应力双折射系统PA系列
PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶体技术，针对玻璃、SIC晶圆、蓝宝石等低应力双折射的测量系统，数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。
产品简介
PA 系列是Photonic Lattice, Inc.针对高双折射的透明材料开发的光学测量设备，通过核心的偏光图像传感器，
可以快速准确的测量透明材料的应力双折射，针对不同产品尺寸，均有可匹配的型号可供选择。
主要特点
可快速自动测量应力双折射的大小、方向和分布
面测量、可一次测量视野范围内样品的全部数据
具备点、线、面、3D的分析功能
500万像素，高分辨能力
可输出光程差（nm）、偏振角度（°）、应力（Mpa）、应力双折射（nm/mm）
技术参数
测量案例：
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已咨询627次Hinds偏振成像设备
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已咨询577次Hinds偏振成像设备
报价：￥99999
已咨询676次应力双折射测量仪
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已咨询497次应力双折射测量仪
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已咨询713次应力双折射测量仪
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已咨询19次应力双折射测量仪
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已咨询789次应力双折射测量仪
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，是依托日本东北大学光子晶体研究技术组建的合资企业。公司凭借全球领先的光子晶体制造技术，成功研发出系列高性能测量仪器，技术实力备受行业认可，PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶体技术，针对玻璃、SIC晶圆、蓝宝石等低应力双折射的测量系统，数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。
应力双折射系统PA系列 PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶体技术，针对玻璃、SIC晶圆、蓝宝石等低应力双折射的测量系统，数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。
应力双折射系统WPA系列 WPA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶体技术，开发的一款适用性高的应力双折射检测设备，可测量相位差（光程差）高达3500nm，适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测，高速而的测量能力受到各大光学厂和研究机构的青睐。数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。
Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪WPA-200-NIR可在数秒内完成850nm波长下的双折射分布高速测量，适用于硫系、红外透明树脂等材料的光学畸变评估。配备简便易用的WPA-View软件，支持自由分析相位差分布及定量数据。该设备具有丰富的图形创建功能，可保存和读取测量数据，并提供多样的结果显示方式。其规格包括像素数384*288，测量范围3×4mm至100×133mm，尺寸270x337x631mm，重量13kg，适合量产环境使用。
日本 Photonic-lattice 原厂出品｜PHL PA-micro 显微型应力双折射仪 ✨ 核心技术：光子晶体制造技术 ✨ 精准检测：显微镜下快速获取双折射相位差、空间分布及方向 ✨ 适配领域：玻璃、晶体、聚合物薄膜等材料质检 ✨ 实用配置：多放大倍率 + 520nm 测量波长 + PA-View 专用软件 + 千兆以太网传输 高效助力材料质量分析与工艺管控！
ARMS SYSTEM无掩模光刻机UTA-IA将DLP投影仪与金相显微镜结合，实现微米级分辨率的图案投影曝光，无需使用掩模。该设备成本较低，操作简便，适合在多种环境下进行电极和其他图案的形成，广泛应用于科研和小批量生产中，如薄膜FET、霍尔效应测量样品制备等，特别适用于石墨烯等材料的研究与开发。技术参数包括1μm的分辨率和大范围批量曝光能力。
WPA-200系列应力双折射测试仪器由Photonic Lattice公司开发，采用光子晶体制造技术和独特测量技术，能高速精确地测量光学薄膜或透明树脂的应力分布。其一次测量即可全面掌握视野范围内样品的应力分布，测量范围高达0-4000nm，并提供直观的二维图表数据。主要参数包括像素数384x288、测量波长523nm/543nm/575nm、观测区域100x136mm²、重量20kg等。适用于多种材料和器件的应力分析。
日本 Photonic Lattice 公司研发的 PA 系列双折射 / 应力测量仪，凭借高精度与快速测量核心优势脱颖而出。设备创新采用光子晶体偏光阵列片及专属双折射算法，可在数秒内完成毫米级规格样品的检测，双折射测量覆盖 0-130nm 全量程。产品兼具操作便捷、视野广阔、无旋转光学滤片（维护简便）、高像素偏振相机配置等优势，适配光学镜片、智能手机玻璃基板、蓝宝石等材料测量场景，支持多元分析功能与外部控制，为研发及质量管控提供高效解决方案。
营业执照已审核
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