TESCAN集成矿物分析仪 TIMA-X FEG（LM）

最重要的特性：

1.通过高水平的SEM和EDX硬件集成实现了快速、完全自动化的数据采集；

2. 基于MIRA SEM平台；

3. 新设计的样品台集成了BSE/EDX校正标准和法拉第杯；

4. 根据客户的需求更改样品的尺寸；

5.最多集成4个EDX探测器确保系统的性能*高；

6.新的Peltier冷却型EDX探测器确保热稳定性；

7. 改进的方法使数据分析既快又可靠；

8. 根据样品的每个部分可调整扫描和EDX分析的时间；

9. 离线数据处理；

10.各种各样的数据分析模块；

11. 可自定义的分类规则；

12.可定制的解决方案。

TESCAN集成式矿物分析仪（TIMA）是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜，适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。

TIMA的应用范围很宽，包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了前所未有的数据采集速度，进而得到快速、准确和可靠的结果。

TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计（电子枪的恒真空与隔绝阀）提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准，低真空模式为选配。

大样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径最大为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32 mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒（BSE信号校准）与锰、 铜、 石英、碳和金元素（系统性能检查）。标准校准的元素可以根据客户要求定制。

配件：

二次电子探头

背散射电子探头

探针电流测量

压差式防碰撞报警装置

可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择