柔性电子材料“动态”测试难点
柔性电子材料在使用过程中会被反复弯折扭曲,在此过程中材料表面和内部的应力状态和微观结构都会逐渐发生变化,进而影响材料的电学性能和寿命。用多次反复弯折扭曲等方法来测试柔性材料的耐疲劳性,稳定性和寿命衰减特性已经逐渐成为柔性电子器件不可缺少的表征手段。
为了保证柔性电子的正常使用,柔性材料应用在电路中时必须要对柔性材料的电学特性做一个详细的了解。因为柔性材料在形变后他的阻抗会发生变化,并且形变程度不同,阻抗的变化也不同。需要进行l-V特性测试,并实时监测V-t、l-t以及R-t的变化曲线,且在测试时尤其要注意柔性材料折叠装置与I-V测试设备间的同步问题。传统测试柔性电子材料的电学特性都是人工测量,需要一台电压源,电流表,再手动算出电阻值的变化。而电源或者万用表只能当作源或者表来使用,相互搭配完成l-V测量,不能满足一机多用的测试场景,而且对于测量精度要求较高及与折叠装置同步要求精度高的场景无法保证。
普赛斯柔性测试系统:打造标准化、高效率的“动态”测试解决方案
普赛斯仪表携手业内知名厂商共同打造的柔性电子材料测试系统,通过组合不同动作的测试夹具,可以模拟扭、转、弯、折、卷等5种基本测试动作,11个基础模拟测试动作,实现一机多用,让柔性测试标准化。不仅可以测试柔性材料的折、弯、扭、拉、卷等五种基本动作,而且可以进行柔性材料的I-V特性测试,是目前研究柔性材料的重要测试系统,能够大幅提升开发验证效率和降低测试成本。

图:柔性测试系统夹具
普赛斯深耕半导体I-V测试领域,一直致力于自主研发国产源表产品,并率先推出S系列高精度数字源表,集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体,同时还可以作为电子负载来吸收能量。Z大电压300v,最小电流100pA,输出精度达到0.1%,Z大功率为30W,实现快速、晶准的测量材料的电参数,广泛应用于印刷电极、导电高分子、石墨烯、传感器、柔性太阳能电池、OLED以及电子皮肤等柔性电子材料的l-V特性测试场景。
武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、窄脉冲源表、集成插卡式源表等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多柔性材料I-V性能分析精密源表的信息,欢迎随时咨询普赛斯仪表
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能够同时输出和测量电压电流,最大支持10V,500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
能够同时输出和测量电压电流,蕞大支持30V,1A直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。
能够同时输出和测量电压电流,最大支持10V,500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、电压表、电流表和电子负载,支持四象限功能,可提供恒流测压及恒压测流功能,可简化芯片电性能测试方案。
能够同时输出和测量电压电流,最大支持10V,500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中
支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算,支持光谱特性测试(需要外接光谱仪)。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,具有体积小、测试速度快、使用简单的特点
不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能,还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试需求,确保测量效率、一致性与可靠性的卓越表现