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仪器网>产品中心> 北京北广精仪仪器设备有限公司>介电常数>薄膜全自动介电常数测试仪>储能新材料高低频介电频谱仪

储能新材料高低频介电频谱仪

¥350000 (具体成交价以合同协议为准)
北京北广精仪 GDAT-S 北京 海淀区 2026-01-23 15:45:30
售全国 入驻:11年 等级:金牌 营业执照已审核
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产品特点:

储能新材料高低频介电频谱仪由高频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对绝缘材料进行 高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

产品详情:

储能新材料高低频介电频谱仪工作频率范围是20Hz~1Mhz 2Mhz 5Mhz(选配), 三种选项它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。储能新材料高低频介电频谱仪中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp(电容值)读数可以直接不用人工计算得到。

核心性能‌:采用双CPU架构和数字信号处理技术,典型测量精度达0.05%,支持20Hz-2MHz宽频测量,可量化电感、电容、电阻等参数,并具备ESR测量和品质因数Q值分析功能‌

应用场景‌:适用于电路板故障检测,能通过寄生参数异常分析定位元件漂移问题‌。

技术优势‌:基于自动平衡电桥原理,基本精度0.05%,测试速度快5.6ms/次,支持20V交流信号和±40V直流偏置,阻抗测试范围达1GΩ‌高频介质损耗测量补充

对于更高频或特殊介质材料(如陶瓷、液体),可结合Q表与专用夹具

应用场景适配‌

‌研发/实验室‌:选择带图形化分析功能的;

‌生产质检‌:需分选功能和HANDLER接口;

‌现场检测‌:便携式系列更灵活。关键注意事项

‌校准与误差控制‌:标准电阻校准可提升精度,尤其对毫欧级阻抗测试‌;

‌阻抗范围匹配‌:高频陶瓷电容需恒定电平测试,大电感需带直流偏置电流源;

‌预算平衡‌:北广精仪GDAT系列性价比优于进口品牌,但条件下(如太欧阻抗)需更型号‌

验证测试需求‌:电解电容仅需100Hz/120Hz,而薄膜电容需100kHz双频测试;

‌接口兼容性‌:优先选支持USB以适配现有系统‌

GDAT-S是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪,体积小,紧凑便携,便于上架。本系列仪器基本精度为0.05%,测试频率高2MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口,能满足自动分选测试,数据传输和保存的各种要求。

◎可直接得到介电常数和介质损耗 不用人工计算

◎可测试电阻

◎ 4.3寸TFT液晶显示

◎ 中英文可选操作界面

◎ 高5MHz的测试频率

◎ 平衡测试功能

◎ 变压器参数测试功能

◎ 高测试速度:13ms/次

◎ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能

◎ V、I 测试信号电平监视功能

◎ 内部自带直流偏置源

◎ 可外接大电流直流偏置源

◎ 10点列表扫描测试功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻

◎ 内建比较器,10档分选和计数功能

◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存

◎ 测量数据可直接保存到U盘

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示,保证了ε和D值精度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1~105

LCR阻抗分析仪的关键词可分为以下几类:一、核心功能关键词

‌阻抗分析‌:测量电阻、电感、电容的复数阻抗特性‌

‌LCR测试‌:专用于电感(L)、电容(C)、电阻(R)的元件参数测量‌

‌频率范围‌:如20Hz-130MHz、50Hz-100kHz等,不同型号覆盖不同频段

‌精度等级‌:如0.01%、0.05%等,反映测量准确度二、技术特性关键词

‌直流偏置‌:支持偏置电流源

‌扫描测试‌:支持频率扫描或参数扫描分析‌

‌夹具适配‌:弹性夹具(引线元件)、贴片夹具(SMD元件)

‌防静电设计‌:适用于敏感元件的测试环境三、应用场景关键词

‌元器件测试‌:电容、电感、电阻的批量检测

‌磁性材料分析‌:如半导体、磁性材料的阻抗特性研究‌

‌电子‌:电缆、电子元件的性能验证四、辅助功能关键词

‌上位机软件‌:支持数据统计分析

‌接口协议‌:RS-232、USB、LAN、GPIB等通信接口‌

‌校准补偿‌:高精度测试必需的步骤

介电常数测试仪GDAT系列的技术简介

引言

在电子材料与绝缘材料研发领域,精确测量介电常数和介质损耗角正切值(D值)对于材料性能评估至关重要。GDAT系列介电常数测试仪作为一款先进的高频阻抗分析设备,其生产技术融合了精密测量、自动化控制和现代电子技术。本文将详细介绍该仪器的生产流程、关键技术及质量控制要点。

