「PHL应力双折射偏光应力仪」价格、参数、图片

核心参数

测量时间：3s
测量重复精度：0.1nm
最小分辨率：0.001nm
测量波长：三波长测量

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产品特点：

WPA-200系列应力双折射测试仪器由Photonic Lattice公司开发，采用光子晶体制造技术和独特测量技术，能高速精确地测量光学薄膜或透明树脂的应力分布。其一次测量即可全面掌握视野范围内样品的应力分布，测量范围高达0-4000nm，并提供直观的二维图表数据。主要参数包括像素数384x288、测量波长523nm/543nm/575nm、观测区域100x136mm²、重量20kg等。适用于多种材料和器件的应力分析。

产品详情：

应力双折射测试仪器WPA-200,WPA-200-L

产品简介

WPA-200系列是Photonic lattice公司以其特有的光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

PHL偏光应力仪WPA-200,WPA-200-L

主要参数表 :

型号	WPA-200	WPA-200-L
测量范围	0-3500nm
重复性	<0.1nm
像素数	384x288
测量波长	523nm,543nm,575nm
产品尺寸	310x466x605.5mm	450x593x915.5mm
观测到的区域	100x136mm	250x340mm
重量	20kg	26kg
数据接口	GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）
电压电流	AC100-240V（50/60Hz）
软件	WPA-View

应力双折射仪应用领域：

玻璃，显示组件，注塑塑料件，拉伸纤维，光纤器件，微影手提袋，镜片毛坯，镜片，硅片，矿产，激光晶体，液态晶体，双折射晶体等。

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