直播提醒 | TESCAN FIB-SEM 提高 APT 样品制备精确度

诚邀您参加我们网络研讨会，了解 TESCAN 聚焦离子束电子束双束电镜（FIB-SEM）技术如何增强原子探针断层扫描（APT）的样品制备精确度。 

FIB-SEM 在原子探针断层扫描中的作用

APT 可以进行原子级材料分析，但其成功与否取决于样品制备的精度。在制备异质、非导电或环境敏感材料样品时，其他替代方法往往无法满足要求。相比之下，FIB-SEM 可提供高分辨率成像和特定部位离子打磨，从而满足对最小样品损伤和最佳取向的需求。

所以 FIB-SEM 精确制备出合格的 APT 样品的能力，解决制样难题，对于分析研究原子尺度材料的科学家和研究人员获得准确可靠的结果至关重要。

通过本次与 Cameca 仪器公司一起举办的在线会议 ，您将了解 TESCAN FIB-SEM 系统有效制备APT样品的技术，包括：

• 处理环境敏感材料的低温样品制备；

• TESCAN 新型 Mistral? PFIB 和
  Aura Gentle 离子束功能的优势；

• 高级自动化在实现可重复性方面的作用。

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