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UNICORN α500 低频消磁系统（EMICancelingSystem，又称消磁器），DC与AC双模式主动消磁器，采用高精度纯直流测量/反馈/控制电路，适用于改善1000H以下的低频电磁干扰环境...

KLA iNano 纳米压痕仪可轻松测量薄膜、涂层和少量材料。该仪器准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。该仪器的力荷载和位移测量动态范围很大，因而可...

KLA iMicro 纳米压痕仪可轻松测量硬涂层，薄膜和少量材料。该仪器准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。可互换的驱动器能够提供大的动态范围的力荷...

HORIBA LA-960V2激光粒径分布分析仪秉承HORIBA 一贯的以独创设计的传统，其直观的软件、附件和高效的性能，能解决广泛的应用问题。

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪能实现对未稀释和稀释样品粒径分布的高精度测量。 颗粒的粒度是按粒径大小分类后测量的，这是离心分离法的关键特点。因此，一次测量就能得到宽范围内的精度结果。...

一台简洁小巧的装置能同时实现对纳米粒子三项参数的表征：粒径、Zeta电位和分子量。 纳米技术的研发是一个持续不断的过程，在分子和原子水平上控制物质以获得新、好、先进的材料和产品。为了得到效率高性能好...

Filmetrics F20膜厚仪是一款兼具优异性价比与出色便携性的单点测量设备，广泛应用于半导体、材料研发及质量控制领域。其操作简便、测量快速，为各类薄膜厚度检测需求提供了经济可靠的解决方案。

HORIBA UVISEL Plus 相位调制型椭圆偏振光谱仪基于新版的电子设备，数据处理和高速单色仪，Fastacq技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集。FastAcq为薄膜表征特殊设计，双调制...

KLA R54 四探针电阻率测量仪是KLA的电阻率测量产品。从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产品，薄膜电阻监控对于任何使用导电薄膜的行业都相当重要。KLA R54 四探针电阻率测量仪在功能上...

KLA R50 四探针电阻率测绘系统是KLA电阻测试系列的产品。电阻测量和监控对于任何使用导电薄膜的行业都相当重要，从半导体制造到可穿戴技术所需的柔性电子产品。KLA R50 四探针电阻率测量仪在金属...

Filmetrics F54-XYT-300 全自动Mapping膜厚分布测量系统，可以快速轻松地测量300 x 300mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量，速...

Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您...

​Table Stable在减震行业内有着相当丰富的经验。于此同时Table Stable测量技术也取得了很大的进步，一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统，只有主动隔振系统才能消除共振...

无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到...

Filmetrics F40 显微集成式微小区域薄膜测厚系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小...

UNICORN α200系列低频消磁系统（EMI Canceling System，又称消磁器）， 是在 G3000系列基础上研发产品， 采用高精度纯直流测量/反馈 /控制电路， 适用于改善 300H...