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Kurabo RX400 在线红外线油膜测厚仪
品牌:日本仓纺
型号:RX400
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仓纺 RX-350扩散反射型红外测厚仪
品牌:日本仓纺
型号:RX-350
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仓纺 RX4000台式/在线红外测厚仪
品牌:日本仓纺
型号:RX4000
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Kurabo在线红外涂层测厚仪
品牌:日本仓纺
型号: Kurabo RX-250
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手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)
品牌:美国Semiconsoft
型号:MProbe 20 HC
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progage测厚仪 Thwing-Albert
- 品牌:美国Thwing-Albert
- 型号: -
- 产地:美国
产品简介品牌Thwing-Albert/美国价格区间面议产地类别进口应用领域印刷包装,纺织皮革,烟草progage 测厚仪 Thwing-Albert 采用advanced的技术,快速accurate地测量片状物体的厚度,如纸张、卷烟纸、水松纸、烟叶等。新型的测量头确保了仪器良好的平行度和稳定的归零,操作和校正更方便,测试更accurate。经过预先选择设置不同的测量速率、测量头压力、直径而适应于特电子厚度仪定的测试标准。详细介绍progage测厚仪 Thwing-Albert型号:ProGag
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Filmetrics - 薄膜后度量测仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20 系列
- 产地:美国
产品简介厚度测量产品 F20 系列 - 台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™ 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)可测模层 : 平整,半透明,吸光薄膜。如: SiO2, SiNX,
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Kurabo RX400 在线红外线油膜测厚仪
- 品牌:日本仓纺
- 型号: RX400
- 产地:日本
摘要RX-400在线式红外线油膜测厚仪是一款可以检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器,主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物;薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。 产品级别 高端在线 适合行业 硅钢、耐指纹板、冷轧板、汽车涂油板等在线钢铁涂油量的检测 样品状态 硅板表面氧化膜 产品用途 (1) 钢板上氧化膜厚度检测 (2) 薄膜上聚硅酮涂层厚度检测 (3) 高功能薄膜的涂层厚度检测
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Kurabo在线红外涂层测厚仪
- 品牌:日本仓纺
- 型号: Kurabo RX-250
- 产地:日本
产品介绍:Kurabo在线红外涂层测厚仪/膜重仪/膜厚仪RX-250-台式及在线测量被检测物在红外线照射下,相应的涂膜厚度、涂布量产生了特定波长的红外线被吸收的现象。这种吸收的强度由检测器捕捉,通过预先确定的检量式可以实现对膜厚、涂布量的测定。 另外,采用了本公司独特的P偏光入射方式,可减轻表面反射和界面多重反射所产生的误差,作为红外线膜厚计,是理想的测量硬件。使用场所:技术zhong心、研究院、质检zhong心、生产线机旁实验室、生产线上在线监控应用范围:防锈油、耐指纹、清洗油、钝化膜、冲
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锂电池隔膜涂层测厚仪
- 品牌:日本仓纺
- 型号: RX410
- 产地:日本
锂电池隔膜及耐热层厚度在线检测方案一套RX410系统同时测量“基材厚度”和“涂层厚度”来自日本锂电池隔膜业界高度认可的红外测厚技术锂电池隔膜厂商的需求在全球ZD发展电动车等新能源产业的今天,锂电池作为公认的理想储能元件,得到了非常高的关注。技术门槛更高的锂电池隔膜领域正面临着极大的机遇和挑战。正极材料、负极材料、电池隔膜、电解液是锂电池非常重要的四项原材料,而其中隔膜的基材厚度、涂布均匀性、涂布量优化更是锂电池隔膜中的难题,Kurabo RX410锂电池隔膜解决方案将帮助客户彻底解决隔膜及涂层厚度检测问题
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F32 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F32
- 产地:美国
F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘,加上附加的分光计,可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本两个位置)。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。Filmetrics还提供可选的透镜组件,以便于集成到现有的生产装置上。
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Filmetrics - 薄膜后度量测仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20 系列
- 产地:美国
产品简介厚度测量产品 F20 系列 - 台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™ 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)可测模层 : 平整,半透明,吸光薄膜。如: SiO2, SiNX,
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赛默飞 X射线冷轧测厚仪
- 品牌:
- 型号: RM210CM
- 产地:德国
