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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT 3D
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
品牌:日本基恩士
型号:VR-6000
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
- 品牌:日本基恩士
- 型号: VR-6000
- 产地:日本
最快1 秒对整个面进行高精度3D 测量 消除死角,光泽面也可测量 一台应对图纸指示
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基恩士 3D 轮廓测量仪 工作头 (标准机型) VR-6100
- 品牌:日本基恩士
- 型号: VR-6100
- 产地:日本
规格型号VR-6100类型工作头控制器VR-6000观察视野低倍(大视野)15 英寸显示器上的倍率 12×横向24.0 mm纵向18.0 mm15 英寸显示器上的倍率 25×横向12.0 mm纵向9.0 mm15 英寸显示器上的倍率 38×横向8.0 mm纵向6.0 mm15 英寸显示器上的倍率 50×横向纵向4.5 mm高倍(高分辨率)15 英寸显示器上的倍率 40×横向7.6 mm纵向5.7 mm15 英寸显示器上的倍率 80×横向3.8 mm纵向2.9 mm15 英寸显示器上的倍率 120×横向2.
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NanoSystem NV-F2700 非接触式3D光学表面轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NV-F2700
- 产地:
NanoSystemNV-F2700非接触式3D光学表面轮廓仪为LCD、ICPackage、Substrate、Build-upPCB、MEMS,EngineeringSurfaces等领域提供纳米级别精度的量测.
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NanoSystem NV-3200 非接触式3D光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NV-3200
- 产地:
NanoSystem NV-3200 非接触式3D光学轮廓仪 NanoSystem成立于2003年,为半导体、显示器和其他精密机械行业提供了用非接触式表面测量方法进行测量的解决方案。NanoSystem已经建立了非接触式2D、3D测量和检测系统的核心技术,并成为该市场世界***的解决方案的***。尤其在半导体、显示屏和精密机械方面的应用,得到包括LG,SAMSUNG等******公司的认可。高精度(Z轴分辨率达0
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NanoSystem NV-2400非接触式3D光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NV-2400
- 产地:
NanoSystemNV-2400非接触式3D光学轮廓仪采用Patented算法和白光干涉技术创造H/W和S/W。获得Patented的WSI/PSI技术测量各种表面材料和参数,包括表面纹理、形状、台阶高度和更高(0.1nm-垂直和0.2um-横向分辨率)的二维和三维剖面。
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NanoSystem NV-1800非接触式3D光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NV-1800
- 产地:
NanoSystemNV-1800是一种手动的非接触式三维轮廓仪,适用于任何表面。其设计简单,忠实于基本功能。获得Patented的WSI/PSI技术测量各种表面材料和参数,包括表面纹理、形状、台阶高度和更高(0.1nm-垂直和0.2um-横向分辨率)的二维和三维剖面。
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Bruker ContourX-500 三维光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Contour X-500
- 产地:德国
三维光学轮廓仪ContourX-500ContourX家族的桌面旗舰型号,全自动设计,带编码器的样品台,头部倾斜设计,和AcuityXR实现高横向分辨率ContourX-500ContourX-500 光学轮廓仪是功能最全面的自动化台式系统,可快速完成非接触式三维表面计量。ContourX-500 具有卓越的 Z 轴分辨率和准确度,并具备布鲁克落地式白光干涉(WLI)仪器广受业界认可的所有优势,而占地面积更小。该款轮廓仪可轻松自主配置,适用于从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制(QA/QC)计量
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Bruker ContourGT-X 三维光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourGT-X
- 产地:德国
ContourGT-X 三维光学轮廓仪提供高性能非接触表面测量,适用于实验室研究和生产过程控制。该测量系统融合了十代白光干涉(WLI)创新和设计,可在业界最大的视场范围内提供最高的垂直分辨率。该系统主要包括全自动化系统与生产界面,一个大型电动 XYZ 平台、扫描头的倾斜/俯仰以及一个集成气浮式防震台。ContourGT-X 专为满足最苛刻的研发、质量保证和工艺质量控制需求而设计,提供了具有计量能力的顶级三维光学精度和测试稳定性解决方案。用于工艺质量监控定标性测试系统ContourGT-X布鲁克光学轮廓仪是
