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SENresearch 4.0 拥有宽光谱范围的光谱椭偏仪
品牌:德国Sentech
型号:SENresearch 4.0
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德国Sentech激光椭偏仪SE 400adv
品牌:德国Sentech
型号:SE 400adv
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Bruker FilmTek CD椭偏仪
品牌:德国布鲁克
型号: FilmTek CD
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光谱椭偏仪
品牌:沈阳科晶
型号:SE-i
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天津拓普 TPY-1椭圆偏振测厚仪
品牌:天津拓普
型号:TPY-1
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一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Auto SE
- 产地:法国
创新点◎duyi无二的光斑可视系统(ZL技术):AutoSE集成了duyi无二的MyAutoView光斑可视系统(ZL技术),该系统配备在标准椭圆偏振光谱仪中,允许操作者全程观测样品光斑,以确保各种类型的样品都能在完全正确的位置,以合适的光斑尺寸进行测量。解决了现有测量技术中的“盲测”难题。◎一键式操作,大大提高工作效率。◎共焦微光斑技术:提供8种不同光斑尺寸的自动选择。◎全自动智能诊断及故障处理:大大减轻了设备的维护负担。 仪器简介:新型的全自动薄膜测量分析工具,工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全
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HORIBA JY一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Auto SE
- 产地:法国
新型的全自动薄膜测量分析工具,工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。技术参数:光谱范围:450-1000 nm多种微光斑自动选择ZL光斑可视技术,可观测任何样品表面CCD探测器自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm70度角入射主要特点:完全自动化设计,一键式操作,直接报告输出液晶调制技术,测量光路中无运动部件CCD探测系统,快速全谱输出多个微光斑尺寸选择,ZL可视技术封闭式样品
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HORIBA JY在线椭偏仪 In-situ series
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: In-situ series
- 产地:法国
仪器介绍:在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。技术参数:可实现快速、实时在线监测样品膜层变化主要特点:将激发和探测头引入生产设备,可实现: 动态模式:实时监测膜厚变化 光谱模式:监测薄膜的界面和组分
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Horiba 相位调制型椭圆偏振光谱仪 UVISEL Plus
- 品牌:日本堀场
- 型号: UVISEL Plus
- 产地:法国
基于最新的电子设备,数据处理和高速单色仪,FastAcqTM技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集,双单色仪系统可达到0.1-2 nm。 AutoSoft软件界面以工作流程直观为特点,使得数据采集分析更加简便,易于非专业人员上手操作。
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研究级全自动椭偏仪UVISEL 2
- 品牌:日本堀场
- 型号: UVISEL 2
- 产地:法国
仪器介绍: UVISEL2是一款完全革新的全自动光谱型椭偏仪。继承并发展了经典机型UVISEL的高准确性、高灵敏度和高稳定性等技术特点的同时,配备革新的可视系统,多达8个尺寸微光斑选项,最小达35×85μm2,适用于所有薄膜材料研究领域。是目前市场上duyi无二的机型。 技术参数: 光谱范围:190-2100 nm 8种光斑尺寸: 最小35 X 85 um 探测器:3个独立探测器,分别优化紫外,可见
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智能型多功能椭偏仪Smart SE
- 品牌:日本堀场
- 型号: Smart SE
- 产地:法国
仪器介绍: 多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。 技术参数: 光谱范围:450-1000nm 多种微光斑自动选择 ZG光斑可视技术,可观测任何样品表面 CCD探测器 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XY
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在线椭偏仪 In-situ series
- 品牌:日本堀场
- 型号: In-situ series
- 产地:法国
仪器介绍: 在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。 技术参数: 可实现快速、实时在线监测样品膜层变化 主要特点: 将激发和探测头引入生产设备,可实现: 动态模式:实时监测膜厚变化 光谱模式:监测薄膜的界面和组分
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HORIBA 椭圆偏振光谱仪
- 品牌:
- 型号: HORIBA
- 产地:法国
HORIBA 椭圆偏振光谱仪
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智能型多功能椭偏仪 Smart SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Smart SE
- 产地:法国
仪器介绍:多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参数: 光谱范围:450-1000nm 多种微光斑自动选择 ZL光斑可视技术,可观测任何样品表面 CCD探测器 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向 自动调节; Z轴高度>35mm主要特点: 一键式操作,直接报告输出液晶调制技术,测量光路中无运动部件 CCD 探测系统,快速全谱输出 多个微光斑尺寸选择,ZL可视技术 多角度测量 可实现在线
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在线椭偏仪 In-situ series
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: In-situ series
- 产地:法国
仪器介绍:在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。技术参数:可实现快速、实时在线监测样品膜层变化主要特点:将激发和探测头引入生产设备,可实现: 动态模式:实时监测膜厚变化 光谱模式:监测薄膜的界面和组分
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智能型多功能椭偏仪Smart SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Smart SE
- 产地:法国
仪器介绍:多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参数: 光谱范围:450-1000nm 多种微光斑自动选择 ZL光斑可视技术,可观测任何样品表面 CCD探测器 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向 自动调节; Z轴高度>35mm主要特点: 一键式操作,直接报告输出液晶调制技术,测量光路中无运动部件 CCD 探测系统,快速全谱输出 多个微光斑尺寸选择,ZL可视技术 多角度测量 可实现在线
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在线椭偏仪 In-situ series
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: In-situ series
- 产地:法国
在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。产品特点:将激发和探测头引入生产设备,可实现: 动态模式:实时监测膜厚变化 光谱模式:监测薄膜的界面和组分技术参数:可实现快速、实时在线监测样品膜层变化
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智能型多功能椭偏仪Smart SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Smart SE
- 产地:法国
智能型多功能椭偏仪Smart SE采用多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。产品特点:一键式操作,直接报告输出液晶调制技术,测量光路中无运动部件CCD探测系统,快速全谱输出多个微光斑尺寸选择,ZL可视技术多角度测量可实现在线测量配置技术参数:光谱范围:450-1000nm多种微光斑自动选择ZL光斑可视技术,可观测任何样品表面CCD探测器自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向自动调节; Z轴高度&g
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海洋光学 光谱式椭偏仪 SpecEL
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: SpecEL
- 产地:美国
椭圆偏光技术是一种非接触式、非破坏性,以光学技术测量表面薄膜特性的方法。当一束偏振光经过物体表面或界面时,其偏振极化状态会被改变。而椭偏仪就是通过探测样品表面的反射光,来测量此改变(即反射光和入射光的振幅及相位的改变量),以决定表面薄膜的光学常数(n,k 值)及膜厚。SpecEL 光谱式椭偏仪系统组成宽光谱光源,导光器件,起偏器,样品台,检偏器,增强光学元件和微型线阵列CCD 光谱仪,测量软件。
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微型桔皮仪4824
- 品牌:德国BYK
- 型号: 4824
- 产地:德国
微型桔皮仪4824专门针对高光泽表面,针对平面和曲面(曲率半径大于50cm),传统的LW、SW和客户自定义标尺,结构谱线分析外观变化,实现优化。
- 椭偏仪/椭圆偏振仪
- 仪器网导购专场为您提供椭偏仪/椭圆偏振仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选椭偏仪/椭圆偏振仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。