原子力显微镜样品制备有何要求

原子力显微镜，英文简称AFM，主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构。具有接触模式、非接触模式和敲击模式3种操作模式。

原子力显微镜具有以下特点：

1、与传统的电子显微镜，特别是扫描电子显微镜相比，具有非常高的横向分辨率和纵向分辨率。横向分辨率可达到0.1~0.2nm，纵向分辨率高达0.01nm。

2、具有很宽的工作范围，可以在诸如真空、高温、常温、低温以及液体环境下扫描成像。

3、具有对样品的分子或原子进行加工的力行为。

4、样品制备简单，原子力显微镜所观察的标本不需要包埋、覆盖、染色等处理，可以直接观察。原子力显微镜样品如何制备，有何要求？下面简单介绍下：

①粉末样品：粉末样品的制备常用的是胶纸法，先把两面胶纸粘贴在样品座上，然后把粉末撒到胶纸上，吹去粘贴在胶纸上的多余粉末即可。

②块状样品：玻璃、陶瓷及晶体等固体样品需要抛光，注意固体样品表面的粗糙度。

③液体样品：液体样品的浓度不能太高，否则粒子团聚会损伤针尖。