E系列国产高压源表特点和优势:
十ms级的上升沿和下降沿;
单台Z大3500V的输出;
0.1%测试精度;
同步电流或电压测量;
支持程控恒压测流,恒流测压,便于扫描测试;

产品简介
高电压源测单元具有输出及测量电压高(3500V)、能输出及测量微弱电流信号(1nA)的特点。设备工作在D一象限,输出及测量电压0~3500V,输出及测量电流0~100mA。支持恒压恒流工作模式,同时支持丰富的I-V扫描模式。
技术指标
电压性能参数:
| 电压 | 源 | 测量 | ||
| 量程 | 分辨率 | 准确度±(% rdg.+volts) | 分辨率 | 准确度±(% rdg.+volts) |
| 100V | 10mV | 0.1%±40mV | 10mV | 0.1%±40mV |
| 600V | 60mV | 0.1%±100mV | 60mV | 0.1%±100mV |
| 1200V | 120mV | 0.1%±300mV | 120mV | 0.1%±300mV |
| 1600V | 160mV | 0.1%±400mV | 160mV | 0.1%±400mV |
| 2200V | 220mV | 0.1%±700mV | 200mV | 0.1%±700mV |
| 3500V | 350mV | 0.1%±900mV | 350mV | 0.1%±900mV |
电流性能参数:
| 电流 | 源 | 测量 | ||
| 量程 | 分辨率 | 准确度±(% rdg.+volts) | 分辨率 | 准确度±(% rdg.+volts) |
| 1uA | 100pA | 0.1%±1nA | 100pA | 0.1%±1nA |
| 10uA | 1nA | 0.1%±5nA | 1nA | 0.1%±5nA |
| 100uA | 10nA | 0.1%±50nA | 10nA | 0.1%±50nA |
| 1mA | 100nA | 0.1%±300nA | 100nA | 0.1%±300nA |
| 10mA | 1uA | 0.1%±5uA | 1uA | 0.1%±5uA |
| 100mA | 10uA | 0.1%±10uA | 10uA | 0.1%±10uA |
Z大输出功率:350W,3500V/100mA(不同型号有差异);
输出电压建立时间典型值:< 5ms;
输出接口:E100:三同轴BNC;E200、E300:KHV(三同轴);
扫描:支持线性、对数及用户自定义扫描;
通信接口:RS232、以太网;
保护:支持急停;
触发:支持trig IN及trig out;
尺寸:19英寸2U机箱;
国产高压源表应用领域:
用于IGBT击穿电压测试,IGBT动态测试母线电容充电电源、IGBT老化电源,防雷二极管耐压测试,压敏电阻耐压测试等场合。其恒流模式对于快速测量击穿点具有重大意义。

报价:¥1000
已咨询155次高压电源
报价:¥1000
已咨询65次数字源表
报价:¥1000
已咨询381次数字源表
报价:¥1000
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能够同时输出和测量电压电流,最大支持10V,500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
能够同时输出和测量电压电流,蕞大支持30V,1A直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。
能够同时输出和测量电压电流,最大支持10V,500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、电压表、电流表和电子负载,支持四象限功能,可提供恒流测压及恒压测流功能,可简化芯片电性能测试方案。
能够同时输出和测量电压电流,最大支持10V,500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中
支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算,支持光谱特性测试(需要外接光谱仪)。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,具有体积小、测试速度快、使用简单的特点
不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能,还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试需求,确保测量效率、一致性与可靠性的卓越表现