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KLA Zeta™-20 光学轮廓仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta™-20
- 产地:美国
Zeta™-20光学轮廓仪Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™ 技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境,具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。Zeta-20HR 提供专业的太阳能电池量测解决方案。产品说明Zeta-20台式光学轮廓仪是一款非接触式3D显微镜及表面形貌测量系统。该 3D 光学量测系统由已获得的 ZDot 技术及多模式光学组件提
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Bruker Contour Elite X 三维光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Contour Elite X
- 产地:德国
Contour Elite X 全自动、大样品台三维光学轮廓仪具有无与伦比的测量能力,可在业界最大视场范围内达到最高垂直分辨率,并拥有高保真彩色成像或单色成像功能。其所具有的非接触准确性、高效率、操作便利性和成像能力适用于各类生产计量应用,在同类产品中独占鳌头。自设计伊始即针对最苛刻的研发、质量保证和工艺质量控制需求,Contour Elite X 提供了具有计量能力的顶级三维光学轮廓分析解决方案。可靠光学测量,通知可量化的研发和QA/QC决定。真色、成像揭示以前隐藏的微观细节。柔韧、分期和固定,根据您的
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Bruker ContourSP 三维光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourSP
- 产地:德国
三维光学轮廓仪ContourSP专为测量PCB面板的每一层而设计,为半导体封装工业提供高性能、高可靠性和高通量的测量ContourSPContourSP 大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术,使高密度互连 PCB(HDI-PCB)基板的测量效率比上一代白光干涉(WLI)仪器增加了一倍以上。该系统专用于在制造过程中测量 PCB 面板的每一层,融入了一大批先进测量功能,大幅提升半导体封装行业的量产性能、便利性、可靠性和效率。具有计量功能的 ContourSP 采用简单易用的生产界面,通过用户自定义输
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NanoScan 2s Si/3.5/1.8小光束扫描狭缝轮廓仪
- 品牌:以色列OPHIR
- 型号: NanoScan 2s Si/3.5/1.8
- 产地:以色列
这种 NanoScan 扫描狭缝分析系统使用其硅检测器准确捕获和分析 190nm - 1100nm 的波长。它具有适用于小光束的狭缝尺寸、接近实时的数据捕获率、可选的功率测量功能,并以 CW 或 kH
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NanoScan 2s Pyro/9/5扫描狭缝轮廓仪
- 品牌:以色列OPHIR
- 型号: NanoScan 2s Pyro/9/5
- 产地:以色列
这种 NanoScan 扫描狭缝分析系统使用其热释电检测器准确捕获和分析 190nm - >100µm 的波长。它具有适用于大多数光束的狭缝和孔径尺寸、接近实时的数据捕获率、可选的功率测量功能,并以
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NanoScan 2s Ge/9/5扫描狭缝轮廓仪
- 品牌:以色列OPHIR
- 型号: NanoScan 2s Ge/9/5
- 产地:以色列
这种 NanoScan 扫描狭缝分析系统使用其锗检测器准确捕获和分析 700nm - 1800nm 的波长。它具有适用于大多数光束的孔径尺寸、接近实时的数据捕获率、可选的功率测量功能,并以 CW 或
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NanoScan 2s Ge/3.5/1.8小光束扫描狭缝轮廓仪
- 品牌:以色列OPHIR
- 型号: NanoScan 2s Ge/3.5/1.8
- 产地:以色列
这种 NanoScan 扫描狭缝分析系统使用其锗检测器准确捕获和分析 700nm - 1800nm 的波长。它具有适用于小光束的孔径尺寸、接近实时的数据捕获率、可选的功率测量功能,并以 CW 或 kH
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光学轮廓仪 Contracex-100型
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Contracex-100
- 产地:德国
Contracex-100型光学轮廓仪具有行业最佳的Z轴分辨率提供恒定的,精确的测量,独立放大。 Contracex-100型光学轮廓仪拥有无与伦比的计量价值,提供流线型设计,而不损害测量能力。 用户友好的软件接口,提供对预编程过滤器和分析的广泛库的直观访问。
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三维光学轮廓仪 Contracx-200
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Contracx-200
- 产地:德国
三维光学轮廓仪Contracx-200拥有自动化能力,为更快的测量和分析启用例程。 机动化XY阶段,为定量计量提供低噪声、高速操作. 三维光学轮廓仪Contracx-200的耐振动紧凑设计,提供测量的稳定性和量具的可重复性.
