TESCAN超高分辨率场发射电镜MAGNA

主要特点

• 表征纳米材料的*佳解决方案
  TESCAN 专利的 Triglav™型 SEM 镜筒具有三物镜系统 TriLens™ ，与同类设备相比功能更多样化。UH-resolution 物镜提供的超高分辨率非常适合于形貌细节观察，使研究人员能够更好的分析纳米级样品。全新的高分辨 Analytical 物镜可实现无漏磁成像，是磁性样品观察和分析（EDS, EBSD）的理想选择。第三个物镜可以实现多种模式观测，并对束斑形状进行优化，进而改善成像和分析性能。

• 可以获得不同衬度图像，最大程度洞察样品
  TESCAN MAGNA 配备 TriBE™ 探测器系统：包含三个背散射电子探测器，可以根据角度和能量的差异选择性地收集信号，Mid-Angle BSE 和 In-Beam f-BSE 探测器位于镜筒内，可以接收中角度和轴向的背散射电子，而样品室内背散射电子探测器则用于接收广角背散射电子。同时，MAGNA 还配备 TriSE™ 探测器系统：共有三个二次电子探测器，可在所有工作模式下以最佳方式获取二次电子：In-Beam SE 探测器可以在非常短的工作距离下接收二次电子；SE（BDM）为电子束减速模式下的二次电子探测器可以提供最佳的分辨率；样品室内的二次电子探测器则能提供最佳形貌衬度的图像。

• 更加优秀的成像能力
  新一代 Triglav™ 镜筒中的镜筒内探测器系统经过进一步优化，信号检测效率提高了三倍以上。此外，该系统还扩展了检测能力，能够采集能量过滤后的轴向背散射电子信号，这样就可以通过选择性地收集低损耗背散射电子来获得更好的衬度和表面灵敏度。

TESCAN MAGNA SEM