Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪 WPA-200-NIR
主要特点：
WPA-200-NIR能高速的测量/分析波长为850nm的双折射分布
安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场
WPA-200-NIR的功能
1. 高速测量面的双折射/相位差分布
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
2. 测量数据的保存/读取
全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等
3. 丰富的图形创建功能
从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图。 复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出
Photonic Lattice偏光应力仪WPA-200-NIR
主要技术参数
| 型号 | WPA-200-NIR |
| 测量范围 | 0~3500nm |
| 重复精度 | <1.0nm |
| 测量尺寸范围 | 3×4mm~100×133mm |
| 像素数 | 384*288 pixels |
| 测量波长 | 810nm，850nm 870nm |
| 尺寸 | 270x337x631mm |
| 自身重量 | 13kg |
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Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪WPA-200-NIR可在数秒内完成850nm波长下的双折射分布高速测量，适用于硫系、红外透明树脂等材料的光学畸变评估。配备简便易用的WPA-View软件，支持自由分析相位差分布及定量数据。该设备具有丰富的图形创建功能，可保存和读取测量数据，并提供多样的结果显示方式。其规格包括像素数384*288，测量范围3×4mm至100×133mm，尺寸270x337x631mm，重量13kg，适合量产环境使用。
日本 Photonic-lattice 原厂出品｜PHL PA-micro 显微型应力双折射仪 ✨ 核心技术：光子晶体制造技术 ✨ 精准检测：显微镜下快速获取双折射相位差、空间分布及方向 ✨ 适配领域：玻璃、晶体、聚合物薄膜等材料质检 ✨ 实用配置：多放大倍率 + 520nm 测量波长 + PA-View 专用软件 + 千兆以太网传输 高效助力材料质量分析与工艺管控！
ARMS SYSTEM无掩模光刻机UTA-IA将DLP投影仪与金相显微镜结合，实现微米级分辨率的图案投影曝光，无需使用掩模。该设备成本较低，操作简便，适合在多种环境下进行电极和其他图案的形成，广泛应用于科研和小批量生产中，如薄膜FET、霍尔效应测量样品制备等，特别适用于石墨烯等材料的研究与开发。技术参数包括1μm的分辨率和大范围批量曝光能力。
WPA-200系列应力双折射测试仪器由Photonic Lattic公司开发，采用光子晶体制造技术和独特测量技术，能高速精确地测量光学薄膜或透明树脂的应力分布。其一次测量即可全面掌握视野范围内样品的应力分布，测量范围高达0-4000nm，并提供直观的二维图表数据。主要参数包括像素数384x288、测量波长523nm/543nm/575nm、观测区域100x136mm²、重量20kg等。适用于多种材料和器件的应力分析。
日本 Photonic Lattice 公司研发的 PA 系列双折射 / 应力测量仪，凭借高精度与快速测量核心优势脱颖而出。设备创新采用光子晶体偏光阵列片及专属双折射算法，可在数秒内完成毫米级规格样品的检测，双折射测量覆盖 0-130nm 全量程。产品兼具操作便捷、视野广阔、无旋转光学滤片（维护简便）、高像素偏振相机配置等优势，适配光学镜片、智能手机玻璃基板、蓝宝石等材料测量场景，支持多元分析功能与外部控制，为研发及质量管控提供高效解决方案。
OPTELICS HYBRID+是一款结合白光共聚焦和激光共聚焦技术的高性能显微镜，由日本Lasertec制造，集成了微分干涉观察、垂直白光干涉测定、相差干涉测定及反射分光膜厚测定等六项功能。它采用双共聚焦光学系统，确保仅聚焦处的反射光被检测到，从而提高测量精度和效率。该设备能够在一个系统中完成多种测试任务，适用于需要高精度表面形貌分析与膜厚测定的应用场景。
空芯光纤是光通信领域新型传输介质，以空气（或惰性气体 / 真空）为纤芯传输介质，替代传统光纤的玻璃纤芯，核心优势在于突破玻璃介质对光传输的性能限制。
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沪公网安备 31011502008050号