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三维光学轮廓仪 CONTEBGT-X
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: CONTEBGT-X
- 产地:德国
三维光学轮廓仪CONTEBGT-X完全自动化,提供最快,最简单的纳米尺度测量。 三维光学轮廓仪CONTEBGT-X可定制生产接口,提供流线型流程工作流、自动映射和负载测量配方。 三维光学轮廓仪CONTEBGT-X能自行校准,激光基准,确保最佳的生产计量,重复性和鲁棒性。
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三维光学轮廓仪 Contour Elite X
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Contour Elite X
- 产地:德国
三维光学轮廓仪Contour Elite X具有可靠光学测量,通知可量化的研发和QA/QC决定。 三维光学轮廓仪Contour Elite X的真色、成像揭示以前隐藏的微观细节。 柔韧、分期和固定,根据您的具体样本和应用情况量身定做。
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三维光学轮廓仪 ContourSP
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourSP
- 产地:德国
三维光学轮廓仪ContourSP综合性工业计量,实现快速、高精度的PCB生产控制。 三维光学轮廓仪ContourSP独树一帜的系统特征,确保最高的产量,最大的正常运行时间,最低的成本。 最高值吞吐量,提供2倍更快的数据,而不影响准确性。
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三维光学轮廓仪 HD 9800+
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: HD 9800+
- 产地:德国
三维光学轮廓仪HD 9800+完全自动化,提供高速滑块CCT和PTR特性。 三维光学轮廓仪HD 9800+专利尖端/倾斜头,使快速自动化计量具有最高的重复性。 流线型软件,简化了操作员对操作员的数据存储、分析和报告的使用。
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Veeco/Wyko NT1100 表面轮廓仪/粗糙度仪 白光干涉仪 销售维修
- 品牌:美国Veeco
- 型号: NT1100
- 产地:美国
Veeco/Wyko NT1100 表面轮廓仪/粗糙度仪 白光干涉仪 销售维修 产品信息 品牌:Wyko 型号:NT1100
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日本小坂KOSAKA ET4000L 探针式轮廓仪 表面轮廓测量仪 现货 议价
- 品牌:日本小坂
- 型号: ET4000L
- 产地:日本
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美国KLA(科磊)光学轮廓仪Zeta-20
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-20-18604053809
- 产地:美国
Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境,具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。 18604053809
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美国KLA(科磊)光学轮廓仪P3D
- 品牌:美国KLA
- 型号: P3D
- 产地:美国
2D价格、3D性能 Profilm3D是经济实惠、最先进的光学轮廓仪。使用行业标准的白光干涉仪 (WLI) 和可选的相移干涉仪 (PSI) 来生成高质量的表面轮廓和无限深度的真彩色图像。 王树刚 18604053809
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光学轮廓仪 Zeta-388 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-388
- 产地:美国
Zeta-388支持3D量测和成像功能,并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统,可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、低拥有成本,以及SECS / GEM通信,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-300 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-300
- 产地:美国
Zeta-300支持3D量测和成像的功能,并提供整合隔离工作台和灵活的配置,可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-300具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-20 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-20
- 产地:美国
Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境.
