- 2025-04-25 14:16:15 亚纳米
- “亚纳米”是一个长度单位，它介于纳米和原子尺度之间，通常用于描述比纳米级更小但仍大于原子尺度的结构或现象。在科学和工程领域，尤其是纳米技术和材料科学中，“亚纳米”尺度上的研究和控制对于开发新材料、新器件以及理解微观世界的物理和化学过程具有重要意义。这一尺度上的研究常常需要高精度的测量和表征技术。
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- 通过低成本大面积的纳米阵列结构制造工艺成功设计并制备了一种亚5nm针尖支撑的超高均一度半悬浮态纳米光机械超表面，并巧妙地实现了光能到机械能的低损耗传输
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亚纳米问答
- 2023-11-27 09:53:55PFA亚沸酸纯化器超净实验室用高纯酸提取器
- PFA酸纯化器一、产品简介酸纯化器：亦称高纯酸蒸馏纯化器、酸蒸馏器、亚沸腾蒸馏装置，简称酸纯化器(南京-瑞尼克-科技)，常用于超净化实验室，痕量分析实验室、地球化学、海洋系统，地质地矿、地质大队、多晶硅、材料等行业提取的高纯酸。二、工作原理 酸纯化器是利用热辐射原理，保持液体温度低于沸点温度蒸发，再将其酸蒸气冷凝从而制备高纯酸以及高纯试剂，广泛应用于样品处理及分析实验中。三、产品说明可以满足ICP-OES、ICP-MS低的检测限需要及苛刻的分析应用中提供实验室级超纯酸，设备主体由高纯度的PTFE和PFA制造而成，与酸试剂接触容器采用进口PFA材质，本底更低，无腐蚀，无污染，可以处理HNO3、HCL、HF等实验室的常用酸。实验证明将金属杂质含量约10PPB的酸经过一次蒸馏后，金属杂质含量可以降低到0.01PPB左右。若对酸要求更高，可增加提纯次数。广泛用于地质、光伏、质检等行业的痕量、超痕量分析。四、产品特征1.设备主体由高纯度的PTFE和PFA制造而成，与酸试剂接触容器采用进口PFA材质，本底更低，无腐蚀，无污染；相比石英材质更耐用不易碎。2.环保节能硅胶加热套，环形加热，加热面积大，出酸效率高，液晶显示屏可阶段控温，温度稳定，连续，均匀，样品回收率高；3.PFA酸纯化器腔体密闭，几乎无酸气逸出环保节能，圆形塔顶收集纯酸，无需冷凝水冷凝，4.仪器零部件简单，安装操作方便、腔体半透明配有刻度线加热蒸馏清晰可见，占地面积小，通风橱可放多台使用。5.酸纯化器纯化一次后可将金属杂质含量约10PPb的酸可以降低到0.01PPb左右；多次纯化器效果更好。5.维修简单，售后保障，相对国外酸纯化器，国产的售后维护是快捷简单，我公司酸纯化器一体成型，电子控制器和主体部分分开，更换损坏零件方便。6.产品配套齐全，配套的PFA试剂瓶，PFA烧杯，备用特氟龙透明管、试剂瓶密封盖，无需外购其他产品，安装及可使用。五、、参数1、 产品型号：CH-II-PFA 1000ml2、 规格大小： RNK1000ml 货号：RNKPFA01CHL3、 生产厂家：南京瑞尼克科技，品牌：NRKFSLYQ4、 对应规格产酸率：60ml/h左右 5、 加热方式：电加热，液晶显示屏，可阶段控温、实现无人值守6、 主要材质构成：采用高纯的PFA 、PTFE、PP材质，主体液体接触部分全部使用PFA材质，圆形腔体透明可视；7、 用于痕量分析中超纯酸（HNO3、HCL、HF）的制备；8、 可以排除废液，刻度液位计，腔体内容积直观可视，方便观察9、 控温精度：±1℃，控温范围：室温-200℃；10、 酸纯化过程在密闭环境下进行，避免仪器本身实验环境二次污染，整个流程几乎没有酸气逸出；11、 可持续加酸，取纯酸；不怕蒸干，不用冷却水；13、 纯化器外置PP材质架子，实验摆放安全稳固；12、仪器安装操作方便、插电就可使用，占地面积小，节约实验室空间；14、 将金属杂质含量约10PPb的酸经过一次蒸馏后，金属杂质含量可以降低到0.01PPb左右；15、 用于痕量分析中超纯酸的制备，通过纯化低成本的酸试剂到高纯酸，节省成本多达90% 配件齐全，2组特氟龙PFA试剂瓶+PFA配液烧杯专注自然成！期待与您的合作！南京瑞尼克科技开发有限公司
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- 2022-04-24 16:42:23纳米多孔氧化铝
