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【海洋光学】NanoCalc薄膜反射光谱仪系统
- 品牌：美国海洋光学
- 型号： NanoCalc
- 产地：美国
- 供应商报价： 面议
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蔚海光学仪器（上海）有限公司
更新时间：2023-04-25 14:10:34 -
企业性质
入驻年限第4年
营业执照
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- 详细介绍
NanoCalc 薄膜反射测量系统
薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250m的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。
产品特点
可分析单层或多层薄膜
分辨率达0.1nm
适合于在线监测
操作理论最常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和投射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。
查找n和k值
可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc软件包含了大多数材料的n和k值数据库，用户也可以自己添加和编辑。
应用
NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。
NanoCalc系统
NC-UV-VIS-NIR
重量：
250-1100 nm
厚度：
10 nm-70 m
光源：
氘卤灯
NC-UV-VIS
重量：
250-850 nm
厚度：
10 nm-20 m
光源：
氘卤灯
NC-VIS-NIR
重量：
400-1100 nm
厚度：
20nm-100m (可选1m-250m)
光源：
卤灯
NC-VIS
重量：
400-850 nm
厚度：
50 nm-20μm
光源：
卤灯
NC-NIR
重量：
650-1100 nm
厚度：
70 nm-70μm
光源：
卤灯
NC-NIR-HR
重量：
650-1100nm
厚度：
70 nm-70μm
光源：
卤灯
NC-512-NIR
重量：
900-1700 nm
厚度：
50 nm-200μm
光源：
高亮度卤灯
NanoCalc规格
入射角：
90°
层数：
3层以下
需要进行参考值测量：
是
透明材料：
是
传输模式：
是
粗糙材料：
是
测量速度：
100ms - 1s
在线监测：
可以
公差（高度）：
参考值测量或准直(74-UV)
公差（角度）：
参考值测量
微黑子选项：
配显微镜
显示选项：
配显微镜
定位选项：
6"和12" XYZ 定位台
真空：
可以
- 技术资料
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