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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT 3D
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
品牌:日本基恩士
型号:VR-6000
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千眼狼 LV2300EH(超高速中大视场激光轮廓测量仪)
- 品牌:合肥千眼狼
- 型号: LV2300EH
- 产地:合肥
高速;可靠;高精;易用
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非接触式3D轮廓仪
- 品牌:韩国Nano System
- 型号: NanoSystem NV2400
- 产地:韩国
通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。
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Bruker - 光学轮廓仪/台阶仪/FTIR
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Ultima系列
- 产地:德国
产品简介Ultima活体多光子显微镜系列快速、灵活的活体深层成像平台更深 (970um)、更快 (45FPS@12KHz)、更清楚、并适合大动物成像。 Ultima活体多光子显微镜应用:• 活体成像• 神经的在体成像• 行为模式的在体成像• 光激活Ultima IntraVital 主要用于从小鼠到猕猴的活体成像,提供了优异的成像深度和成像速度。Ultima IntraVital拥有以下特质:• 高速3D成像• 误差小于20 nm的光刺激jing准控制• 物镜下适合对大动物进行操作的
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三维表面形貌仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap 1000WLI
- 产地:美国
仪器简介: 提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。
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双模式表面三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D(0)
- 产地:美国
仪器简介:NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面4、薄膜和厚膜的台阶高度测量5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量6、微电子表面分析和MEMS表征主要特点: 包含接触式和非接触式两种扫描方式 高精度&
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三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D
- 产地:美国
仪器简介: NanoMap-D扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等 2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等 3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面 4、薄膜和厚膜的台阶高度测量 5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量
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纳米级三维测量仪
- 品牌:德国Klocke Nanotechnik
- 型号: KLOCKE
- 产地:德国
仪器简介: 德国Klocke Nanotechnik公司生产的纳米级三维测量仪(3D Nanofinger)俗称纳米三坐标,是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸,表面轮廓、粗糙度等,并可与超精密微加工、微组装系统组合,进行在线检测、质量控制等。系统拥有5个自由度,可以根据样品设定测量路径,测量范围达到厘米级甚至更大。现已广泛应用于超精密机械加工、MEMS器件、半导体微电子加工、光学、分子生物学和精密工程。技术参数:设备主要参数:
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usurf custom光学轮廓仪
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: usurf custom
- 产地:德国
产品介绍 usurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。 NanoFocus μsurf custom三维共聚焦表
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太阳能电池3D显微镜
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: μsurf solar
- 产地:德国
产品介绍usurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间内(约几秒)精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。NanoFocus usurf solar太阳能电池3D显微镜
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中图仪器SJ5700轮廓仪
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: 中图仪器SJ5700
- 产地:深圳
【产品简介】中图仪器SJ5700轮廓仪测量原理为直角坐标测量法,即通过X轴、Z轴传感器,测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点,通过电器组件,将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机,软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理,标注所需的工程测量项目。【测量项目】中图仪器SJ5700轮廓仪可测量各种类型工件表面的线要素、点要素,点与点的距离、线与线的距离,各要素的位置度包括:距离、平行度、垂直度、角度、槽深、槽宽、半径,可进行直线度分析,凸度分析、轮廓度分析。【应用行业】中图仪器SJ5700轮廓仪广泛用于机
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光学轮廓仪 Zeta-388 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-388
- 产地:浦东新区
Zeta-388支持3D量测和成像功能,并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统,可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、低拥有成本,以及SECS / GEM通信,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-300 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-300
- 产地:浦东新区
Zeta-300支持3D量测和成像的功能,并提供整合隔离工作台和灵活的配置,可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-300具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-20 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-20
- 产地:浦东新区
Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。
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探针式轮廓仪 HRP®-260 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: HRP®-260
