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JEOL场发射扫描电子显微镜JSM-7610FPlus

企业性质生产商

入驻年限第6年

营业执照已审核

联系方式：廖敬强0755-81776600

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JEOL场发射扫描电子显微镜JSM-7610FPlus 核心参数

详细介绍

JSM-7610FPlus，用于纳米科学的肖特基场发射扫描电子显微镜， 是一款采用半浸没式物镜、拥有超高分辨率的场发射扫描电子显微镜，能观察微细结构和进行微区元素分析。

技术指标：

特点

半浸没式物镜

超高空间分辨率（1 kV 1.0 nm、15 kV 0.8 nm）

利用新一代r-过滤器选择能量

自由选择二次电子和背散射电子

利用LABE 检测器获取低角度背散射电子像

选择通道衬度和来自样品表面的信息

浸没式肖特基电子枪

提供分析时需要的大电流(200 nA 15 kV),寿命长(发射体保证3 年)

丰富的附件

可以安装EDS、WDS、STEM、CL 等多种附件

半浸没式物镜的示意图

半浸没式物镜在样品周围形成强磁场，因而可以获得超高分辨率。

超高分辨率观察实例

柔和电子束（GB:GENTLEBEAMTM）模式

柔和电子束模式（GB 模式）通过给样品施加负电压，从而使电子束在即将撞击样品之前降低着陆电压，因此可以在低加速电压下（最低 100 V）进行高分辨观察。

由于电子束在样品中散射区域减小，就会容易地观察样品浅表面的精细结构，能减少对热敏样品的损伤，可以直接观察非导电性样品。

JSM-7610FPlus 在 GB 模式下（1 kV）的分辨率为 1.0 nm。

GB 模式的效果

GB 模式在低电压下提高分辨率

增强了的低加速电压下的分辨率

产品优势

JSM-7610FPlus，用于纳米科学的肖特基场发射扫描电子显微镜，是一款采用半浸没式物镜、拥有超高分辨率的场发射扫描电子显微镜，能观察微细结构和进行微区元素分析。

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