柔性电子材料“动态”测试难点
柔性电子材料在使用过程中会被反复弯折扭曲,在此过程中材料表面和内部的应力状态和微观结构都会逐渐发生变化,进而影响材料的电学性能和寿命。用多次反复弯折扭曲等方法来测试柔性材料的耐疲劳性,稳定性和寿命衰减特性已经逐渐成为柔性电子器件不可缺少的表征手段。
为了保证柔性电子的正常使用,柔性材料应用在电路中时必须要对柔性材料的电学特性做一个详细的了解。因为柔性材料在形变后他的阻抗会发生变化,并且形变程度不同,阻抗的变化也不同。需要进行l-V特性测试,并实时监测V-t、l-t以及R-t的变化曲线,且在测试时尤其要注意柔性材料折叠装置与I-V测试设备间的同步问题。传统测试柔性电子材料的电学特性都是人工测量,需要一台电压源,电流表,再手动算出电阻值的变化。而电源或者万用表只能当作源或者表来使用,相互搭配完成l-V测量,不能满足一机多用的测试场景,而且对于测量精度要求较高及与折叠装置同步要求精度高的场景无法保证。
普赛斯柔性测试系统:打造标准化、高效率的“动态”测试解决方案
普赛斯仪表携手业内知名厂商共同打造的柔性电子材料测试系统,通过组合不同动作的测试夹具,可以模拟扭、转、弯、折、卷等5种基本测试动作,11个基础模拟测试动作,实现一机多用,让柔性测试标准化。不仅可以测试柔性材料的折、弯、扭、拉、卷等五种基本动作,而且可以进行柔性材料的I-V特性测试,是目前研究柔性材料的重要测试系统,能够大幅提升开发验证效率和降低测试成本。

图:柔性测试系统夹具
普赛斯深耕半导体I-V测试领域,一直致力于自主研发国产源表产品,并率先推出S系列高精度数字源表,集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体,同时还可以作为电子负载来吸收能量。Z大电压300v,最小电流100pA,输出精度达到0.1%,Z大功率为30W,实现快速、晶准的测量材料的电参数,广泛应用于印刷电极、导电高分子、石墨烯、传感器、柔性太阳能电池、OLED以及电子皮肤等柔性电子材料的l-V特性测试场景。
武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、窄脉冲源表、集成插卡式源表等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多柔性材料I-V性能分析精密源表的信息,欢迎随时咨询普赛斯仪表
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普赛斯插卡式主机采用自定义框架,背板总线带宽高达3Gbps,支持16路触发总线,满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡,方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB
采用PXIe通信架构方案,支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析;支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出,且蕞大可扩展至3500V、2000A;可与探针台(Prober)、分选机(Handler)等外设联机使用,应用于半导体产线KGD、DBC及FT工站的芯片及器件的高效分选测试
具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有卓越的测量效率与可靠性
采用PXIe通信架构方案,支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析;支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出,且最大可扩展至3500V、2000A;可与探针台(Prober)、分选机(Handler)等外设联机使用,应用于半导体产线KGD、DBC及FT工站的芯片及器件的高效分选测试。
不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能,还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试需求
武汉普赛斯P系列数字源表汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中
PMST系列igbt静态测试机igbt检测仪采用普赛斯自主开发的测试主机,内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件,可根据测试项目需要,设置不同的电压、电流等参数,以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出,并可生成I-V以及C-V特性曲线
用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试,以及光谱特性测试(需要外接光谱仪)。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,体积小、测试速度快、精度高,可以极大的提高器件测试的产量和质量