网络研讨会丨使用微区X射线荧光分析技术分析考古和手工艺品

我们诚挚邀请您参加即将举行的微区X射线荧光(micro-XRF)分析技术在线研讨会。本次研讨会将深入探讨如何利用先进的micro-XRF技术，对复杂形状的考古和手工艺品进行高精度的元素分析。

在本次研讨会中，我们将介绍多种方法，用于测量从坩埚碎片到大型铜锅，从印度尼西亚陨铁刀到18世纪法国瓷器，再到意大利玻璃珠和中国陶瓷等广泛的文化遗产对象。这些文物共同面临的挑战是，它们通常不适合进行micro-XRF分析。它们的三维形状、复杂结构或非无限几何形状可能会使分析过程变得复杂。

我们将通过一系列案例研究，介绍不同的方法和工作流程来克服这些障碍。利用Bruker专利的Aperture Management System，即使在具有复杂外形的样本上，也能实现高空间分辨率。这一功能使得M6 JETSTREAM能够安全地分析复杂文物样品，而不必担心损坏它们。

我们推荐以下工作者参与本次讨论

• 对XRF和micro-XRF作为三维材料定性和定量分析技术感兴趣的所有人

• 考古学家、文物保护者、文化遗产科学家

• M4      TORNADO、M6      JETSTREAM用户

瓷器装饰品与M6距离4cm, 得益于AMS功能，花卉纹路装饰可以高分辨可视化展示。

M6 JETSTREAM检测印度尼西亚Kris匕首，测试条件：50 kV 600μA，AMS 500。

会议时间

2024年12月5日，下午5：00

报名入口

主讲人

Mareike Gerken

 Application Scientist, Bruker Nano Analytics 

 Dr. Roald Taglel

Global Manager Application Science,Bruker Nano Analytics

便携式X射线荧光光谱仪 (XRF) 已成为世界各地文物考古相关从业人员不可或缺的一种分析仪器。 它能够在文物勘探现场对各类样品进行非破坏性分析， 能够同时获得样品中的主量元素、微量元素的成分信息，测试方便，能够即时获得测试结果，无需进行破坏或者二次取样分析。

TRACER作为当前全球最先进的手持式EDXRF光谱仪，结果准确可靠,既可分析像氟（F）一样轻的元素，也可分析到(U)这样重的元素，为科学研究生产应用提供强大的支持。TRACER搭载了全新的测试平台，除了能够让用户根据实际需求自主控制激发条件，与此同时还结合用户实际使用中的不同需求，增加了许多定制化的功能。用户可使用EasyCal?软件为TRACER 5修正或者创建校准曲线匹配自身样品测试需求，涵盖关注元素以及浓度范围，校准曲线修正步骤简单，测试结果准确可靠。

手持式XRF采用非破坏性技术，因此非常适于分析馆藏金属器、陶瓷器、珠宝玉石;野外遗址遗迹的石刻、壁画彩绘颜料的元素分析以及日常的涉案文物鉴定等工作。除此之外还具备地球化学矿物化验，土壤测试，油品分析，镀层测厚等功能，若无任何校准方式符合您的应用领域，我们能为您的应用打造专属的校准方式。

M6 JETSTREAM开放式微区 X 射线荧光光谱仪是大尺寸文物样品（字画、瓷器、金银器、青铜器、壁画等等）成分分析的首选设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息，甚至样品表面下元素分布信息。

ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析，具备高性能，高准确度和高精确度。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析扫描软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。

CRONO是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术，可对大型样品进行原位，非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中，元素检测范围从Na到U,并具有高效的检测结果，即使在低于2keV或高于25keV时(例如Sn，Sb和Ba K激发)。

M4 TORNADO微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小的区域，以获得极佳的空间分辨率，进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析, 广泛应用于考古艺术行业，如褪色照片的修复工作、早期古币上的元素分析变化、陶瓷类釉面、上色的分析等等。

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