- 产地:浦东新区
HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至300微米的台阶高度测量功能。 P-260配置支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D及3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 HRP-260配置的功能与P-260相同,并增加了可以生产类似AFM扫描结果的高分辨率平台。 HRP平台具有先进的图案识别算法,可增强系统间程序的移植,这是24x7生产环境的关键要求。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-170 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-170
- 产地:浦东新区
Tencor P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 Tencor P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性能的稳定和系统间配方的无缝移植- 这是24x7生产环境的关键要求。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-17 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-17
- 产地:浦东新区
Tencor P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-7 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-7
- 产地:浦东新区
Tencor P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
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探针式轮廓仪 Alpha-Step® D-500 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Alpha-Step® D-500
- 产地:浦东新区
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和先进的光学系统以及加强视频控制。
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光学轮廓仪 Profilm3D
- 品牌:美国KLA
- 型号: Profilm3D
- 产地:浦东新区
Filmetrics® Profilm3D®和Filmetrics Profilm3D-200光学轮廓仪采用白光干涉测量(WLI)技术,是经济实用的非接触式3D表面形貌测量系统。Profilm3D系列可以测量从纳米到毫米级的表面特征,并生成高分辨率3D表面数据和TotalFocus™图像(景深等于垂直扫描距离的彩色3D图像)。Profilm3D的菜单设置简单而灵活,可进行单次多点扫描或自动多点测量,非常适合研发和量产应用。
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VITT QM60-H快速测量仪
- 品牌:南京维埃迪光
- 型号: QM60-H
- 产地:
QM60 快速测量仪系列更“迅速”且“准确”,放置后仅按一键即可测量,是一种全新的尺寸测量形式。一次性测量长度、宽度、弧度、直径、角度、孔距等,大幅度提高了测量的精度和速度,有效地消除人为误差,是取代卡尺、投影仪、影像仪、工具显微镜等传统精密测量仪器的**选择。快速 fast一键式测量一个工件仅需几秒,可一次性测量多个产品工件,更高的效率让您专注于制造高品质的产品。简单 quick区别于传统的影像仪、工具显微镜等测量仪器。测量前需校正,测量时需要移动XY 坐标台, 操作复杂繁琐,QM60-V一键式测量仪无
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VITT QM60-V快速测量仪1
- 品牌:南京维埃迪光
- 型号: QM60-V
- 产地:
QM60 快速测量仪系列更“迅速”且“准确”,放置后仅按一键即可测量,是一种全新的尺寸测量形式。一次性测量长度、宽度、弧度、直径、角度、孔距等,大幅度提高了测量的精度和速度,有效地消除人为误差,是取代卡尺、投影仪、影像仪、工具显微镜等传统精密测量仪器的**选择。快速 fast一键式测量一个工件仅需几秒,可一次性测量多个产品工件,更高的效率让您专注于制造高品质的产品。简单 quick区别于传统的影像仪、工具显微镜等测量仪器。测量前需校正,测量时需要移动XY 坐标台, 操作复杂繁琐,QM60-V一键式测量仪无
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上海仪电科仪WGL光电轮廓仪
- 品牌:上海仪电物光
- 型号: WGL
- 产地:
仪器简介:光电轮廓仪的应用范围很广,它主要用于测量各种精密加工零件表面的微观三维结构,如表面粗糙度;零件表面的刻线;刻槽的深度和镀层的厚度等。具体地说,如量块、光学零件表面的粗糙度;标尺、度盘的刻线深度;光栅的槽形结构;镀层厚度和镀层边界处的结构形貌;磁(光)盘、磁头表面结构测量;硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。由于仪器测量精度高,重复性好,具有非接触和三维测量等特点,并采用计算机控制和快速分析、计算测量结果,本仪器适用于各级测试、计量研究单位,工矿企业计量室,精密加工车间和高等院校及科学研究单位等
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表面粗糙度仪
- 品牌:日本三丰
- 型号: SJ-210
- 产地:日本
SJ-210表面粗糙度仪 SJ-210新款表面粗糙度仪 178-561-01DC ■ 对应各国的粗度规格表示机。 ■ 大型LCD屏幕窗口,易于清晰读取。 ■ 使用触控式面板(具抗污性),操作简易。 ■ 可将数据储存于记忆卡(选购品)。 ■ 任意长度设定机能。 ■ 仅按PRINT键即可藉由内藏式打印机打印出量测之结果(可选择不同之打印方式)。 ■ 内藏充电电池,本体携带方便也可收置检出器。
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LuphoScan高速非接触式3D非球面光学面形测量系统
- 品牌:英国泰勒·霍普森
- 型号: LuphoScan120/260/420
- 产地:英国
LuphoScan测量平台是一款基于多波长干涉技术(MWLI)的干涉式扫描测量系统。 它专为旋转对称表面的超精密非接触式3D形状测量而设计, 例如非球面光学透镜。该系统能为高质量的光学表面3D形状测量提供**效益。特征LuphoScan平台能够轻松进行非球面、球面、平面和自由曲面的测量。 该仪器的主要特性包括高速测量、特殊表面的高灵活度测量(例如:拐点的轮廓或平坦的尖点),最大物体直径可达420mm。 因为采用多波长干涉技术(MWLI)传感器技术, 因此能够扫描各种表面类型如透明材料、金属部件和研磨表面。
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PGI Matrix 高速全自动高精密光学测量系统
- 品牌:英国泰勒·霍普森
- 型号: PGI Matrix 1/3/5
- 产地:英国
PGI Matrix配有PGI技术, 快速自动的测量台, 以及全新、易用的软件界面, 能够提供高精度、快速的测量。 无论是单一透镜或是批量透镜测量加载和程序设置都非常简单, 自动定位调整能够保证高精度的测量和平衡分析。 自动去除毛刺和半径优化能够得到可重复的测量结果。 全新的PGI Matrix界面为全自动操作, 是生产车间的理想选择。 软件操作非常容易掌握, 能够为高容量应用的多部件测量提供最简易的程序设置。 快速实用的分析工具能够帮助定位调整和提高测量速度, 大大缩短了自动测量周期。 先进的非球面分析
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轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-500LS
- 产地:美国
轮廓仪NanoMap-500LS接触式三维表面台阶仪NanoMap-500LSNanoMap 500LS探针三维台阶仪特点常规的探针轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合 双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到zuiyou化的小区域三维测图 针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 接触式探针轮廓仪在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 针尖扫描
