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椭偏仪 ME-series 穆勒矩阵椭偏仪

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产品特点

基于双旋转补偿器调制,实现全穆勒矩阵16个元素快速测量
用于各向同性/各向异性薄膜膜厚、光学常数和纳米结构的表征

详细介绍

ME-L穆勒矩阵椭偏仪

• 全自动变角、对焦技术,一键快速测量 

• 向导交互式人机果面,便捷的软件操作体验 

• 丰富的材料数据库和算法模型库,强大数据分析能力


技术规格

型号

ME-L

应用

科研级/企业级

基本功能

Psi/Delta 、 R/T 、穆勒矩阵等光谱

380-1000nm(支持扩展至193-2500nm)

分析光谱

单次测量时间

≤15s

重复性测量精度

0.005nm

绝对精度

(直通测量空气)

椭偏参数:4=45±0.05°△=0±0.1°

穆勒矩阵:对角元素 m=1±0.005 非对角元素 m=0±0.005

折射率重复性精度

0.0005

 

光斑大小

大光斑:2-4mm

微光斑:200μm/100um

超微光斑: ≤50um(取决于波长)

重复性精度指标针对100nmSi02/Si标准样件30次重复性测量;

仪器具体技术参数需与实际功能模块、配件有关,表中数据仅供参考。


可选配置: 波段选择

V:380-1000nm

VN:380-1650nm

UV:245-1000nm

UN:210-1650nm

UV+ :210-1000nm

DN:193-1650nm

DUV:193-1000nm

UN+ :210-2500nm


DN+:193-2500nm


角度选择:

自动:45 ° -90°

手动:45 ° -90°(5°步进)

固定:65 °


其他选择

Mapping选择:100*100mm/200*200mm

温控台:190-550℃/RT-1000℃


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