- 本品为化学法合成的白色球形粉末，无重金属、 无放射性元素。物理指标①晶相 γ相②AI2O3含量 ≥99.9③ 介孔 0.38④ 原晶粒度 50-60纳米化学指标①本品用于喷墨打印纸的涂层， 为纸张提高光泽。②増加涂料的耐磨性，具有助流、 提高上粉率、防结块等特点应用范围①导热硅胶②电子灌封胶③粉末涂料公众号搜索粉体圈，联系报价。联系方式：400-869-9320转8990更多信息进入店铺查看：https://www.360powder.com/shop.html?shop_id=1727
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- 2023-05-22 13:22:32奇亚籽粉的氧化稳定性分析-OXITEST油脂氧化分析仪
- 许多研究已经证明,饱和脂肪和反式脂肪酸的摄入量增加心血管疾病的发病率密切相关,而脂质丰富的ω3脂肪酸的消费减少的风险这一病理。奇亚籽(Chia seeds flour鼠尾草)种子是富有的自然来源α亚麻酸(C18:3)营养代表ω3的重要来源。奇异籽是一种起源于中美洲的粮食作物，在前哥伦布文明的饮食中占有重要地位，使用奇异籽作为一种新型食品配料已得到欧洲议会和欧洲理事会的批准。游离或酯化的不饱和脂肪酸对氧气的吸收是食品质量重要的改变之一。脂肪的自动氧化是一种由氧、光、高温、金属痕迹，有时还有酶促进的化学反应。OXITEST可以测定各种样品类型的氧化稳定性，不需要对脂肪进行初步分离。根据常见的应用，由于温度和氧气压力这两个加速因素，OXITEST加快了氧化过程。该仪器测量两个腔室内的压力变化，监测样品中反应组分的吸氧情况，并自动生成一个IP值。（IP表示诱导期，是到达氧化起始点所需的时间，对应于可检测的酸败程度或氧化速率的突然变化。诱导期越长，抗氧化能力越强。）样品：Chia seeds flour Fat labeled value: 30 %仪器：油脂氧化分析仪（意大利VELP）检测结果：奇亚籽面粉样品在80、90、100℃下进行了测试。在氧化测试结束时，通过软件OXISoftTM自动计算每次运行的IP值。估计保质期下图显示了IP和温度之间的关系。使用在不同温度下获得的IP结果，在结果之间的线性方程的情况下，有可能预测产品在储存温度(例如25℃)下的货架期，这很容易由专门的推断OXISoftTM程序“预估保质期"。结论：不同温度下ln(IP)结果的相关性为线性(R2)= 0, 999932)。通过OXISoftTM结果估算了奇亚籽面粉在25℃贮藏温度下的抗氧化能力。富氧可以在相当短的时间内估计奇亚籽面粉的保质期，得到同样的结果。测试是由直接在整个样本；不需要初步油脂分离；耐钛室；节省时间的分析,如果相比传统方法；专为研发开发，产品开发和质量控制实验室。通过软件OXISoft™可获得的许多信息:1、重复性试验:在同一样品或标准上进行的一系列试验，以验证其IP周期，计算数据的准确性和重复性2、新鲜度检验:检验不同批次产品的质量，例如同一种原料，并进行比较3、包装比较:用于测试哪种包装能使产品保持在Z鲜的状态4、配方比较:在相同条件下，确定成品Z稳定的配方5、老化期间的IP:得到产品在货架期间IP下降的曲线图6、预估货架期:对货架期的氧化稳定性进行预测
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- 2023-04-20 09:37:22BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta
- BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 电位三合一型仪 器 简 介BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的顶 级光学检测系统。该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS和静态光散射技术 SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。指标与性能Index＆performance粒径测试原理：动态光散射技术粒径范围：0.3 nm – 15 μm样品量：3 μL - 1 mL检测角度：173°+90°+12°分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试原理：相位分析光散射技术检测角度：12°Zeta范围：无实际限制电泳迁移率范围：> ±20 μ.cm/V.s电导率范围：0 - 260 mS/cmZeta测试粒径范围：2 nm – 110 μm分子量测试分子量范围：342 Da – 2 x 107 Da微流变测试频率范围：0.2 – 1.3 x 107 rad/s测试能力：均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量粘度和折光率测试粘度范围：0.01 cp – 100 cp折光率范围：1.3-1.6趋势测试模式：时间和温度系统参数温控范围：-15° C - 110° C+/- 0.1°C冷凝控制：干燥空气或者氮气标准激光光源：50 mW 高性能固体激光器， 671 nm相关器：最快25 ns采样，最多 4000 通道，1011 动态线性范围检测器：APD （高性能雪崩光电二极管）光强控制：0.0001% - 100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11原理图仪器检测检测参数颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布颗粒体系的 Zeta 电位及其分布分子量分布系数 PD.I扩散系数 D流体力学直径 D H颗粒间相互作用力因子 k D溶液粘度检测技术动态光散射电泳光散射静态光散射
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- 2022-07-14 15:06:51浅谈扫描俄歇纳米探针
- 简介 扫描俄歇纳米探针，又称俄歇电子能谱（Auger Electron Spectroscopy，简称AES）是一种表面科学和材料科学的分析技术。根据分析俄歇电子的基本特性得到材料表面元素成分（部分化学态）定性或定量信息。可以对纳米级形貌进行观察和成分表征。近年来，随着超高真空和能谱检测技术的发展，扫描俄歇纳米探针作为一种极为有效的表面分析工具，为探索和研究表面现象的理论和工艺问题，做出了巨大贡献，日益受到科研工作者的普遍重视。俄歇电子能谱常常应用在包括半导体芯片成分表征等方向发展历史 近年来，固体表面分析方法获得了迅速的发展，它是目前分析化学领域中最活跃的分支之一。它的发展与催化研究、材料科学和微型电子器件研制等有关领域内迫切需要了解各种固体表面现象密切相关。各种表面分析方法的建立又为这些领域的研究创造了很有利的条件。在表面组分分析方法中，除化学分析用光电子能谱以外，俄歇电子能谱是最重要的一种。目前它已广泛地应用于化学、物理、半导体、电子、冶金等有关研究领域中。 俄歇现象于1925年由P.Auger发现。28 年以后，J.J.Lander从二次电子能量分布曲线中第一次辨认出俄歇电子谱线， 但是由于俄歇电子谱线强度低，它常常被淹没在非弹性散射电子的背景中，所以检测它比较困难。 1968年，L.A.Harris 提出了一种“相敏检测”方法，大大改善了信噪比，使俄歇信号的检测成为可能。以后随着能量分析器的完善,使俄歇谱仪达到了可以实用的阶段。 1969年圆筒形电子能量分析器应用于AES, 进一步提高了分析的速度和灵敏度。 1970年通过扫描细聚焦电子束,实现了表面组分的两维分布的分析(所得图像称俄歇图)，出现了扫描俄歇微探针仪器。 1972年，R.W.Palmberg利用离子溅射，将表面逐层剥离，获得了元素的深度分析，实现了三维分析。至此，俄歇谱仪的基本格局已经确定， AES已迅速地发展成为强有力的固体表面化学分析方法，开始被广泛使用。基本原理 俄歇电子是由于原子中的电子被激发而产生的次级电子。当原子内壳层的电子被激发形成一个空穴时，电子从外壳层跃迁到内壳层的空穴并释放出光子能量；这种光子能量被另一个电子吸收，导致其从原子激发出来。这个被激发的电子就是俄歇电子。这个过程被称为俄歇效应。