布鲁克扫描探针显微镜Innova SPM
布鲁克扫描探针显微镜Dimension XR 专业
布鲁克扫描探针显微镜Innova SPM
YAMATO真空装置YY-775
【COPAN Cyclone】自动化工业微生物解决方案
【copan PharmaLab】数字制药实验室
Innova® 原子力显微镜 （AFM）体积较小，成本适中，为科学研究提供了严谨而灵活的解决方案。其独特的闭环扫描系统既确保了高的测试精度，又可以实现与开环测试相媲美的噪声水平。高分辨率的彩色光镜、开放式样品台和强大的测试软件使实验变得便捷省时。Innova 致力于高分辨成像，在物理学、生命科学和材料科学等研究中发挥着重要作用。
杰出的闭环控制
准确测量所有尺寸
无扭曲地对任意结构进行一步缩放扫描。
低噪音性能
高分辨率光学系统
符合人体工程学的正置光学系统
可软件控制马达驱动缩放和照明光强度。
精确探针定位
快速而简单的探针和样品更换
可编程控制的Z轴
预安装的探针保证了精密的激光对准
优越的探针与样品之间的物理和光学空间
闭环线性化扫描可以在线启动或关闭
在90微米到亚微米级成像范围内均可获得高质量图像
支持全系列扫描探针显微镜模式
Contact Mode（接触模式）
TappingMode（轻敲模式）
Scanning Tunneling Microscopy (扫描隧道显微镜)
PhaseImaging™（相位成像）
Magnetic Force Microscopy (磁力显微镜)
Electrostatic Force Microscopy (静电力显微镜)
Conductive Atomic Force Microscopy (导电原子力显微镜)
Scanning Capacitance Microscopy (扫描电容显微镜)
Surface Potential Microscopy (表面电势显微镜)
Force Distance Spectroscopy（力曲线）
Current Voltage Spectroscopy（电流-电压曲线）
Nanoindentation（纳米压痕）
Nanolithography（纳米刻蚀）
And more（等等）
报价：面议
已咨询1035次原子力显微镜
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Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比，高真空测量具有准确度好、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点。
高精度探针针尖变量的亚埃米级表面粗糙度测量，晶圆的表面粗糙度对于确定半导体器件的性能是至关重要的，对于先进的元件制造商，芯片制造商和晶圆供应商都要求对晶圆商超平坦表面进行更精确的粗糙度控制。
对于工程师来说，识别介质/平面基底的纳米级缺陷的任务是一个非常耗时的过程，Park NX-HDM原子力显微镜系统可以自动缺陷识别，通过与各种光学仪器的联用可以提高缺陷检测效率。
Park Systems推出NX-3DM全自动原子力显微镜系统，专为垂悬轮廓、高分辨率侧壁成像和临界角的测量而设计。
CSI是一家法国科学设备制造商，拥有专业的AFM设计概念，以及为现有的AFM提供设计选项。它避免了激光对准需要预先定位针尖的系统，针尖/样品的顶部和侧视图，结合垂直的马达控制系统，使预先趋近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点，可高速获得高分辨率的三维图像，并且在微纳米和亚纳米尺度上实时观察纳米级力的相互作用，与常规SEM/FIB兼容，
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