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X射线荧光分析仪(ED-XRF)-利用薄膜FP法测试膜厚

来源:捷欧路(北京)科贸有限公司 更新时间:2020-03-04 17:18:48 阅读量:1073

简介

       利用薄膜FP法测试膜厚为了提高产品部件的耐腐蚀性、装饰性和功能性,电镀等表面处理技术被广泛地应用于各个行业。由于镀膜的厚度与产品的特性、质量及生产成本有关,因此管理非常重要,对镀层厚度有着多种测试、分析和评定方法。X射线荧光光谱仪可以进行无损、无标样分析,Z多能够测试5层镀膜。

各种标准样品的测试实例

1.金镀层

样品

20200304-1841100910.png

测试条件

管电压:50 kV

准直器直径:0.9 mm Φ

气氛:大气

测试时间:60秒


谱图

20200304-1201741768.png

分析结果

20200304-1134553699.png


 2.镍镀层

样品

20200304-771866822.png

测试条件

管电压:50 kV

准直器直径:0.9 mm Φ

气氛:大气

测试时间:60秒


谱图

20200304-1263335044.png

分析结果

20200304-46177593.png

3、锌镀层

样品

20200304-1887820927.png

测试条件

管电压:50 kV

准直器直径:0.9 mm Φ

气氛:大气

测试时间:60秒


谱图

20200304-1802498217.png

分析结果

20200304-195385739.png

4、银镀层

样品

20200304-244000394.png

测试条件

管电压:50 kV

准直器直径:0.9 mm Φ

气氛:大气

测试时间:60秒


谱图

20200304-1674124796.png

分析结果

20200304-924131234.png


使用仪器:JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪

JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪.png


标签: 薄膜FP法 ED-XRF   镀层

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