薄膜测厚仪

SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用相应的软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。1、非接触式测量，用光纤探头来接收反射光，不会破坏和污染薄膜；
2、测量速度快，测量时间为秒的量级；
3、可用来测薄膜厚度，也可用来测量薄膜的折射率n和消光系数k；
4、可测单层薄膜，还可测多层膜系；
5、可广泛应用于各种介质，半导体，液晶等透明半透明薄膜材料；
6、软件的材料库中整合了大量材料的折射率和消光系数，可供用户参考；
7、内嵌微型光纤光谱仪，结构紧凑, 光纤光谱仪也可单独使用。
8、强大的软件功能：界面友好，操作简便，用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大，可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。

9、仪器具有开放性设计，仪器的光纤探头可很方便地取出，通过仪器附带的光纤适配器（如图所示）连接到带C-mount适用于微区（>10μm，与显微镜放大率有关）薄膜厚度的显微镜（显微镜需另配），就可以使本测量仪测量。