上海晶诺微工业在线膜厚测量设备 QUASAR-S系列是在在线膜厚监测领域打造的一体化解决方案,面向实验室、研发、生产线以及工业级应用。该系列以在线实时数据、快速自校准和广泛材料适应性为核心,帮助用户在涂层沉积、薄膜制备、光学镀膜等工艺中持续掌控膜厚均匀性与工艺一致性。以下内容聚焦产品知识普及,便于工程技术人员快速了解型号差异、技术参数与应用特征。
型号与参数(典型范围,实际以官方数据为准)
QUASAR-S100
测量原理:基于光谱反射与干涉组合的在线膜厚测量技术,可在多波段条件下实现非接触监测
测量范围:0-2000 nm
测量精度与重复性:±1.5%(典型),重复性约≤0.5%R同级
采样速率:1 Hz 至 10 Hz,可根据产线要求自定义
光源与波长:可选单波段420-700 nm,亦支持多波段覆盖(380-1050 nm)以匹配材料特性
在线工况适应性:15-35°C,RH 20-70%(可选防护等级以现场需求定制)
数据接口与协同:Ethernet、OPC UA,支持远程诊断
电源与体积:100-240 VAC,约40 cm x 40 cm x 20 cm,重量约15 kg
特点概述:模块化探头、快速标定、低温漂,适用于中薄膜场景
QUASAR-S400
测量范围:0-4000 nm
测量精度与重复性:±1.2%,重复性≤0.4%R
采样速率:3-5 Hz
环境与适配:5-45°C,10-90% RH
接口与集成:Ethernet、USB、Modbus TCP
电源与尺寸:100-240 VAC,尺寸约60x50x25 cm,重量约25 kg
特色要点:适合中至厚膜在线监控,标定模板丰富,现场快速对位
QUASAR-S800
测量范围:0-8000 nm
测量精度与重复性:±1.0%,重复性≤0.3%R
采样速率:多达20 Hz
光源与覆盖:宽谱覆盖,UV-Visible-NIR,满足多材料需求
标定与补偿:自动标定、温度补偿机制
数据接口与云能力:OPC UA、MQTT、REST API
电源与尺寸:100-240 VAC,约75x60x28 cm,40 kg
应用要点:适用于厚膜与薄膜混合沉积场景,提供高对比度的膜厚响应
核心特点
典型应用场景
场景化FAQ 1) 该设备适合监测哪些材料与工艺?答:对金属、氧化物、有机涂层以及复合膜均有良好适应性,尤其在需要在线监测、快速标定和对位的薄膜沉积、涂布及光学镀膜工艺中表现突出。 2) 如何进行初次校准与现场标定?答:设备提供标准化标定模板与在线自检程序,用户在上线初期按指南进行一次性全量标定,后续可通过简单的日常自检维持标定状态。 3) 在线膜厚与产线速率的关系如何?答:系统通过高采样率与多波段算法实现对瞬态厚度变化的敏感捕获,适配中速到高速线性生产线,必要时可调节采样频率以避免数据冗余。 4) 与MES/工控系统的对接难度大吗?答:提供OPC UA、Modbus TCP、MQTT、REST API等主流接口,文档完备,二次开发与数据云端接入通常较为直接。 5) 如何确保不同材料的测量一致性?答:通过多波段测量与材料表征库的建立,结合自动标定、温度补偿与现场模板,提升跨材料的一致性与可重复性。 6) 维护周期与故障排除要点?答:日常检查探头清洁、连接端口完好、供电稳定;常见故障多为连接问题、标定偏离或温度异常,系统提供远程诊断和现场诊断两种方式,便于快速定位。 7) 如何选型,型号之间的差异点在哪里?答:关注测量范围、光谱覆盖、采样速率和数据接口。小型产线以S100为主,中等厚膜需求可考虑S400,厚膜或需要高频数据的场景适合S800,具体以工艺材料与实时性需求为准。 8) 价格区间与维护计划如何?答:价格受型号、防护等级、接口选项及服务包影响,需通过官方网站或经销渠道获取报价。维保通常包含远程诊断、年度标定、现场巡检与紧急响应服务。
若需进一步了解,请提供产线材料体系、目标膜厚范围、产线速度与现有数据接口情况。我可以据此帮助对 QUASAR-S 系列进行更的选型对比与实现路径规划。
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工业在线膜厚测量设备 QUASAR-S系列
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