国产半导体参数测试机iv曲线扫描仪
IGBT单管参数分析仪iv+cv一键测
国产半导体参数分析仪iv|cv特性曲线仪
国产半导体参选测试仪iv+cv曲线分析仪
半导体分立器件来料检测仪器iv+cv曲线分析仪









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PMST系列igbt静态测试机igbt检测仪采用普赛斯自主开发的测试主机,内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件,可根据测试项目需要,设置不同的电压、电流等参数,以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出,并可生成I-V以及C-V特性曲线
用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试,以及光谱特性测试(需要外接光谱仪)。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,体积小、测试速度快、精度高,可以极大的提高器件测试的产量和质量
能够同时输出和测量电压电流,蕞大支持30V,500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信,支持源表标准SCPI指令集,支持多台源表同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。
够同时输出和测量电压电流,蕞大支持±30V,±500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信,支持源表标准SCPI指令集,支持多台源表同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算,支持光谱特性测试(需要外接光谱仪)。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,具有体积小、测试速度快、使用简单的特点
汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中
能够同时输出和测量电压电流,最大支持±10V,±500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
武汉普赛斯PMST系列igbt性能测试仪器失效分析等覆盖IV,CV,跨导等丰富测试功能,全量程0.1%精度,15us超快上升沿,支持恒压限流,恒流限压模式,可定制化夹具,用于晶圆,芯片,器件,模块及IPM全面测试