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可靠耐用的便携式三能量X射线平板探测器
加拿大KA Imaging公司推出一款先进且坚固的REVEAL R 35C便携式三能平板X射线探测装置，专为无损检测（NDT）应用而设计。此款坚固耐用的探测器专为在充满挑战的环境中实现耐用性和可靠性而设计，可在现场提供前所未有的图像。它能承受严格的工业检查，确保在各种苛刻的条件下实现无缝功能。
光谱增强DR成像，一次曝光获取三张不同能量图像
1次曝光获3张图像：传统DR、低密度和高密度图像
得益于KA Imaging的？家SpectralDR®技术，Reveal™ R 35C使用传统X射线源进行单次曝光，即能生成三种类型的图像：传统的DR图像、低密度和高密度材料图像。这种单次曝光消除了传统双能系统在需要两次曝光时的运动伪影问题。探测器的独特能量特征可以简单地通过软件自定义设置，以区分各种类型的高密度和低密度材料。
性能特点
✔单次、三能量探测器
✔三层堆叠设计-单次曝光3张图像
✔便携式-无线连接
✔单次曝光，无运动伪影
✔彩色图像设置
✔光谱信息
✔先进的材料分离（高低密度区分）
ASTM F792222-17合规信息
由美国交通安全管理局（TSA）制定的 ASTM F792222-17 标准，为机场安检使用的 X 射线筛查系统的性能和测试制定了指导准则。该标准确保这些系统在检测威胁时符合严格的准则，同时尽量减少误报并保持运营效率。该标准涵盖了多个方面，包括图像质量、辐射安全、系统性能和测试程序。遵守ASTM F792222-17标准对于确保航空安全操作的一致性和有效性至关重要，保护旅客和航空旅行基础设施免受潜在威胁。
平板探测器便携套装
除了REVEAL R 35C便携式三能平板X射线探测装置之外，还提供平板探测器便携套装，包括X射线源（Golden Engineering）、Reveal R 35C三能平板探测器、笔记本电脑（含控制及图像采集软件）等，可用于野外或移动式作业。
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报价：￥248000
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真实环境还原：在扫描过程中施加温度变化，有助于观察材料结构随温度变化的实时响应。 高精度控制：温控精度高 (±1 °C)，温度变化速度也可定制。 兼容CT仪器：设备尺寸与CT仪器机柜相匹配，支持 360° 旋转扫描，控制操作方便 (从柜外控制)。 模块化/可定制：样品架可更换，以适配不同样本规格 (可定制样本区尺寸)。
同步成像与循环测试：在CT扫描时即可进行充放电循环测试，获取内部结构随时间/循环的动态变化信息。 温度+电流耦合：在不同温度 (低温/高温) 下施加电流循环 (最高约30 A)，真实模拟电池在极端/典型工况下的表现。 实时观察内部结构变化：例如研究电解液在不同温度下的移动/分布变化、电极结构的膨胀/变形/开裂等微观失效。已有研究利用该装置观测锂电池在–15 °C/+55 °C等温度进行循环放电过程中电解液的动态移动和结构变化。 模块化/可定制：外壳/样本夹具/电池样本规格可定制，适配不同尺寸或类型的电池。
SEMI-KLEEN等离子清洗仪由美国PIE Scientific LLC公司生产，专为清洗各类电子及离子显微镜、深紫外光刻机等真空仪器设计。该设备采用低压清洗技术和远程RF等离子源，具备即时等离子起辉、自动气体流量控制、实时等离子强度监测等功能，确保高效、均匀清洗并保护电子枪和分子泵，满足半导体行业严格的颗粒污染标准。
加拿大KA Imaging公司推出了一款专为无损检测设计的REVEAL R 35C便携式三能平板X射线探测装置。这款探测器坚固耐用，能在各种苛刻环境下提供可靠的图像质量。凭借其独特的SpectralDR®技术，该设备能够通过单次曝光生成三种不同能量的图像，有效避免了运动伪影问题，并提升了材料分离的能力。此外，该探测器符合ASTM F792222-17标准，确保了高精度和安全性，适用于多种应用场景。
加拿大KA Imaging公司的Reveal 35C便携双能平板X射线探测装置专为无损检测设计，具备便携、无线连接等特点。其采用单次曝光即可生成三种图像（传统DR、低密度和高密度），利用SpectralDR®技术实现高精度材料分离，避免运动伪影。该设备符合ASTM F792222-17标准，并提供便携套装便于野外作业。
KA Imaging推出的inCiTe 3D台式相衬MicroCT_2μm是全球首款采用独家高空间分辨率非晶硒探测器技术的三维X射线显微镜，特别适合科研和工业无损检测。该系统结合了高检测效率与高空间分辨率，支持快速相衬和传统MicroCT成像，尤其擅长于低密度材料的成像。其应用广泛，涵盖材料微观结构分析、逆向工程、无损检测及生产过程监控等领域。
KA Imaging的inCiTe台式相衬MicroCT_5μm X射线扫描仪，采用独家BrillianSe探测器技术，提供高空间分辨率和检测效率，适用于科研和工业无损检测。该设备特别擅长低密度材料成像，具备快速扫描、友好用户界面及简化工作流程等特点，广泛应用于农业、增材制造、地质、电子产品、临床前成像等领域。其基于相位衬度成像技术显著提升了对弱吸收材料的成像效果。
BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器由加拿大KA Imaging公司推出，结合了a-Se/CMOS技术，提供高空间分辨率与高量子效率。该探测器无需将X射线光子转换为可见光，从而提高了成像质量。其应用领域广泛，包括低密度材料成像、同步加速器、微纳CT等系统，尤其擅长在低通量和高能量条件下进行高效成像。
营业执照已审核
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