分布系数 PD.I
扩散系数 D
流体力学直径 D H
颗粒间相互作用力因子 k D
溶液粘度
检测技术
动态光散射
静态光散射
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