PHL应力双折射仪
PHL PA-micro显微型应力双折射仪
PHL应力双折射仪器简介：
应力双折射仪，能够快速、测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。
PHL 偏光应力仪PA-micro在显微镜下快速测量PA-Micro：
| 型号 | PA-Micro |
| 测量范围 | 0-130nm |
| 重复性 | <1.0nm |
| 像素数 | 1120x868 |
| 测量波长 | 520nm |
| 尺寸 | 250x487x690mm |
| 观测到的面积 | 5倍物镜：1.1x0.8mm;10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um;50倍物镜：110x80um;100倍物镜：55x40um. |
| 自身重量 | 11kg |
| 数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号） |
| 电压电流 | AC100-240V（50/60Hz） |
| 软件 | PA-View（for Micro） |
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报价：￥9999
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日本 Photonic-lattice 原厂出品｜PHL PA-micro 显微型应力双折射仪 ✨ 核心技术：光子晶体制造技术 ✨ 精准检测：显微镜下快速获取双折射相位差、空间分布及方向 ✨ 适配领域：玻璃、晶体、聚合物薄膜等材料质检 ✨ 实用配置：多放大倍率 + 520nm 测量波长 + PA-View 专用软件 + 千兆以太网传输 高效助力材料质量分析与工艺管控！
ARMS SYSTEM无掩模光刻机UTA-IA将DLP投影仪与金相显微镜结合，实现微米级分辨率的图案投影曝光，无需使用掩模。该设备成本较低，操作简便，适合在多种环境下进行电极和其他图案的形成，广泛应用于科研和小批量生产中，如薄膜FET、霍尔效应测量样品制备等，特别适用于石墨烯等材料的研究与开发。技术参数包括1μm的分辨率和大范围批量曝光能力。
WPA-200系列应力双折射测试仪器由Photonic Lattic公司开发，采用光子晶体制造技术和独特测量技术，能高速精确地测量光学薄膜或透明树脂的应力分布。其一次测量即可全面掌握视野范围内样品的应力分布，测量范围高达0-4000nm，并提供直观的二维图表数据。主要参数包括像素数384x288、测量波长523nm/543nm/575nm、观测区域100x136mm²、重量20kg等。适用于多种材料和器件的应力分析。
日本 Photonic Lattice 公司研发的 PA 系列双折射 / 应力测量仪，凭借高精度与快速测量核心优势脱颖而出。设备创新采用光子晶体偏光阵列片及专属双折射算法，可在数秒内完成毫米级规格样品的检测，双折射测量覆盖 0-130nm 全量程。产品兼具操作便捷、视野广阔、无旋转光学滤片（维护简便）、高像素偏振相机配置等优势，适配光学镜片、智能手机玻璃基板、蓝宝石等材料测量场景，支持多元分析功能与外部控制，为研发及质量管控提供高效解决方案。
OPTELICS HYBRID+是一款结合白光共聚焦和激光共聚焦技术的高性能显微镜，由日本Lasertec制造，集成了微分干涉观察、垂直白光干涉测定、相差干涉测定及反射分光膜厚测定等六项功能。它采用双共聚焦光学系统，确保仅聚焦处的反射光被检测到，从而提高测量精度和效率。该设备能够在一个系统中完成多种测试任务，适用于需要高精度表面形貌分析与膜厚测定的应用场景。
空芯光纤是光通信领域新型传输介质，以空气（或惰性气体 / 真空）为纤芯传输介质，替代传统光纤的玻璃纤芯，核心优势在于突破玻璃介质对光传输的性能限制。
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营业执照已审核
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沪公网安备 31011502008050号