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上海舒耀粗糙度轮廓仪CX系列
- 品牌:上海舒耀
- 型号: CX系列
- 产地:静安区
CX系列粗糙度轮廓仪采用先进的一体化传感器,并全面更新优化了操作软件,使仪器测量更精确,重复性更稳定,使用更方便。更有大规格测量仪器供新老用户选择。 本公司积极向国际水平看齐,经努力研制开发了CX系列粗糙度轮廓仪。仪器采用天然金刚石触针及硬制合金斧形触针(可互换),电感式触头及高精度传感器,智能化程度高,测量精度高,稳定性重复性好,外形美观,打印输出使用方便,使适用于机械加工制造行业及轴承制造行业使用。并可为用户测量特殊工件而开发并为客户量身定制设计专用的软件。 可用于长轴类、筒类、曲面零件、丝杠、螺纹等高精度部件的内外径尺寸、内外轮廓形貌参数测量,非常适合航空、船舶、高铁、新能源汽车、医疗等行业。该产品支持量程定制,适用于各行业领域的实验室或工作现场使用。
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中图SuperViewW1光学轮廓测量仪
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: SuperViewW1
- 产地:深圳
一是非接触高精密测量,不会划伤甚至破坏工件; 二是测量速度快,不必像探头逐点进行测量; 三是不必作探头半径补正,光点位置就是工件表面测量的位置; 四是对高深宽比的沟槽结构,可以快速而精确的得到理想的测量结果。
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光学轮廓测量仪
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: CH系列
- 产地:深圳
中图仪器CH系列光学轮廓测量仪具有高稳定性、高精度、高效率等特点,能够满足现代工业大批量、高精度的测量需求。继承了数字运动精度和运动控制的特点,并结合了视觉软件的创新,可检测待测物体的上表面的盲孔、沟槽等复杂的、难以测量的部位尺寸,支持各种工件测量。适用于易变形、大小尺寸多、颜色种类多、并且不成批次工件的尺寸轮廓测量。测量功能1.量测工具:扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量: 点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、距、
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东京精密(Accretech) 表面粗糙度轮廓形状测量仪
- 品牌:东京精密
- 型号:
- 产地:日本
东京精密(Accretech) 表面粗糙度轮廓形状测量仪 这是一款高精度技术的新型混合检测器,同过去的检测器不同,将大范围内精度稳定的线性光栅尺和小范围内高分辨率的差动电感混合一体。 这两种不同的传感器在测量时同时感应,zui大限度地发挥传感器的潜能。
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美国Nanovea PS50光学轮廓仪
- 品牌:美国Nanovea
- 型号: PS50
- 产地:美国
产品简介 PS50型三维表面形貌仪是美国NANOVEA公司推出的一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品原理:采用白光共聚焦色差技术 - 利用白光点光源,光线经过透镜后产生色差,不同波长的光分开后入射到被测样品上。- 位于白光光源的对称位置上的超灵敏探测器
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德国布鲁克 光学轮廓仪系统ContourGT-I
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourGT-I
- 产地:德国
适用于科研和生产的高质量表面测量手段ContourGT-I 3D 光学显微镜将三十多年表面测量经验和技术融合到单一平台上,实现调整校准自动便捷、测量角度灵活多样、测试成像性能优异及表面定量测试方案。
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数显快速孔径千分尺568-364昆山铭尚
- 品牌:东京精密
- 型号: 568-364
- 产地:日本
日本三丰原装进口孔径千分尺 快速测量孔径尺寸,数显型高精度
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表面粗糙度轮廓一体机SURFCOM1800G铭尚精密厂家
- 品牌:东京精密
- 型号: SURFCOM1800G
- 产地:日本
东京精密粗糙轮廓仪一体机,先进的测量软件,优质的产品服务
- 轮廓仪
- 仪器网导购专场为您提供轮廓仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选轮廓仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。