产品介绍:
CrystalSCAN | 平行结晶系统
CrystalSCAN 是一个台式、自动化、平行结晶监测平台,有助于确定多个样品的溶解度曲线和 MSZW(亚稳区宽度),并优化所需的结晶过程。标准系统支持 8 个单独控制的反应器,每个反应器都配备了 HEL 专有的结晶监测探头 CrystalEYES。
除了每个样品的自动搅拌、加热和冷却之外,CrystalSCAN 还可以自动添加选择的溶剂/反溶剂,在每个循环结束时单独稀释每个样品。因此,可以在一系列实验条件下自动确定溶解点和成核点的数据,从而分别生成溶解度曲线和表征 MSZW。前者为优化所需的结晶过程提供了基础,而后者则提供了对更大规模过程行为的洞察,为过程开发提供信息和促进。
高通量与高数据内容相结合,加速了所需结晶过程的开发和优化,并缩短了商业化时间。



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已咨询298次药物结晶分析仪
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已咨询430次结晶研究
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已咨询269次多功能流动化学反应系统
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已咨询3748次比表面积及孔径分析仪
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已咨询258次其它仪器
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已咨询891次肉品新鲜度测定仪
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已咨询858次肉品新鲜度测定仪
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已咨询12337次质构仪
MDpicts温度依赖型寿命测试系统该设备可对材料电学特性进行非接触、无损伤的单点测量。总体而言,MD-PICTS设备适用于多种材料及不同制备阶段的测量,涵盖硅原料、裸片、各类中间制备阶段样品,以及砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)等化合物半导体。
HTpicts专门用于宽禁带半导体中的少子寿命和深能级缺陷检测,用于宽禁带材料在高温区间的非接触、无损伤的温度依赖型测量,涵盖少子寿命、电学特性表征及深能级缺陷研究。
用于生产和研究实验室应用的MDpicts pro(高分辨率变温少子寿命测试仪系统)。全自动设备,以非接触、无破坏方式绘制材料的电输运特性。
用于科研及生产应用的MDpicts pro(原位变温缺陷能级表征系统)。使用非接触式光电导率衰减法、深能级瞬态谱(DLTS)技术,尤其针对温度依赖的载流子寿命测量系统(面扫和单点)。
自动化晶圆定向检测系统,在线式晶圆取向图谱分析,完全符合晶圆厂标准
自动化碳化硅晶锭粘接定向仪,Ingot XRD SiC 兼具高产能与高精度,助力先进碳化硅晶圆高效生产
晶锭自动化单晶定向系统,可使现有设备满足 200 毫米及 300 毫米规格晶锭的高级外径 / 缺口技术标准
高质量且耐用的分析X射线管 为X射线衍射仪、晶体定向仪配套使用。本产品的通用性强,可以在国内外多种仪器上替代进口同类产品使用,需复杂调试即可稳定适配,为实验分析提供可靠支持。