Auger electron emission 入射电子束和物质作用，可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量，可能以X光的形式放出，即产生特征X射线，也可能又使核外另一电子激发成为自由电子，这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射：特征X射线或俄歇电子。原子序数大的元素，特征X射线的发射几率较大，原子序数小的元素，俄歇电子发射几率较大，当原子序数为33时，两种发射几率大致相等。因此，俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。 如果电子束将某原子K层电子激发为自由电子，L层电子跃迁到K层，释放的能量又将L层的另一个电子激发为俄歇电子，这个俄歇电子就称为KLL俄歇电子。同样，LMM俄歇电子是L层电子被激发，M层电子填充到L层，释放的能量又使另一个M层电子激发所形成的俄歇电子。 只要测定出俄歇电子的能量，对照现有的俄歇电子能量图表，即可确定样品表面的成份。由于一次电子束能量远高于原子内层轨道的能量，可以激发出多个内层电子，会产生多种俄歇跃迁，因此,在俄歇电子能谱图上会有多组俄歇峰，虽然使定性分析变得复杂，但依靠多个俄歇峰,会使得定性分析准确度很高，可以进行除氢氦之外的多元素一次定性分析。同时,还可以利用俄歇电子的强度和样品中原子浓度的线性关系,进行元素的半定量分析,俄歇电子能谱法是一种灵敏度很高的表面分析方法。其信息深度为5nm以内,检出限可达到0.1%atom。是一种很有用的分析方法。系统组成 AES主要由超高真空系统、肖特基场发射电子枪、CMA同轴式筒镜能量分析器、五轴样品台、离子枪等组成。以ULVAC-PHI的PHI 710举例，其核心分析能力为25 kV肖特基热场发射电子源，与筒镜式电子能量分析器CMA同轴。伴随着这一核心技术是闪烁二次电子探测器、 高性能低电压浮式氩溅射离子枪、高精度自动的五轴样品台和PHI创新的仪器控制和数据处理软件包：SmartSoft AES ™ 和 MultiPak ™。并且，目前ULVAC-PHI的PHI 710可以扩展冷脆断样品台、EDS、EBSD、BSE、FIB等技术，深受广大用户认可。PHI710激发源，分析器和探测器结构示意图： 为满足当今纳米材料的应用需求，PHI 710提供了最高稳定性的 AES 成像平台。隔声罩、 低噪声电子系统、 稳定的样品台和可靠的成像匹配软件可实现 AES对纳米级形貌特征的成像和采谱。 真正的超高真空（UHV）可保证分析过程中样品不受污染，可进行明确、准确的表面表征。测试腔室的真空是由差分离子泵和钛升华泵（TSP）抽气实现的。肖特基场发射源有独立的抽气系统以确保发射源寿命。最新的磁悬浮涡轮分子泵技术用于系统粗抽，样品引入室抽真空，和差分溅射离子枪抽气。为了连接其他分析技术，如EBSD、 FIB、 EDS 和BSE，标配是一个多技术测试腔体。 PHI 710 是由安装在一个带有 Microsoft Windows ® 操作系统的专用 PC 里的PHI SmartSoft-AES 仪器操作软件来控制的。所有PHI电子光谱产品都包括执行行业标准的 PHI MultiPak 数据处理软件用于获取数据的最大信息。710 可应用互联网，使用标准的通信协议进行远程操作。AES的应用 扫描俄歇纳米探针可分析原材料（粉末颗粒，片材等）表面组成，晶粒观察，金相分布，晶间晶界偏析，又可以分析材料表面缺陷如纳米尺度的颗粒物、磨痕、污染、腐蚀、掺杂、吸附等，还具备深度剖析功能表征钝化层，包覆层，掺杂深度，纳米级多层膜层结构等。AES的分析深度4-50 Å，二次电子成像的空间分辨可达 3纳米，成分分布像可达8纳米，分析材料表面元素组成 （Li ~ U），是真正的纳米级表面成分分析设备。可满足合金、催化、半导体、能源电池材料、电子器件等材料和产品的分析需求。AES 应用的几种例子，从左到右为半导体FIB-cut，锂电阴极向陶瓷断面分析小结本文小编粗浅的介绍了俄歇电子能谱AES的一些基础知识，后续我们还会提供更有价值的知识和信息，希望大家持续关注“表面分析家”！
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