Thermo Scientific 瑞美 RM 210 CM非接触式X射线测厚仪能以最快的速度为各类金属板带生产线提供准确度最高的测量数据,可用于人工控制、AGC控制或轧机的自适应控制。 瑞美RM 210 CM型测厚仪能针对您的应用场合来定制最合适的传感器配置。C形架的设计旨在适应多种型号的X射线源和探头。该系统在高速冷轧上的采样时间为1 ms,因此分析轧机事件的频率更高。系统的架构灵活,可根据您的特殊需求进行调整。
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薄膜测厚仪
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: iSystem / IPlus /21Plus
- 产地:德国
挤出应用 单向和双向拉伸薄膜、共挤薄膜、流延薄膜、挤出片材、挤出复合和层压 我们拥有所有挤出类应用的丰富经验。我们全面的测量技术,包括空气厚度、红外线、核技术、光学和x射线传感器,以及先进的控制,可为有独特需求的这些应用提供精心设计的专业解决方案。 例如,双向拉伸薄膜生产线可通过卓越的生产过程可见性、控制响应能力、快速开车和快速更改产品,实现其Web测控最大的经济利益。在铸片和薄膜两端的高分辨率测量和精确映像,将有助于用户获得这样的效益。 完整的物料平衡算法可动态补
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赛默飞 铝箔冷轧在线测厚仪
- 品牌:
- 型号: RM210AF/AS
- 产地:德国
铝箔和铝冷轧测厚仪
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赛默飞 边降仪
- 品牌:
- 型号: RM319
- 产地:德国
RM319板带边缘降凸度测量仪能为您的高速冷轧生产线提供全面的检测数据,例如凸度、楔形等,从而优化板带边部的凸度和厚度控制,缩小公差、降低废品率。
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凤鸣亮科技激光在线测厚仪LTG-250型
- 品牌:深圳凤鸣亮
- 型号: LTG-250
- 产地:深圳
激光测量系统,具有:在线,动态,非接触,无损伤,高精度的测量功能 测量范围广泛,可用于各种金属制品生产线、塑料膜挤出、嵌镶板、压模木板、地毯、PVC、橡胶压制等生产线。透明塑料薄膜,测量不受灰尘、振动等外界环境的影响。对于被测材料的内部结构和表面是否平整没有要求。
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Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F10-AR
- 产地:美国
Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测Filmetrics F10-AR 使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在,不论生产线操作人员还是研发技术人员都能在几秒钟内检测和记录涂层情况。多重光谱比较目标光谱与多重反射光谱比较自动评估反射率,最小/最大位置,并得出明确的读数结论。量化残余颜色残余颜色可以用视觉方法显示出来,也可以用常见的颜色空间系统, CIELAB 和 CIEXYZ。用升级的硬涂层软件测量厚度可升级的 Filmetrics FFT 演算法已经在全世
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OCS 在线薄膜厚度检测仪
- 品牌:德国OCS
- 型号: TM9
- 产地:德国
OCS 在线厚度测量系统是设计在实验室薄膜生产线上用于在线实时测量薄膜厚度的设备 技术参数: 分辨率:1μm 范围:高达5000μm 时间:0.1秒。 测量原理:增量测量传感器,用于距离测量
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KOSAKA LAB ET 4000台阶仪(探针接触式轮廓仪/微细形状测定机)
- 品牌:日本KOSAKA
- 型号: ET4000
- 产地:日本
KOSAKA LAB ET 4000台阶仪(探针接触式轮廓仪/微细形状测定机)(Microfigure Measuring Instrument) 产品介绍 株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年创立的公司,也是日本第一家发表光学干杠杆表面粗糙度计,是一家具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为代表性单位且在日本精密测定业占有一席无法被取代的地位。ET4000系列中,有ET4000A(多动能、自动化、可添加一款3D软件,扫出测量表面的3D形貌) ,E
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赛默飞 iSystem 测控系统
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: iSystem
- 产地:
Thermo Scientific iSystem 是稳定可靠的总克重测量系统。 直观、使用便捷的系统中包含了我们先进的传感器技术和功能强大的软件,以更低的成本为用户提供更高的性能。美国和德国设计,ZG制造特点: 克重测量 双区域控制 高达 2000 个测量点的横向厚度分布曲线 直观的人机操作界面 先进的系统诊断和远程支持性能 平均值 (MD) 控制优势: 高精度和高分辨率传感器可以提供准确、实时的材料产品测量 先进的 Wonderware 用户界面和 Windows 操作系统提供更加便捷的数据管理和存档
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赛默飞 IPlus! 测控系统
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: IPlus!
- 产地:德国
Thermo Scientific IPlus! 是一款测量和控制总定量或总厚度的系统,性能稳定、可靠耐用。先进的传感器技术和功能强大的软件整合在直观、易于操作的系统中,不仅为用户提供高性能产品,而且用户拥有成本低。特点:可测量定量、直接厚度或水份精确的非线性流道Mapping和自动模头横向控制(APC)可进行双区或三区控制横向测量点多达2000个高级应用控制软件直观的人机操作系统先进的系统自诊断和远程支持功能优点: 高精度和高分辨率传感器,对被测量材料提供精确、实时的测量准确、GX的过程控制
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赛默飞 21 Plus!测控系统
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: 21 Plus!
