荧光光谱仪-XTrace-基于SEM高性能微区荧光光谱仪
发光成像系统-GATAN ChromaCL2第二代实时彩色阴极发光成像系统
原位加热台-用于SEM / FIB / EBSD的950 °C原位加热台-Murano 525
原位动态拉伸试验台-英国DEBEN MICROTEST 2000E系列原位动态拉伸试验台
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磁场消除装置(FCS Field Cancelling Systems)
FCS磁场消除装置能够提高对磁场敏感的电子仪器的性能,如扫描电镜,透射电镜和图像过滤器。
标准的FSC包括,磁场控制装置,磁场传感器和三个(X、Y&Z)电缆回路。FCS工作原理是产生和振幅,象限,方向相反的磁场抵消周围磁场。
FCS 22工作频率在0.5Hz到5000Hz,可以抵消多数磁场源的干扰,如电磁场和机械转动磁场。
FCS 20W可以在DC到5000Hz频率范围内有效的减小磁场。
除了抵消电源频率的磁场,FCS 20W也能够抵消金属物体移动产生的低频磁场,如电梯和汽车靠近大型磁力系统会产生很高等级的DC磁场。
可选项:
包括附加传感器,支持对有多个磁场敏感仪器或者装有GATAN能力过滤器的TEM的房间补偿变化磁场和Helmholtz线束。
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S-4800型高分辨场发射扫描电镜(简称S-4800)为日本日立公司于2002年推出的产品。该电镜的电子发射源为冷场,物镜为半浸没式。在高加速电压(15kV)下,S-4800的二次电子图像分辨率为1 nm,这是目前半浸没式冷场发射扫描电镜所能达到的最高水平。该电镜在低加速电压(1kV)下的二次电子图像分辨率为2nm,这有利于观察绝缘或导电性差的样品。S-4800的主要附件为X射线能谱仪。
二手 日立 SEM+EDX 冷场电镜SU8000系列高分辨场发射扫描电镜,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探测器设计上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三个Everhart-Thornley型探测器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多种信号,实现微区的形貌衬度、原子序数衬度、结晶衬度和电位衬度的观测;结合选配的STEM探测器。
日立SU-8010是日立高新技术的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 电子光学系统进行了最优化处理,使得着陆电压在1KV时分辨率较前代机型提高了约20%。另外,最适合低加速电压下高分辨观察的冷场电子枪可将样品的细节放大,并获得高质量的图片。最大放大倍率也由之前的100万倍提高到了800万倍。除此之外,为了能更好的应对不同样品的测试和保持并发挥出高性能,还对用户辅助工能进行了强化。
日本电子扫描电镜JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的钨灯丝扫描电镜。颠覆性的前卫性外观设计还特别吸引眼球。操作改为触摸屏控制,简单化,从此操作电镜非常只能化。
扫描电子显微镜主要用于观察物体的表面形貌像,除此意外,如果配备能谱分析系统,在进行获得样品表面像的时候,还可以对样品的某个定点位置进行元素的半定量分析。根据EDS分析出的元素比例,进行拟合处理,可以大概的判断出样品是什么类型的样品。
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300 ,ZLGemini镜筒,超高的束流稳定性,超高的束流稳定性,zhuo越的低电压性能,In Lens 探测器,磁性材料高分辨观察,ding级X射线分析设计,便越操作系统设计,超大空间,多接口,升级灵活。
德Zeiss 电子束直写仪 Sigma SEM,利用曝光抗蚀剂,采用电子束直接曝光,可在各种衬底材料表面直写各种图形,图形结构(Z小线宽为10nm),是研究材料在低维度、小尺寸下量子行为的重要工具。广泛应用于纳米器件,光子晶体,低维半导体等前沿领域。
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300,专利Gemini镜筒,超高的束流稳定性,卓越的低电压性能,In Lens 探测器,磁性材料高分辨观察,顶级X射线分析设计,便越操作系统设计,超大空间,多接口,升级灵活。