直播提醒 | 今日 15:00 在 3D 多模态表征中体验新品 AMBER X 2 的速度、精度和实用性

新品发布

TESCAN AMBER X 2

内容预告：3D 多模态表征艺术

• 速度和精度：AMBER X 2 如何平衡数据质量和体积。

• 优化 FIB-SEM 断层扫描：快速分析策略，将伪影降到最低。

• 实际应用：AMBER X 2 在研究各种材料中的用途。

演讲人：TESCAN 产品经理 Tomá? ?amo?il，拥有物理和材料工程博士学位，并作为应用专家拥有丰富的经验。

内容预告：

• 高通量 TEM 制备：AMBER 2 和 AMBER X 2 如何满足高通量、一致的样品制备需求。

• 自动化工作流程：AMBER X 2 中的 TEM AutoPrep Pro?。

• 精确的薄片几何形状：AMBER X 2 中 OptiLift? 纳米操纵器的能力。

演讲人：TESCAN 产品经理 Martin Sláma，拥有超过 8 年的 FIB-SEM 3D 表征和材料科学 TEM 薄片准备经验。

内容预告：

• 简化的工作流程：AMBER 2 的设计如何最小化停机时间并最大化效率。

• 多功能样品制备：AMBER 2 用于各种纳米原型设计任务的能力。

• 全面分析：AMBER 2 的 UHR 成像能力的洞察。

演讲人：TESCAN 纳米原型设计产品经理 Milos Hrabovsky，专注于电子和离子束图案化、沉积、增强蚀刻和通过脚本实现显微镜自动化。

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