BeNano 180 Zeta Max沉降法检测硅酸锆粒径

纳米粒度仪通过动态光散射技术DLS检测均匀稳定样品的粒径和粒径分布。DLS的最佳检测范围在几纳米至亚微米范围。DLS技术无法有效检测大颗粒的原因之一是大颗粒通常具有一定的沉降行为，这对动态光散射的准确性造成极大的影响。然而对于一些具有沉降特征的颗粒，可以利用其沉降行为进行粒度测试。

BeNano 180 Zeta Max纳米粒度及Zeta电位分析仪中在0°角设置一个PD检测器，通过检测透射光的光强随时间的变化，检测沉降样品的粒度和粒度分布信息。沉降法粒度测试的适合范围在几微米至几十微米，可有效弥补动态光散射对大颗粒检测的限制。

在这篇应用报告中，使用百特BeNano 180 Zeta Max纳米粒度及Zeta电位分析仪、BetterPyc 380多功能真密度仪、Bettersize 2600激光粒度分析仪检测了一种硅酸锆粉末的粒度信息。

原理

BeNano 180 Zeta Max纳米粒度及Zeta电位分析仪基于透射光路检测样品的透射光强度，然后基于斯托克斯方程：

计算体系的粒径和粒径分布信息，测试需要对应温度下分散介质的折射率、密度和粘度信息、对应温度下颗粒物的折射率和密度和样品体积。

实验

    其中样品密度通过BetterPyc 380多动能真密度仪检测，样品的粒径分别通过BeNano 180 Zeta Max纳米粒度及Zeta电位分析仪和Bettersize 2600激光粒度分析仪检测。

结果分析和结论

由测试结果可以看出，通过沉降法得到的结果具有较好的重复性，D50相对标准偏差优于5%，沉降法得到的分布结果和激光粒度分析仪具有较好的可比性。