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三维表面轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-LT
- 产地:美国
NanoMap-1000WLI非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像、大的扫描范围,可定制的波长范范围,使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频
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三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap - D
- 产地:美国
三维轮廓仪NanoMap-D NanoMap-D三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。该款仪器可以看做是表面研究的万用表,采用接触式和非接触式功能集于一身的设计特点,弥补两种模式的局限,发挥表面形貌仪的测量极限。光学非接触式有速度快,直接三维成象,不破坏样品等特点。探针接触模式方便快捷,制样简单,测量材料广泛。两种模式相结合可以对更多形状、性状、材质的试样进行表面形貌的研究。该轮廓仪测量表面可以覆盖90%以上材料表面。
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美国Rtec变焦轮廓仪\形貌仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: MFT-VF
- 产地:美国
产品介绍:美国Rtec公司变焦式三维形貌仪是微纳米级质量保证的光学三维粗糙度轮廓仪,其原理是采用目前世界领xian的自动变焦(Focus-Variation)技术。该技术将小景深的光学系统与垂直扫描wan美地结合在一起。产品特点: 能够同时测量表面形貌和粗糙度 能够测量小半径和小角度 能够测量超过80°的斜面 可获得真实的表面颜色信息 具有较高的测量速度 适用于苛刻环境下的检测(有噪音或振动) 提供360°的
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轮廓仪/粗糙度仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP-Roughness
- 产地:美国
美国Rtec公司的UP系列三维轮廓仪/粗糙度仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦,白光共焦,拉曼光谱仪等,可以把这些设备自由组合在一起,以实现客户的不同需求WLI1000有如下特点快速直观的操作较高的计算程序,精确的高测量速度和简便的操作软件,使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜该WLI-1000 带有6物镜转轮,包括多个物镜:长焦,短焦,不同数值孔径,投射镜头等电子器件先进的控制器,低机械
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美国Rtec光学轮廓仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP-
- 产地:美国
美国Rtec公司生产的UP系列光学轮廓仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦,白光共焦,拉曼光谱仪等,可以把这些设备自由组合在一起,以实现客户的不同需求光学轮廓仪UP有如下特点快速直观的操作较高的计算程序,精确的高测量速度和简便的操作软件,使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜该UP 带有6物镜转轮,包括多个物镜:长焦,短焦,不同数值孔径,投射镜头等电子器件先进的控制器,低机械噪声,自校准系统,
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KOSAKA LAB ET 5000台阶仪(探针接触式轮廓仪/微细形状测定机)
- 品牌:日本KOSAKA
- 型号: ET5000
- 产地:日本
产品介绍 株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年创立的公司,也是日本第一家发表光学干杠杆表面粗糙度计,是一家具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为代表性单位且在日本精密测定业占有一席无法被取代的地位。 ET5000可以自动高精度测量尺寸880mm×230mm的大型样品。加载/卸载样品平台是可选的。其具有良好的稳定性、高精度和强大的功能。在平板显示器FPD,晶片,硬盘和其他纳米尺度上的应用广泛。 主要特点:
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三维表面形貌仪
- 品牌:上海孚光精仪
- 型号: 3D profiler
- 产地:德国
这款三维表面形貌仪是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量。三维表面形貌仪根据国际标准计算2D和3D参数,使用zuixin的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠zuixin的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力。三维表面形貌仪创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表
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中图仪器SJ5700轮廓测量仪
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: SJ5700
- 产地:深圳
【产品概述】中图仪器SJ5700轮廓测量仪可测量各种精密机械零件的素线轮廓形状参数,角度处理(坐标角度,与Y坐标的夹角,两直线夹角)、圆处理(圆弧半径,圆心到圆心距离,圆心到直线的距离,交点到圆心的距离,直线到切点的距离)、点线处理(两直线交点,交点到直线距离,交点与交点距离,交点到圆心的距离)、直线度、凸度、对数曲线、槽深、槽宽、沟曲率半径、沟边距、沟心距、轮廓度、水平距离等形状参数。【产品结构】【性能特点】1、 高精度、高稳定性、高重复性:满足被测件测量精度要求。1) 选用高精度光栅测量系统和高精度
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NPFLEX 3D 光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NPFLEX 3D
- 产地:美国
NPFLEX 三维表面测量系统 针对大样品设计的非接触测试分析系统 灵活测量大尺寸、特殊角度的样品 高效的三维表面信息测量 垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节 快速获取测量数据,测试过程迅速高效 NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量 布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来
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Bruker ContourGT – InMotion 三维光学显微镜
- 品牌:
- 型号: ContourGT-InMotion
- 产地:美国
ContourGT InMotion 三维光学显微镜卓越的器件动态分析功能ContourGT InMotion 三维光学显微镜具有zuixianjin、最可靠、最全面的表面分析功能,能够实时表征运行中的动态MEMS器件及其他微器件的形态。这种台式显微镜系统运用白光干涉的原理,能够以非接触的方式测量激励状态下的MEMS器件表面三维形貌特征,测量范围从0.1nm到10mm。ContourGT InMotion 将BrukerZL频闪技术与工业领xian的Vision 数据采集/分析软件wan美结合,能够同时
- 轮廓仪
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