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F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置（EXR和UVX版本两个位置）。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量...

Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的视场范围，同时其zuida4倍光学变焦的功能缓解了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购成本。

产品特点* 主控频率1Hz - 200Hz* 被动防振频率 >200Hz* 5-20毫秒的响应时间* 安装简单,容易使用* 能无故障连续使用多年* 紧凑、模块化的多功能设计* 多种顶板支持各...

一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统，只有主动隔振系统才能消除共振。Table Stable通过在发展主动隔振系统的同时补充了被动系统，主动隔振系统可为灵敏的仪器提供各种消除振动干扰的...

依靠 F60光学膜厚测量仪的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘...

F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。 F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训，就可以进行厚度测量。

自动化薄膜厚度绘图系统Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标准和客制化夹盘，样品直径可达450毫米。(耐用的平台在我们...

动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54光谱测量系统，可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测...

测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统如果您正在寻找一款仪器，需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率，F20您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好，通过USB与电脑连接，测量...