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F20 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20
- 产地:美国
测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统如果您正在寻找一款仪器,需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率,F20您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好,通过USB与电脑连接,测量数据结果不到一分钟就能得到。
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Filmetrics 薄膜厚度测量系统F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列
- 产地:美国
只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 。
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F10-AR 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F10-AR
- 产地:美国
F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。 F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训,就可以进行厚度测量。
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F50 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F50
- 产地:美国
自动化薄膜厚度绘图系统Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标准和客制化夹盘,样品直径可达450毫米。(耐用的平台在我们的量产系统能够执行数百万次的量测!)測绘圖案可以是极座標、矩形或线性的,您也可以创造自己的测绘方法,并且不受测量点数量的限制。內建数十种预定义的测绘圖案。
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F54 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54
- 产地:美国
动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54光谱测量系统,可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。
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F20 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20
- 产地:美国
测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统如果您正在寻找一款仪器,需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率,F20您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好,通过USB与电脑连接,测量数据结果不到一分钟就能得到。
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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F3-sX
- 产地:美国
F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测zuida厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较薄膜层表面较粗糙且不均匀,F3-sX系列配置10微米的测试光斑直径因而可以快速容易的测量其他膜厚测试仪器不能测量的材料膜层。而且仅在几分之一秒内完成。
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F60-t 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F60-t
- 产地:美国
依靠 F60光学膜厚测量仪的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。在约 45 秒的时间就可以扫描完标准 49 点分布图。
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F54-XYT-300薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54-XY-300
- 产地:美国
借助F54-XYT-300的光谱反射系统,可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54-XY-200
- 产地:美国
借助F54-XY-200光谱反射系统,可以轻松地测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。
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FSM - 应力及厚度在线量测系统
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: FSM 900 系列/FSM 128 系列
- 产地:美国
产品简介FSM 900 系列新型材料在高温下很容易氧化。他们还容易产生氣體及发生物质变化,FSM 900TC-Vac 型号给工艺提供了一个封闭的加热腔。它可以应用於完全的充氣环境或高真空的模式。集成化的 FSM 900TC-Vac 系统可以快速协助新材料处理热稳定和热负载。• 温度範围: 可达9000C (200mm 及 300mm晶圆)• Thermal Desorption Spectroscopy (TDS -系统可以起独立的TDS作用- 分析整个或破损的晶圆,监测在温度循壞内的各種各样的氣體排放。
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美国布鲁克台阶仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: DektakXT
- 产地:美国
纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量,应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、YL、科学研究和材料科学领域
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Filmetrics 膜厚仪 薄膜厚度测量仪 F20 F30 F40 F50 F60
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20 F30 F40 F50 F60
- 产地:美国
美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上zui具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间,测量精度高达1 埃,测量稳定性高达 0.7 埃,测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括:生物医学(Biomedical), 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs)等。
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Bruker布鲁克 DektakXT 探针式表面轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Dektak XT
- 产地:美国
布鲁克探针式表面轮廓仪(又称“台阶仪”)历今四十载,积累大量技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量,到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试,Dektak台阶仪适用面广,为用户提供准确性高,重复性佳的测量结果。 在教育、科研领域和半导体制程控制,Dektak广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。近几年,Dektak系统已经成为发展的太阳能电池市场zui的测试工具。
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KLA单点膜厚测量仪F20
- 品牌:美国KLA
- 型号: F20
- 产地:美国
KLA的 Filmetrics 系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量,其测量范围从 nm-mm,可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精确测量,被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。Filmetrics 具有 F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t 等多款产品,可测量从几 mm 到 450mm 大小的样品,薄膜厚度测量范围 1nm 到mm
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KLA全自动膜厚测试仪F60
- 品牌:美国KLA
- 型号: F60
- 产地:美国
一、 简介KLA的Filmetrics系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量,其测量范围从nm-mm,可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精确测量,被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款产品,可测量从几mm到450mm大小的样品,薄膜厚度测量范围1nm到mm级。Filmetrics F60 系列的产品可像F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率,但它增加了许多用于生
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薄膜测量系统
- 品牌:美国New span
- 型号: TF-168
- 产地:美国
NewSpan成立于1997年,是一家位于佛罗里达州迈阿密的高科技公司。NewSpan正在开发和销售先进技术和传感器以支持各种国防、国土安全和商业应用。公司拥有以下实验室每个实验室都涵盖一定的技术领域:非线性光学实验室、光学和成像实验室、光子学实验室、无掩模光刻实验室。
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DJH Designs膜厚仪
- 品牌:加拿大DJH Designs
- 型号:
- 产地:加拿大
DJH Designs膜厚仪DJH Designs 系统属性DJH Designs 膜厚度测试系统从使用简单出发结合功能与准确性为干膜厚度的测量建立了一个标准。这个系统是功能化的,它不仅使用简单而且还囊括了一直以来客户期望 DJH Designs 产品所具备的性能、质量以及可靠性等所有的高标准。DJH Designs 膜厚度测试系统在生产线与质量控制试验室两方面同时发展。精密计算机系统的控制保证了其准确性与重复性。系统的心脏部分是精密设计的钻孔仪和高分辨率的摄像监控器。在一块涂层的
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美国Frontier Semiconductor Line 连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: Frontier Semiconductor-02
- 产地:美国
连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备设计, 片电阻不受针尖距离影响多种型号以供选择
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美国Frontier Semiconductor Line Card
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: Line Card
- 产地:美国
Line Card 3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量Film Stress薄膜应力量测仪FEOL Electrical Characterization 电学特性Thin wafer metrology 晶圆测量学Film Adhesion漆膜附着力测试Global Film Stress AdhesionLocal and Lattice StressThickness, Topography & Geomet
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美国Frontier Semiconductor 晶圆厚度测量系统FSM 413 EC
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: FSM 413 EC
- 产地:美国
非接触式厚度测量,可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的晶圆,也可测量粘附在蓝膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆,可应用于堆叠芯片和微机电系统。
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美国Frontier Semiconductor 薄膜应力及基底翘曲测试设备FSM 500TC
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: FSM 500TC
- 产地:美国
FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评估薄膜的热力学性能和稳定性特性,主要应用于半导体,三-五族,太阳能,LED,数据存储,微机电和面板产业。这些特性有助于检测到诸如薄膜开裂,空隙,突起等可能在生产过程中导致严重的问题。在新工艺和材料投入生产前,FSM500TC作为检验其成熟性的工具,起着重要的作用。
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美国Frontier Semiconductor 薄膜应力及基底翘曲测试设备FSM 128
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: FSM 128
- 产地:美国
FSM率先推出基于商业化应用的激光扫描光学杠杆(Optilever)技术,主要应用于薄膜应力和晶圆弯曲测量。该设备频繁使用在分析解决诸如薄膜裂纹,分层,突起和空隙是如何形成的问题。FSM128系列设备,适合在半导体,三-五族,太阳能,微机电,数据存储和液晶面板行业的下一代器件的研发和生产中使用。
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美国博曼 金属镀层测厚仪XRF
- 品牌:美国Bowman
- 型号: B系列 BA-100
- 产地:美国
关于美国博曼: 美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可极ng准GX地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。
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