一、产品概述与生产定位

GDAT系列介电常数测试仪是专为绝缘材料设计的智能化测试系统,采用上下位机协同工作模式,实现自动检测与数据直读。该产品定位为高端精密仪器,主要服务于:

· 电子元器件制造企业

· 绝缘材料研发机构

· 质量检测认证中心

· 高校材料实验室

二、核心生产技术流程1. 硬件系统生产

‌(1)高频阻抗分析仪模块‌

· 采用数字合成技术生成20Hz-2MHz测试信号

· 精密阻抗匹配网络设计(10Ω/30Ω/50Ω/100Ω可选)

· 高精度ADC转换电路(分辨率达10mHz)

· 低噪声信号放大系统

‌(2)测试装置生产‌

· 平板电容器精密加工:

· 电极表面平整度控制在μm级

· 电极间距可调机构设计

· 防氧化镀层处理

· 样品夹具标准化生产:

· 接触式电极(适用于固体材料)

· 非接触式电极(适用于液体材料)

‌(3)嵌入式系统开发‌

· 4.3寸TFT液晶显示驱动电路

· 中英文双语操作系统开发

· 高速数据采集与处理算法

· 多接口通信模块(RS232/USB/LAN等)

2. 软件系统开发

‌(1)自动测试程序‌

· 频率扫描算法(20Hz-2MHz)

· 自动平衡校正功能

· 变压器参数测试模块

· 10点列表扫描测试程序

‌(2)数据处理系统‌

· 介电常数自动计算模型

· 介质损耗角正切值算法

· 数据存储与检索系统

· 异常值自动识别功能

‌(3)人机交互界面‌

· 图形化操作界面设计

· 测试参数快速设置

· 实时数据可视化

· 错误提示与自检系统

三、关键技术突破点1. 高精度测量技术

· 电容测量分辨率达0.00001pF

· D值显示精度6位小数

· 基本准确度0.05%(10kHz)

· 温度补偿算法2. 自动测试系统

· 上下位机协同控制架构

· 测试过程全自动化

· 无需人工计算直接输出结果

· 自动电平调整(ALC)功能

3. 宽频带测试技术

· 频率范围覆盖20Hz-2MHz

· 可选扩展至5MHz

· 频率步进精度10mHz

· 多频点自动扫描

4. 多功能集成设计

· 变压器测试功能集成

· 平衡测试功能

· 直流偏置源(内部/外部)

· 多参数同时测量(C,L,R,Z等)

四、质量控制体系1. 原材料检验

· 电子元器件老化测试

· 结构件尺寸精度检测

· 软件代码静态分析

2. 生产过程控制

· 模块化生产流程

· 关键工序双人复核

· 环境参数实时监控

3. 成品测试验证

· 标准样品比对测试

· 长期稳定性测试

· EMC电磁兼容测试

· 环境适应性测试

4. 校准与认证

· 符合GB/T 1409-2006标准

· 满足ASTM D150要求

· 通过IEC60250认证

· 定期计量校准

五、生产环境要求1. 场地要求

· 防静电生产车间

· 恒温恒湿环境(20±2℃, 45%-75%RH)

· 独立测试屏蔽室2. 设备配置

· 高精度数控加工设备

· SMT贴片生产线

· 自动光学检测仪

· 老化测试设备3. 人员要求

· 电子工程师团队

· 软件开发者

· 精密机械加工技师

· 质量检测专员

六、应用案例与生产验证1. 固体绝缘材料测试

· 测试频率范围:20Hz-2MHz

· 介电常数范围:1-105

· 精度验证:通过标准样品比对2. 液体介质测试

· 专用电极设计

· 防泄漏结构

· 温度补偿算法3. 高分子材料测试

· 宽频特性分析

· 损耗角正切值测量

· 数据稳定性验证

七、生产挑战与解决方案1. 高频信号干扰

· 解决方案:多层PCB设计、屏蔽罩、滤波电路2. 微小电容测量

· 解决方案:四端测量法、低噪声放大器、温度补偿3. 系统集成复杂度

· 解决方案:模块化设计、标准化接口、自动化测试八、未来生产发展方向1. 智能化升级

· 增加AI数据分析功能

· 开发云端数据管理

· 实现远程控制测试2. 精度提升

· 更高分辨率ADC

· 更精密温度补偿

· 更严格的EMC设计3. 应用扩展

· 开发专用测试夹具

· 扩展材料数据库

· 增加行业专用测试程序

结语

GDAT系列介电常数测试仪的生产技术体现了现代精密仪器制造的先进水平。通过严格的生产流程控制、创新的技术设计和全面的质量验证,该系列产品能够为绝缘材料研究提供可靠的高精度测试数据。随着技术的不断发展,GDAT系列的生产工艺将持续优化,以满足材料科学领域日益增长的测试需求。

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