- 产地:德国
Thermo Scientific 21 Plus!连续Web在线质量控制系统支持全面的测量和控制方案,可提供三十多个专业应用软件包。改系统通过改善产品质量、提高生产效率和节约原料,帮助用户获得投资的快速回报。特点: 可支持多达6个扫描架和15个传感器2000点横向曲线分辨率(双向拉伸薄膜为8000点)高级应用控制Windows操作系统OPC链接功能直观的FLEX HMI人机操作界面集成式维护诊断多语言支持应用:挤出生产线双向拉伸生产线涂布生产线塑料和橡胶压延生产线非织造布生产线建筑产品生产线地毯涂布生产
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赛默飞 非织造布(无纺布)测厚仪
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: iSystem / IPlus /21Plus
- 产地:德国
非织造布(无纺布)干法、梳理、熔喷、针刺、纺粘、水刺、湿法非织造布系统可采用Thermo Scientific各类传感器,支持用于此工业领域的专业测量。特别是SpectraBeam FSIR全光谱红外传感器,可测量卫生材料中的高吸收性聚合物含量,和在玻璃纤维垫中测量树脂浸润含量。针刺测量和矿物绒系统类似,在Web产品上可安装多台固定式传感器。非织造布应用的产品组合支持严格要求的整卷质量报告,完整且可跟踪查询。
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200W 冷轧连铸测厚仪 高压电源
- 品牌:西安威思曼
- 型号: XFL
- 产地:
【型 号】 XFL
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FG710S红外透射式测厚仪
- 品牌:英国NDC
- 型号: FG710S
- 产地:美国
红外透射式测厚仪NDC Technologies的智能红外测量仪用于塑料、薄膜和片材的厚度测量,有测量精度高、重复性好、高分辨率等特点,广泛用于这类产品的在线检测和控制。这些智能测量数据随时提供给控制系统并由操作员工作站(OWS)显示出来,为操作员和优化工艺提供可靠的流程信息。FG710S和TFG710ER薄膜测量仪通过其ZL的红外设计和光学元件达到**的测量性能。这两种传感器工作稳定可靠,测量不受下列一些过程或环境条件变化的影响: 照明波动 温度 相对湿度 空气质量(灰尘,蒸汽成分等) 气压 探头位移(
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AccuTrak O型扫描架
- 品牌:英国NDC
- 型号: AccuTrak O型
- 产地:美国
AccuTrak O型架扫描架AccuTrak是一种高精度、稳定性强的O型架扫描器,可以应用于红外、激光、同位素、X射线、贝它射线或其它类型测量仪。这种高性能的扫描仪提供快速、准确、可靠的平面测量所需要的严格质量标准。它结合了高扫描速度、精确对准、低维护成本、可维护性和易用性。坚固的箱形梁设计采用了革命性的头托架承载系统,提供长期精确的,可重复的机器方向和交叉方向的测量。这种智能化的iFrame扫描仪wan美的集成到NDC Technologies的TDI(全分布式智能)平面测量平台上。跨越四十年的经验,
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MiniTrak S型扫描架
- 品牌:英国NDC
- 型号: MiniTrak S型
- 产地:美国
MiniTrak S型架扫描架MiniTrak S 型架扫描架支持NDC Technologies的智能iSensors背向散射和反射系列产品。该框架设计非常紧凑和坚固,仅需极小的安装空间,可以被安装在复杂的生产现场,提供关键准确的测量数据。MiniTrak系统S型架采用了智能的iFrame系统,扫描器控制管理模块使传感器和控制操作具有完整性和高测量响应。 MiniTrak系统S型架最多可支持两个反射式智能iSensors测量仪。zui后,紧固的四角安装方式和合理的支撑防止了扫描架或者杂物掉落到片材上,铰
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MiniTrak O型扫描架
- 品牌:英国NDC
- 型号: MiniTrak O型
- 产地:美国
MiniTrak O型架扫描架MiniTrak 系统智能O型架扫描架提供快速、准确、可靠的测量性能,wan美集成到NDC Technologies智能分布式的网络架构上。对于复杂的生产线和多工艺流程的工厂,MiniTrak系统的O型架扫描仪系列可以提供客户所期望的结果。例如,MiniTrak系统O型架扫描器可以与任何NDC Technologies的测量仪和应用软件配套。MiniTrak O型架和S型架扫描器的机械设计是基于相同的箱型架结构,,具有优异的刚性和测量应用性能。直线轴承系统及精密导轨保证扫描架
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Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪
- 品牌:牛津仪器
- 型号: CMI95M
- 产地:英国
Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪由深圳市方源仪器有限公司总代理销售产品,英国牛津仪器总代理深圳市方源仪器有限公司提供全球范围内的支持和服务网络。和我们的所有产品一样,铜箔膜厚仪在售前和售后都能够得到我们优质服务的保证。
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进口膜厚仪CMI233高精度实时在线测量
- 品牌:牛津仪器
- 型号: CMI233
- 产地:英国
方源仪器提供高品质进口膜厚仪CMI233高精度实时在线测量,测试简单、使用方便。广泛应用于铁/钢等磁性基材上的非磁性涂层,例如锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料或亚铁基底的搪瓷上的珐琅。铝/铜等导电基材上的非导电性涂层,例如阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料或在非亚铁基底上的环氧化物。
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CMI511膜厚仪孔铜测厚仪
- 品牌:牛津仪器
- 型号: CMI511
- 产地:英国
深圳市方源仪器有限公司提供的CMI511膜厚仪孔铜测厚仪,隶属英国牛津仪器产品CMI系列,生产于美国。由ZG大陆总代理深圳市方源仪器有限公司代为销售供应。CMI系列独有的温度补偿特性使其能够在电镀过程中进行厚度测量,从而降低废料、返工成本。和我们的所有产品一样,CMI511在售前和售后都能够得到牛津仪器优质服务的保证。
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Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪
