直播提醒 | TESCAN FIB-SEM 提高 APT 样品制备精确度
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诚邀您参加我们网络研讨会，了解 TESCAN 聚焦离子束电子束双束电镜（FIB-SEM）技术如何增强原子探针断层扫描（APT）的样品制备精确度。
FIB-SEM 在原子探针断层扫描中的作用
APT 可以进行原子级材料分析，但其成功与否取决于样品制备的精度。在制备异质、非导电或环境敏感材料样品时，其他替代方法往往无法满足要求。相比之下，FIB-SEM 可提供高分辨率成像和特定部位离子打磨，从而满足对最小样品损伤和最佳取向的需求。
所以 FIB-SEM 精确制备出合格的 APT 样品的能力，解决制样难题，对于分析研究原子尺度材料的科学家和研究人员获得准确可靠的结果至关重要。
内容预告
通过本次与 Cameca 仪器公司一起举办的在线会议 ，您将了解 TESCAN FIB-SEM 系统有效制备APT样品的技术，包括：
处理环境敏感材料的低温样品制备；
TESCAN 新型 Mistral? PFIB 和
Aura Gentle 离子束功能的优势；高级自动化在实现可重复性方面的作用。
TESCAN AMBER X 2
加强版氙离子聚焦离子束
双束电镜平台
这是一台多功能系统，工作流程可定制，用惰性Xe离子进行低能量的离子清洗（低至 500 eV），对各种材料都能确保高质量完成制样，确保样品完整性。
TESCAN AMBER 2
加强版镓离子聚焦离子束
双束电镜平台
配备 AURA Gentle 离子束，AMBER 2 可在洁净的高真空环境中进行精细抛光，是敏感标本的理想选择。
先进的操作和自动化
TESCAN OptiLift? 纳米机械手可对齐晶带轴实现特定取向的操作，而 FIB-SEM Expert PI 软件和 Visual Coder 脚本支持自动化，确保模板样本质量可重复，简化工作流程，让各种专业水平的操作者都能轻松使用，且保持样品质量一致。
专家介绍
Petr Klímek
产品市场总监，
TESCAN集团
Petr Klímek在 SEM 和 FIB-SEM 领域拥有近十年的经验，他将学术和行业经验相结合，包括在 TESCAN 从事由富布赖特资助的微机械研究和产品计划，以实操经验推动材料科学的发展。
Katherine Rice
应用经理，
Cameca 仪器公司
Katherine Rice 博士是Cameca 仪器公司的应用经理，拥有化学工程博士学位，曾任美国国家标准与技术研究院 (NIST) 博士后，在材料表征方面拥有丰富的实践经验。她的工作涉及透射 EBSD、纳米粒子合成和APT。
zh.info.tescan.com/matsci-fib-sem
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Tue, Dec 3, 2024
4:00 PM - 5:00 PM CST。
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