ZeGage™ Plus 激光干涉仪是用于3D形貌定量测试,和精密机械表面粗糙度检测的理想非接触式检测工具。
它工业化的设计提供快速,精确的测量方案,并且外形紧凑、性价比高,能够放在生产车间工作,而不需要振动隔离和特殊的隔离装置。
同时交互式的控制软件MxTM提供了简单而精细的图形图像来帮助你的加工处理。
性能:
ZG的结合抗震的非接触式的光学测量技术,无需振动隔离平台或者隔离装置。
纳米级的表面定量计量精度提供了出色的计量能力。
关联的2D和3D标准,符合ISO 25178面形粗糙度参数标准。
百万像素的高分辨率图形传感器可以在几秒时间内进行快速面测量,并给出的表面细节成像。
集成的自动聚焦和聚焦辅助功能使操作非常简单并且减少了由于操作误差。
可选配机动样品台,使高精度检测的自动测量和大面积拼接成为可能。
测量各种材料的面形,提供个中参数,包括表面结构,面形和台阶高度等等的2D和3D图形。
可选择放大倍率和视场为系统提供更多选择。
Mx软件提供全面的用于表面数据图像处理、分析和报告的工具。
配备的T型槽样品台使测量操作简单、可以重复的定位。
生产力和价值
与同类产品相比较(包括探针式接触式轮廓仪)具有高性价比,及高测量性能。
紧凑的机型,及具有抗震技术SureScan(TM)技术,使Zegage可以整合在工厂里的任何地方。
非接触式的测量系统,没有耗材,不用担心使用成本。
操作简便,只需简单培训即可上手,也降低了维护成本。
大功率、长寿命的LED光源使设备可以长期无障碍运行。



ZeGage™ Plus 激光干涉仪型号:ZeGage™ Plus
ZeGage™ Plus 激光干涉仪货号:21031601
型号:ZeGage™ Plus

报价:¥1
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Proflim 3D是一款基于白光干涉仪的光学轮廓仪,采用相位扫描干涉技术(PSI)对纳米级特征进行测量,以及采用垂直扫描干涉技术(VSI)对亚微米至毫米级特征进行测量。 Proflim 3D的程序设置简单灵活,可以进行单次扫描或多点自动测量,适用于研发和生产环境。
※ 从纳米级到毫米级的3D台阶高度 ※ 3D粗糙度、波纹度、翘曲度和形状,纹理表征 ※ 3D缺陷表面形貌、缺陷表征 ※ 大型透明薄膜的表面进行高分辨率扫描 ※ 高粗糙度,低反射率,划痕表征
满足计量检测用户更稳定、更高精度、更便利的使用要求;双频激光干涉仪
专为光刻机配套开发的高精度测量系统;双频激光干涉仪,进口设备转国产化的优选产品
FUJINON IR10 富士红外激光干涉仪 产品信息 品牌:FUJINON 型号:IR10 产地:日本
ZeGage™ Plus 激光干涉仪是用于3D形貌定量测试,和精密机械表面粗糙度检测的理想非接触式检测工具。
ZYGO的Verifire™ MST激光干涉仪通过波长调制技术和ZYGO新的傅立叶变换方法,可以进行三个甚至四个平行面的测量,不仅可以显示所有的面,并且可以排除其他的面而单独显示你所需要的面。