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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe NIR
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe NIR
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 铂悦仪器(上海)有限公司 更新时间:2021-03-09 10:29:41
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企业性质授权代理商
入驻年限第5年
营业执照已审核
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- 详细介绍
产品概述
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
测量范围: 100 nm -200um
波长范围: 900 nm -2500 nm
适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
测量指标:薄膜厚度,光学常数
界面友好: 一键式测量和分析。
实用的工具:曲线拟合和灵敏度分析,背景和变形校正,连接层和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。
- 产品优势
- 采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
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