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仪器网>产品中心> 光学仪器>电子光学仪器>扫描电镜/扫描电子显微镜>TESCAN集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)

TESCAN集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)

¥10000 (具体成交价以合同协议为准)
捷克泰思肯 TIMA-X FEG(LM) 欧洲 捷克 2025-12-16 09:01:00
售全国 入驻:4年 等级:银牌 营业执照已审核
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为你推荐

产品特点:

TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于场发射扫描电子显微镜设计的集成式矿物分析专家,适用于采矿和矿物处理行业的应用。

产品详情:


最重要的特性:

1.通过高水平的SEM和EDX硬件集成实现了快速、完全自动化的数据采集;

2. 基于MIRA SEM平台;

3. 新设计的样品台集成了BSE/EDX校正标准和法拉第杯;

4. 根据客户的需求更改样品的尺寸;

5.最多集成4个EDX探测器确保系统的性能*高;

6.新的Peltier冷却型EDX探测器确保热稳定性;

7. 改进的方法使数据分析既快又可靠;

8. 根据样品的每个部分可调整扫描和EDX分析的时间;

9. 离线数据处理;

10.各种各样的数据分析模块;

11. 可自定义的分类规则;

12.可定制的解决方案。

TESCAN集成式矿物分析仪(TIMA)是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜,适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。

TIMA的应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了前所未有的数据采集速度,进而得到快速、准确和可靠的结果。

TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计(电子枪的恒真空与隔绝阀)提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准,低真空模式为选配。

大样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径最大为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32 mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒(BSE信号校准)与锰、 铜、 石英、碳和金元素(系统性能检查)。标准校准的元素可以根据客户要求定制。

配件:

二次电子探头

背散射电子探头

探针电流测量

压差式防碰撞报警装置

可观察样品室内部的红外线摄像头等,各种配件可供选择

 


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北京仪光科技有限公司为你提供TESCAN集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)信息大全,包括TESCAN集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)价格、型号、参数、图片等信息;如想了解更多产品相关详情,烦请致电详谈或在线留言!
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