理学XRF在锂离子电池研发中的应用

理学 ZSX Primus IV 采用先进的上照式顺序式 WDXRF 技术，可对从铍 (Be) 到锔 (Cm) 的主次元素进行高效定量测定。其广泛的样品适应性与极低的标准样依赖，助力科研人员在各类复杂材料分析中实现快速突破。

全新 ZSX Guidance XRF 软件：让精准分析触手可及

XRF 分析一定要由专家亲力亲为吗？答案是否定的。随着 ZSX Guidance 软件的问世，复杂的仪器操作已成为历史。我们将理学 XRF 专家的实战经验与核心知识融入系统，让软件成为您身边的“虚拟专家”。操作人员仅需录入基础样品信息及成分要求，系统便会自动完成从最优谱线选取、背景优化到谱线重叠修正等一系列复杂设置。让您的分析工作更智能、更高效。

上照式光学设计赋能：可靠性与轻元素分析的完美结合

理学 ZSX PrimusIV 以“上照式”结构重新定义了 XRF 的可靠性。由于光学系统位于样品上方，您再也不必为光路污染或繁琐的样品室清洁而担忧，从而获得更长的仪器连续运行时间。作为 WDXRF 领域的佼佼者，ZSX PrimusIV 搭载了行业领先的 30 微米超薄端窗光管，能够轻松应对最复杂的样品类型，并在轻元素探测领域展现出惊人的灵敏度。

元素分布图与多点分析：解密材料微观均匀性

理学ZSX PrimusIV 搭载了前沿的元素分布图（Mapping）分析模块，不仅能直观呈现成分分布的均匀性，还能敏锐捕捉微小的夹杂物。这种深度的 XRF 谱学分析能力，能够揭示许多传统分析方法难以发现的关键信息。结合灵活的多点分析功能，ZSX PrimusIV 还能有效规避非均匀材料带来的采样偏差，确保数据的真实可靠。

SQX 基本参数法与EZ-scan软件：XRF 极简分析

凭借 EZ-scan 功能，即便是面对完全未知的样品，用户也无需繁琐的预设即可开展 XRF 元素分析。这种极简的操作流程只需录入样品名并轻点鼠标，即可大幅节省研发时间。在底层技术上，SQX 基本参数法软件为快速分析提供了精准保障：它不仅能自动校正基体效应与谱线重叠，还能精准补偿轻元素的二次激发、环境波动及样品尺寸差异带来的干扰。配合内置的匹配库与优化扫描程序，让您在享受便捷操作的同时，获得行业领先的分析精度。

灵活的气体吹扫机制：支持氮气替代氦气分析

为了优化实验室运行成本，理学 ZSX Primus IV 现已支持使用氮气替代昂贵的氦气作为测量环境气。在氮气氛围下，SQX 能够覆盖从磷（P）到锔（Cm）的宽广元素分析范围。此模式下，系统将自动调整算法（注：此时不适用标准的 SQX 散射 FP 法），以确保在该成本优化方案下依然获得可靠的定量结果。

自 1951 年创立以来，理学在 X 射线检测领域深耕七十余载。依托深厚的技术积淀与持续的创新突破，我们打造了覆盖电池产业全流程、全场景的 X 射线解决方案体系。从原材料分析到制程优化，从实验室研发到智能化生产，理学的专业技术与服务已赋能全球顶尖电池企业，始终以精准可靠的检测技术为产业发展保驾护航。未来，我们将继续以创新为核心驱动力，致力于为全球客户提供更安全、更高效的解决方案。