- 品牌:牛津仪器
- 型号: CMI243
- 产地:英国
深圳市方源仪器有限公司提供Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪,这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术,CMI243手持式测厚仪易于用户控制,并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买,CMI243免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
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CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪
- 品牌:牛津仪器
- 型号: CMI563
- 产地:英国
深圳市方源仪器有限公司供应的CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪,是一款灵便易用的手持式测厚仪,它集快速精确、价格合理、 质量可靠等优势于一体,专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。
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Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F3-XXT
- 产地:美国
Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪测量厚度最大到 3 毫米的先进薄膜厚度测量系统对于大多数的膜厚测试系统来说,当厚度大于 100 微米后都变得非常困难。那是因为他们是通过反射率振幅干涉的光谱频率来算薄膜的厚度, 会导致干涉频率超过光谱的分辨率。为了克服这个问题, F3-XXT 配备 Filmetrics 自主研发的光谱仪, 材料达到 3 毫米厚度,它可以很好测量。引用特殊的光学配件,使光斑尺寸不到 25 微米,使得即使是较高粗糙度和不均匀性的 材 料 都 可 以 测 量 。几乎所有的半导体和介质材
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薄膜分析仪 Filmetrics F10-RT
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F10-RT
- 产地:美国
Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪同步测量薄膜的反射率/穿透率不需要费时改变硬件配置, F10-RT-UV 仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱,不到一秒钟的时间,阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外, Filmetrics ZG的Autobaseline 设计可以减少十倍以上的基准校准的参数读取时间。分析优点F10-RT 使 Filmetrics 的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的点击鼠标就能够产生在客户是定波长范围内,得出最大与最小的反射率与穿透率。系统内置边
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Filmetrics 膜厚测量仪 F37
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F37 膜厚测量仪
- 产地:美国
Filmetrics F37 薄膜厚度测量仪Filmetrics膜厚测量仪优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易!附带的软件和 USB 连接界面使 F37 易于安装到任何 Windows 平台的 PC,功能强大的软件预配了超过百种材料的光学参数,这有助于多种不同膜层结构的测量,不论是单层、多层堆叠,甚至是单一纯物质,用户能轻易地从
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Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F40-UV/F40-UVX/F40/F40-EXR/F40-NIRF40-XT
- 产地:美国
Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
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Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F50-UV/F50-UVX/F50/F50-EXR/F50-NIRF50-XT
- 产地:美国
Filmetrics F50 光学膜厚测量仪膜厚测量仪 膜厚测试仪选择 Filmetrics 的优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为你演示薄膜测量是多么容易!自动化薄膜厚度绘图系统依靠 F50 先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测
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Filmetrics 薄膜测厚仪 F54
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54薄膜测厚仪
- 产地:美国
Filmetrics F54 光学膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪优势桌面型膜厚测量仪的全球24 小时电话、 Email、在线技术支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易自动化薄膜厚度分布图案系统依靠 F54 先进的光
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Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F3-sX
- 产地:美国
Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪
- 在线测厚仪
- 仪器网导购专场为您提供在线测厚仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选在线测厚仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。