仪器网(yiqi.com)欢迎您!

| 注册 登录
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-方案-产品库- 视频

技术中心

当前位置:仪器网> 技术中心>氦质谱检漏仪六种常见检漏方法

氦质谱检漏仪六种常见检漏方法

来源:伯东企业(上海)有限公司      分类:应用方案 2023-05-08 14:54:33 82阅读次数
扫    码    分   享

检漏与现代工业生产, 维修, 科研等领域密不可分, 传统的检漏有泡泡检漏 Bubble Test, 压差检漏等, 但这些方法有许多局限性和不足, 如精度差, 效率低等, 氦质谱检漏 Helium Leak Test 作为国际公认精度高的泄露测试方法, 利用氦气作为示踪气体可精确定位, 定量漏点, 在提供无损检漏的同时可以检测出更小的漏率 5E-13 Pa m3/s, 广泛应用于真空相关领域.

根据示踪气体流向, 氦质谱检漏法可分为真空法 (气体流出工件), 吸枪法 (气体流入工件) 两大类, 上海伯东依据大量客户实际应用总结出常见六种氦检方法:

1. 真空测漏法 / 喷枪(Vacuum Test: Spraying Test)
   1)可定位漏点
   2)精度很高
   3)氦气消耗少 
氦质谱检漏仪六种常见氦检方法


真空测漏法是业内Z长使用的一种检漏方法, 广泛应用于精密仪器, 真空钎焊, 压力容器等行业

氦质谱检漏仪 ASM340

氦质谱检漏仪 ASM 340
应用于 5G 基站铜连接器检漏, 真空模式下, 漏率要求 5x10-11pa m3/s

氦质谱检漏仪ASM390

氦质谱检漏仪 ASM 390
应用于航天领域的激光器零件检漏, 中空夹层设计,, 真空模式下, 焊缝处漏率要求 < 10-9 Atm.cc/s.

氦质谱检漏仪

氦质谱检漏仪 ASM 310
半导体用光刻机检漏, 整机真空度需要达到 1x10-11 pa 的超高真空. 

氦质谱检漏仪

氦质谱检漏仪 ASM 310
内部集成红外探测器的 2m3 杜瓦封装器件, 漏率要求 1.10-8Pa.m3/s. 

 

2. 吸枪法(Sniffing Test)
    1)可定位漏点
    2)无需抽真空
    电厂检漏一般使用吸枪法

氦质谱检漏仪

 

燃料电池车载供氢系统检漏

氦质谱检漏仪 ASM 340
应用于氢燃料电池车的车载供氢系统检漏, 氢气储存于高压气瓶中, 单个气瓶泄漏出的氢气浓度必须小于 6 ppm

电厂检漏

氦质谱检漏仪 ASM 340
对电厂管道, 汽轮机, 冷凝器等进行检漏, 吸枪式下, 漏率值要求 10-6 mbar

 

3. 真空累积测漏(Integral Vacuum Test)
   1)精度极高
   2)测整体泄露量
   3)易于在线检测
   4)重复性高
氦质谱检漏仪

 

消防器材钢瓶检漏

氦质谱检漏仪 ASM 340
采用真空模式检漏, 消防器材钢瓶内部冲有一定压力的氮氦混合气体, 氦气约占 5%的量



 

4. 背压法(Vacuum Test: Bombing Test)
    1)密封器件的指定检测方法
    2)高重复性  
氦质谱检漏仪

 

氦质谱检漏仪电子元件检漏

氦质谱检漏仪 ASM 340
应用于光通讯设备的封装激光芯片检漏, 激光芯片在 Box 内进行封装, 封装完成后的激光芯片漏率要求小于 5×10-8mbar l/s



 

5. 真空累积法(Integral test of enclosed parts under vacuum)
   1)易于自动化检测
   2)精度极高
   3)高重复性
氦质谱检漏仪

 

锂电池检漏

氦质谱检漏仪 ASM 340
新能源电动汽车锂电池外壳检漏. 漏率要求 3.5 x10-4 pa.m3/s, 氦质谱检漏仪集成在生产线中完成检漏



 

6. 常压吸枪累积法(Sniffing test: Integral test at atmospheric pressure)
    1)易于在线检测
    2)无需抽真空
    常压吸枪累积法广泛应用于航空航天领域
氦质谱检漏仪



上海伯东作为德国普发 Pfeiffer 授权代理商, 提供全系列氦质谱检漏仪产品的销售, 维修保养和技术支持, 为每个客户提供客制化的无损泄露检测方案
氦质谱检漏仪

若您需要进一步的了解氦质谱检漏仪详细信息或讨论, 请参考以下联络方式:
上海伯东: 罗先生


相关产品

参与评论

全部评论(0条)

获取验证码
我已经阅读并接受《仪器网服务协议》

推荐阅读

版权与免责声明

①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。

②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。

③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。

④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi

关于作者

作者简介:[详细]
最近更新:2024-09-05 09:08:13
关注 私信
更多

最新话题

最新文章

作者榜