上海晶诺微工业在线膜厚测量设备 QUASAR-S系列参数

上海晶诺微工业在线膜厚测量设备 QUASAR-S系列参数

作为面向实验室、科研院所以及工业生产现场的在线膜厚监测解决方案，QUASAR-S系列以高稳定性、实时性和易集成性著称。该系列在在线膜厚测量领域提供多档位测量范围、标准化数据接口与快速自适应校准能力，适用于涂层、膜层、薄膜片等多种工艺环节的在线监控与过程控制。

产品概览

• 在线非接触测量，基于光谱反射/干涉原理，配合自适应算法实现对多材料体系的高精度膜厚读数。
• 模块化结构便于现场集成，兼容涂布线、分切线、涂覆机组及半导体、光学薄膜生产线的在线监控需求。
• 实时数据采集与处理，典型采样率可达千Hz级别，支持线速工艺的闭环反馈控制。
• 高稳定性设计，低热漂移与高重复性，适应连续生产环境的温湿波动与静电干扰。
• 多种输出与通讯协议，Ethernet、OPC-UA、Modbus TCP以及USB/RS-232等多接口并存，便于与SCADA、MES及自控系统无缝对接。
• 环境适应性强，工作温度常温区间以及防护等级可选，支持简易维护与远程诊断。
• CE认证与RoHS合规，提供长期稳定的售后服务与现场培训支持。

主要型号与参数

以下参数为QUASAR-S系列的核心对比，具体型号可根据工艺需求选配。

• QUASAR-S-20

  
  

• 测量范围：0.5–20 μm

  
  

• 测量精度：±0.5 μm

  
  

• 重复性：±0.2 μm

  
  

• 数据刷新率：1 kHz

  
  

• 光源与检测：405 nmLED，光学传感器阵列

  
  

• 接口与输出：Ethernet, 4–20 mA, USB

  
  

• 校准方式：自动零点与日常自校准

  
  

• 电源功耗：<25 W

  
  

• 适用场景：高精薄膜涂层、PET、聚酰胺薄膜等低至中厚度工艺

  
  

• 外形与尺寸：紧凑型模块，便于夹装与前端对位

  
  

• QUASAR-S-50

  
  

• 测量范围：1–50 μm

  
  

• 测量精度：±0.8 μm

  
  

• 重复性：±0.3 μm

  
  

• 数据刷新率：800 Hz

  
  

• 光源与检测：405 nm LED 加高速探测

  
  

• 接口与输出：Ethernet, OPC-UA, Modbus TCP, USB

  
  

• 校准方式：自动标定板与薄膜参考样件

  
  

• 电源功耗：<40 W

  
  

• 适用场景：中厚膜涂布、光学薄膜、医疗膜层等

  
  

• 特点：更广的工作距离与更强的表面散射鲁棒性

  
  

• QUASAR-S-100

  
  

• 测量范围：2–100 μm

  
  

• 测量精度：±1.0 μm

  
  

• 重复性：±0.5 μm

  
  

• 数据刷新率：600 Hz

  
  

• 光源与检测：455 nm可选 LED 与多通道探测

  
  

• 接口与输出：Ethernet, OPC-UA, Modbus TCP, USB-C

  
  

• 校准方式：自动标定、在线温度补偿

  
  

• 电源功耗：<60 W

  
  

• 适用场景：中厚涂层、金属化膜、聚合物涂覆

  
  

• 特点：支持大面积视场，便于涂覆均匀性分析

  
  

• QUASAR-S-200

  
  

• 测量范围：5–200 μm

  
  

• 测量精度：±2.0 μm

  
  

• 重复性：±0.8 μm

  
  

• 数据刷新率：300 Hz

  
  

• 光源与检测：405/455 nm 双波长选配

  
  

• 接口与输出：Ethernet, OPC-UA, Modbus TCP, USB-C, CSV导出

  
  

• 校准方式：多点标定、阵列参考样件

  
  

• 电源功耗：<90 W

  
  

• 适用场景：厚膜涂层、工业膜材、保护膜等高厚度场景

  
  

• 特点：大视场与更深的耦合分析能力，便于制程综合评估

  
  

共性参数与特性

• 测量原理：非接触式光谱反射监测，结合干涉条纹分析与表面形貌滤波，具现场自适应校正能力。
• 精度与稳定性：通过温度补偿、日常自校准与参考样件，长期稳定性优于同级别同类产品的标定漂移。
• 数据接口与集成能力：提供OPC-UA、Modbus TCP等行业标准协议，支持历史数据存储、在线报警及过程控制信号输出。
• 软件与应用：自带数据分析软件，具薄膜厚度分布、界面反射分析、涂布均匀性评估等功能模块，支持自定义报表。
• 安装与维护：模块化设计，现场快速对位，维护简便，提供在线诊断与远程服务选项。

场景化FAQ

• 问：设备如何与现有涂布线实现快速集成？答：通过标准Ethernet/OPC-UA接口接入SCADA或MES，配合线速触发信号实现在线监控；可选安装在涂布机前后测量点，形成闭环控制的膜厚控制回路。
• 问：不同材料的膜厚测量需要额外的标定吗？答：通常需要对不同材料建立初始标定曲线，系统可自动加载材料模板并在日常使用时进行温度与老化补偿，减少人工干预。
• 问：日常校准步骤有哪些？答：每日进行零点检查，若环境温度波动较大则执行温度补偿校准；每周进行多点标定并确认参考样件一致性。
• 问：数据输出有哪些格式与接口？答：支持CSV、XLSX等通用格式导出，实时数据通过OPC-UA或Modbus TCP送达现场控制系统，便于过程追溯与统计分析。
• 问：设备对环境条件有哪些要求？答：工作温度通常在15–40°C，湿度可达高湿但不凝结；可选防护等级和冷却方案以应对高强度生产线的热负荷。
• 问：在高反射材料上的测量准确性如何？答：通过双波长/多角度测量与自适应光强控制，减少反射畸变；必要时可引入垂直对位的光路优化模块以提升鲁棒性。
• 问：是否提供现场演示和培训？答：提供厂家现场或远程演示，含初步工艺诊断、标定流程与数据解读培训，以及后续的远程诊断服务计划。
• 问：售后与服务周期如何？答：提供标准保修和扩展服务选项，包含年度校准、在线诊断、固件升级以及现场技术支持，确保设备在生产周期内持续稳定运行。

总结 QUASAR-S系列以多型号覆盖不同膜厚区间的需求，结合高稳定性、快速响应和开放的数据接口，为实验室与工业现场提供可追溯的在线膜厚监测解决方案。无论是薄涂层的均匀性分析，还是中厚膜的过程控制，QUASAR-S能够通过模块化配置与灵活集成，实现对膜层生长、干燥与固化阶段的全流程监控与优化。若您希望了解具体型号在您工艺线上的适配性、报价或定制化需求，欢迎联系现场技术支持，我们可以安排专项演示与现场参数评估。